本发明一实施例公开了一种条状芯片智能打点系统100，用于对条状芯片200中的不良品进行打点。如图1所示，条状芯片200包括有多个芯片201(芯片单体)，多个芯片201呈行列排布，各相邻的两行芯片201之间间距相同，各相邻的两列芯片201之间的间距也相同。具体的，如图5所示，本发明的条状芯片智能打点系统100包括handler10和打标机20，handler10与服务器300通信连接。服务器300与测试机400通信连接，测试机400用于对条状芯片200中的各个芯片单体201进行测试，并在测试完条状芯片200中的各个芯片单体201后，将测试数据传送至服务器300，服务器300存储测试数据，以后期追溯各个条状芯片200。测试数据包括各个芯片单体201在条状芯片200中的坐标信息以及各个坐标信息所对应的测试结果信息(通过测试机400测试条状芯片200并传送测试数据至服务器300存储为现有技术)，测试结果包括良品和不良品，通过不同的bin项表征测试结果，例如，利用bin1表示良品，其它bin表示不良品，例如binx、bin21等。芯片打点机的外形美观简洁，可以融入工厂生产线的整体设计。重庆晶圆测试芯片打点机定制
作为所述芯片自动烧录与打点装置的进一步可选方案，所述主支架上设置有补料区，完成烧录打点作业后，所述料盘将被转移至此区域以便芯片进行后续加工。作为所述芯片自动烧录与打点装置的进一步可选方案，所述收料组件包括头一顶升机构与承托机构；所述头一顶升机构可以将所述料盘顶升超过所述承托机构所在的平面后下降，所述承托机构可以在所述料盘下降一段距离后托住所述料盘，所述收料组件可以重复这一过程从而将多个所述料盘收集并堆叠。广东晶圆测试芯片打点机厂家现货芯片打点机是一种用于半导体行业的精密加工设备。
所述头一测试探针和第二测试探针分别固定在固定架上。采用本实用新型的优点在于本实用新型中，所述打点标记针包括头一打点标记针和第二打点标记针，所述测试探针包括与头一打点标记针配合的头一测试探针和与第二打点标记针配合的第二测试探针，头一测试探针和第二测试探针位于头一打点标记针和第二打点标记针之间，头一打点标记针和头一测试探针之间的距离为一个芯片的长度，第二打点标记针和第二测试探针之间的距离为一个芯片的长度，此结构通过调整打点标记针距离，实现每次同时测试两个芯片产品的目的，提高了工作效率，并且可以减小设备占用的空间。
芯片打点机的应用：1. 芯片标记，芯片打点机可以在芯片表面上打上标记，以便于芯片的识别和追踪。芯片标记可以是数字、字母、图案等形式，可以根据需要进行定制。2. 芯片追踪，芯片打点机可以在芯片表面上打上追踪点，以便于对芯片进行追踪和管理。芯片追踪可以用于芯片的生产、运输、销售等环节。3. 芯片识别，芯片打点机可以在芯片表面上打上识别点，以便于对芯片进行识别和检测。芯片识别可以用于芯片的质量检测、防伪等方面。4. 芯片加工，芯片打点机可以在芯片表面上打上加工点，以便于对芯片进行加工和处理。芯片加工可以用于芯片的刻蚀、切割等方面。5. 芯片研究，芯片打点机可以在芯片表面上打上实验点，以便于对芯片进行研究和分析。芯片研究可以用于芯片的性能测试、结构分析等方面。芯片打点机通过高速喷墨技术，可以在芯片表面实现高速标记。
与现有技术相比，本发明的打标机中预先存储有各种型号的条状芯片所对应的打点模板，通过扫码器读取条状芯片上的标识码，处理器依据标识码获取条状芯片对应的打点坐标数据，打标机根据打点坐标文件调用其存储的对应型号的打点模板，并将条状芯片中各个芯片在打点坐标文件的坐标与打点模板对应起来，从而实现自动识别条状芯片中的不良品在实物中的对应位置，实现自动对不良品进行打点，降低了人工成本，提高了作业效率，且避免了通过人工打点时混料的风险。而且，还通过摄像机采集条状芯片打点之后的打点图像，处理器进一步比对检验打点是否正常，以此确保进入下一工序的条状芯片为正常打点的条状芯片。芯片打点机也被广泛应用于智能家庭、物流等领域。湖北晶圆测试芯片打点机生产商
芯片打点机可以实现不同精度的标识，可以满足各种尺寸芯片的需求。重庆晶圆测试芯片打点机定制
使用方法，使用时将试样材料放入（试样座）槽内，并根据试样材料的长短调节丝母座，调丝样调节长短及园型材料的直径大小调节试样座，拧开试样座上的固定螺钉，可把试样座前后移动。根据材料的要求，对准直径的中心而后用左手摇动，拉手向下，直至标点尖接触试样材料，并稍微揪紧，用右手摇动手柄，（顺时针）转动一周而成。配件有易损配件，标点钻，滚轮架，滚轮，弹簧。注意事项：1.保持两立柱及冲头部位有良好润滑,以保证操作轻便灵活。2.一定不要碰伤冲头先进以免失去精度,导致设备无法使用。重庆晶圆测试芯片打点机定制
