广东人工智能检测仪器厂家

EL英文全称Electro Luminescence，即电致发光，也可以叫电子发光检测。通过利用晶体硅的电致发光原理，配合辨率的红外相机拍摄晶体硅的近红外图像，通过图像软件对获取成像图像进行分析处理从而对太阳能电池片、光伏组件等的缺点判定。

目前EL检测应用在光伏行业方面，如光伏组件的缺点检测、太阳能电池片内部缺点检测、硅片隐裂检测等。在光伏组件、光伏电站中采用便携式的EL检测仪，可以适应不同环境、不同场所的应用，方便其对光伏组件产生的内部缺点进行快速识别判断。 欧普泰AI-EL一人多机系统，人工智能检测缺点，节约成本，提高辨别准确率，减低返修率，欢迎致电我司。广东人工智能检测仪器厂家

机器视觉技术与人类通过眼睛获取信息的方式是一致的，光学图像的采集就好比是机器在用“眼睛”获取信息，检测算法就是机器在用“大脑”思考的过程。而光学图像定位方法又分为灰度定位和几何定位，基于灰度定位的算法是通过分析模板图像的灰度值与待测物体图像的灰度值的相关性大小来判断物体的位置。由于该算法与图像的每一个像素点的灰度值关系密切，所以它对光照的亮度变化非常敏感。而在实际生产当中工件对光的吸收、反射不可能完全一致，从而会影响定位的准确率和通过率，因此采用几何定位方式。江西组件检测设备欧普泰AI-EL一人多机系统，人工智能检测缺点，节省成本，提高辨别准确率，减低返修率，欢迎致电我司。

光伏电站的收益好坏，取决于光伏组件的发电效率，而影响光伏组件发电效率的因素可通过EL检测分析出来并加以改善。

EL英文全称Electro Luminescence，即电致发光，也可以叫电子发光检测。是根据半导体辐射复合释放光子的特点，对组件施加正向电压注入非平衡载流子，并通过光子探测器接收非平衡载流子辐射复合释放的光子，非平衡载流子浓度越高（正常区域）释放的光子越多，EL显示图像越亮；非平衡载流子浓度越低（缺点区域）释放的光子越少，EL图像越暗，通过图像明暗关系即可反应组件内部电池缺点情况。

近几年，晶硅组件厂家为了降低成本，晶硅组件越做越薄，从而降低了电池片防止机械破坏的能力，从而导致了在运输和安装过程中组件隐裂的产生，下面让我们详细的了解下组件的隐裂。

什么是光伏组件隐裂？

隐裂是指电池片（组件）受到较大的机械或热应力时，可能在电池单元产生肉眼不易察觉的隐性裂纹。

根据电池片隐裂的形状，可分为5类：树状裂纹、综合型裂纹、斜裂纹、平行于主栅线、垂直于栅线和贯穿整个电池片的裂纹。

电池片产生的电流要依靠“表面的主栅线及垂直于主栅线的细栅线”搜集和导出。当隐裂导致细栅线断裂时，细栅线无法将收集的电流输送到主栅线，将会导致电池片部分甚至全部失效。 欧普泰AI-EL一人多机系统，人工智能检测缺点，节约成本，提高辨识准确率，减低返修率，欢迎致电我司。

隐裂、热斑、PID效应，是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。隐裂是晶体硅光伏组件的一种较为常见的缺点，通俗的讲，就是一些肉眼不可见的细微破裂(micro-crack)。晶硅组件由于其自身晶体结构的特性，十分容易发生破裂。

在晶体硅组件生产的工艺流程中，许多环节都有可能造成电池片隐裂。隐裂产生的根本原因，可归纳为硅片上产生了机械应力或热应力。现在为了降低成本，晶硅电池片向越来越薄的方向发展，降低了电池片防止机械破坏的能力，更容易产生隐裂。 欧普泰PL、EL检测设备，电池片、电池串、组件检测准确率与速度均达到或超出国内外同类设备水平，领跑行业。山东人工智能检测系统厂家

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电位诱发衰减效应是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷狙击在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时，会引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个组串的功率输出。

一是系统设计原因：光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的，这就造成在单个组件和边框之间形成偏压，组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件，通过有变压器的逆变器负极接地，消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生，但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本;

二是光伏组件原因：高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流，封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一，在使用不同EVA封装胶膜条件下，组件的抗PID性能会存在差异。

三是电池片原因：电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中，由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。 广东人工智能检测仪器厂家

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