企业商机
检测基本参数
  • 产地
  • 上海
  • 品牌
  • 欧普泰
  • 型号
  • 齐全
  • 是否定制
检测企业商机

裂隙:电池裂隙的形成有许多因素。可能是各种各样的外力因素,也可能是由于环境和电池本身的缺点造成的裂纹甚至碎片。因此,很难找到统一的法律或得到明确的答案。裂纹片的成像特征是在EL试验下裂纹产生明显的明暗差异的线(黑线)。电池破裂的可能后果是部分损坏或失去电流。通过以上分析可知,自动EL测试仪通过EL成像可以快速、准确地检测到太阳能电池和组件的裂纹等缺点。EL缺点探测器采用进口制冷红外摄像机,图像采集清晰准确。独特的镜面反射设计,封闭的光路设计,有效适应不同的工作环境,并具有全功能的PC软件支持,能满足客户不同的需求。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测,期待您的光临!浙江el检测仪器

功率衰减分类和光伏组件检测方法伴随着光照时间的增加,产生组件输出功率逐渐下降的现象就是光伏组件功率衰减。光伏组件的功率衰减现象大致能够分成三类:类:因为破坏性因素导致的组件功率衰减;第二类:组件初始的光致衰减;第三类:组件的老化衰减。当中类是在光伏组件安装过程中可控制的衰减,像加强光伏组件卸车、倒运、安装质量控制可降低组件电池片隐裂、碎裂出现的可能等。光伏组件生产过程中亟需解决的工艺问题是第二类和第三类。可以利用光伏组件I-V特性曲线测试仪来完成光伏组件功率衰减测试。上海视觉检测设备厂家上海欧普泰科技创业股份有限公司为您提供检测,期待为您服务!

上海欧普泰科技创业股份有限公司,作为资本密集型产业,我国光伏产业的发展离不开资本的支持。随着光伏产业的发展对资本的需求量不断的增大。在发展初期,对资金的需要主要用于企业购买技术和设备从事光伏产品的生产、经营和销售。我国光伏产业进入快速发展阶段以后,对资金的需求量更大,主要因为国外市场对我国光伏产品的需求增加,加快扩大我国光伏产业规模,无疑需要更多的资金支持。但是快速发展带来的无序竞争,使我国光伏产品产能过剩,光伏产品的价格急剧下降,终遭遇“双反”调查,严重打击了我国太阳能光伏产业市场,使其陷入了前所未有的困境,国内光伏企业大量倒闭,企业只有通过调整发展战略才能从“双反”的阴影中走出来,此时,对资金的需求更进一步加大。我国光伏产业从发展初期、快速发展期到瓶颈期对资金的需求是逐渐递增的。

 目前行业内主要采用的组件测试标准有:《IEC61215:2005地面用晶体硅光伏组件的设计鉴定和定型》、《IEC61730-1:2004光伏组件安全鉴定之结构要求》、《IEC61730-2:2004光伏组件安全鉴定之实验要求》和《UL1703:2004平面光伏模块及平板标准》,而这些标准只是针对单块组件,并且模拟的户外环境是实际户外环境的单个因素或两三个因素,并不能的模拟组件户外25年的发电情况。大家是否注意到,上述提及的测试标准没有一份测试标准申明或注明通过了本标准的所有项目即证明了组件有25年的使用寿命。上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司,欢迎您的来电!

光伏组件性能的检测光伏电站运行一段时间后,需要进行检测,来确定光伏电站的性能。涉及光伏组件的,主要包含以下项目。1、功率衰减测试光伏组件运行1年和25年后的衰减率到底有多少?25年太久,现在可能还没有运行这么长时间的电站。按国家标准,晶硅电池2年的衰减率应该在3.2%以内。但目前这个数据还真的很难说,原因有三:1)光伏组件出场功率是用实验室标准光源和测试环境标定的,但似乎国内不同厂家的标准光源是存在一定的差异的。那在A厂标定的250W的组件,到了B厂,可能就是245W的组件的。2)现场检测所用的仪器精确度较差,据说5%以内的误差都是可以接受的。用误差5%的仪器,测2%(1年)的衰减,难度有些大,结果也令人怀疑。上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测,欢迎您的来电!上海电池片检测系统厂家

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缺点种类一:黑心片EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域,该部分没有发出1150nm的红外光,故红外相片中反映出黑心,此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。缺点种类二:黑团片多晶电池片黑团主要是由于硅片供应商一再缩短晶体定向凝固时间,熔体潜热释放与热场温度梯度失配导致硅片内部位错缺点。缺点种类三:黑斑片黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度>107个/cm2,黑斑边缘区域位错密度>106个/cm2均为标准要求的1000~10000倍这是相当大的位错密度。缺点种类四:短路黑片缺点种类五:非短路黑片电池片黑片有两种,全黑的我们称之为短路黑片,通常是由于焊接造成的短路或者混入了低效电池片造成的。而边缘发亮的黑片我们称之为非短路黑片,这种电池片大多产生于单面扩散工艺或是湿法刻蚀工艺,单面扩散放反导致在背面镀膜印刷,造成是PN结反,也就是我们通常所说的N型片,这种电池片会造成IV测试曲线呈现台阶,整个组件功率和填充因子都会受到较大影响。浙江el检测仪器

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