本申请提供了具有强度较大的基板结构的芯片,其具有晶圆层的边框结构,也可以具有晶圆层的内框结构,以便减低芯片在进行热处理、加工与焊贴等工序时,因为应力或热应力而导致失效的机率。在此同时,还要降低上述基板结构的电阻值,以便减少消耗功率,降低热耗损,增进芯片的使用寿命。附图说明图1为现有半导体基板的结构的一剖面示意图。图2为现有半导体基板的结构的另一剖面示意图。图3为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的一剖面示意图。图4为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的一剖面示意图。图5a与5b为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面示意图。图6为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面的一示意图。图7为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面的一示意图。图8a为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的一剖面示意图。图8b为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的一剖面示意图。图9为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的一剖面示意图。图10a与10b为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面示意图。图11a为根据本申请一实施例的半导体基板的结构的剖面的一示意图。中硅半导体半导体晶圆现货供应。西安半导体晶圆诚信互利
如图28c所示。电压衰减电路26090的衰减率的设置范围在5-100之间,推荐20。电压衰减可以用如下公式表达:vout=(r2/r1)*vin假设r1=200k,r2=r3=r4=10k,vout=(r2/r1)*vin=vin/20其中,vout是电压衰减电路26090输出的振幅值,vin是电压衰减电路26090输入的振幅值,r1、r2、r3、r4是两个运算放大器28102及28104的电阻。图29a至图29c揭示了根据本发明的一个实施例的如图26所示的整形电路26092的示例。参考图26所示,电压衰减电路26090的输出端连接整形电路26092。电压衰减电路26090输出的波形输入到整形电路26092,整形电路26092将电压衰减电路26090输出的正弦波转化为方波以便主控制器26094处理。如图29a所示,整形电路26092包括窗口比较器29102及或门29104。当vcal-图30a至图30c揭示了根据本发明的一个实施例的如图26及图27所示的主控制器26094的示例。如图30a所示,主控制器26094包括脉冲转换模块30102和周期测量模块30104。脉冲转换模块30102用来将τ1时间的脉冲信号转换为高电平信号,τ2时间的低电平信号保持不变,如图30b-30c所示。图30a示意了脉冲转换模块30102的电路符号,其中,clk_sys为50mhz时钟信号,pulse_in为输入信号,pulse_out为输出信号。广州半导体晶圆价钱进口半导体晶圆的优势?
用振幅随着时间变化的电源的功率水平p来代替如图7a及图7d中步骤7040所示的恒定的功率水平p1。在一个实施例中,如图8a所示,在时间段τ1内,电源的功率振幅p增大。在另一个实施例中,如图8b所示,在时间段τ1内,电源的功率振幅p减小。在又一个实施例中,如图8c所示,在时间段τ1内,电源的功率振幅p先减小后增大。在如图8d所示的实施例中,在时间段τ1内,电源的功率振幅p先增大后减小。图9a至图9d揭示了根据本发明的又一个实施例的声波晶圆清洗工艺。在该声波晶圆清洗工艺中,电源的频率随着时间变化,而这个工艺中的其他方面与图7a至图7d中所示的保持一样,在该实施例中,用随着时间变化的电源的频率来代替如图7a及图7d中步骤7040所示的恒定的频率f1。如图9a所示,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率先设置为f1后设置为f3,f1高于f3。如图9b所示,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率先设置为f3后增大至f1。如图9c所示,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率从f3变化至f1再变回f3。如图9d所示,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率从f1变为f3再变回f1。与图9c所示的清洗工艺相似,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率先设置为f1。
之后为f3,**后为f4,且f4小于f3,f3小于f1。仍与图9c所示的清洗工艺相似,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率先设置为f4,之后为f3,**后为f1,且f4小于f3,f3小于f1。仍与图9c所示的清洗工艺相似,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率先设置为f1,之后为f4,**后为f3,且f4小于f3,f3小于f1。仍与图9c所示的清洗工艺相似,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率先设置为f3,之后为f4,**后为f1,且f4小于f3,f3小于f1。仍与图9c所示的清洗工艺相似,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率先设置为f3,之后为f1,**后为f4,且f4小于f3,f3小于f1。仍与图9c所示的清洗工艺相似,在一个实施例中,在时间段τ1内,电源的频率先设置为f4,之后为f1,**后为f3,且f4小于f3,f3小于f1。图10a至图10c揭示了根据本发明的又一个实施例的声波晶圆清洗工艺。参考图10a所示,与图7a所示的清洗工艺相类似,在时间段τ1内,将具有功率水平p1及频率f1的电源应用至声波装置。然而,在时间段τ2内,电源的功率水平降至p2而不是如图7a所示降到零。结果,如图10b所示,气泡内气体和/或蒸汽的温度降至t0+δt2。图10c揭示了图10a及图10b所示的晶圆清洗工艺步骤的流程图。什么才可以称为半导体晶圆?
一个晶圆1300可以在半导体的制程与封装之后,再进行芯片的切割,这种制作过程通常被称为晶圆级芯片封装(wlcsp,waferlevelchipscalepackage)。如图13所示,该晶圆1300可以预先设计成要在虚线处进行切割,以便在封装之后形成多个芯片。在图13当中,该晶圆1300可以包含三个尺寸相同的芯片1310~1330。在一实施例中,这三个芯片1310~1330可以是同一种设计的芯片。换言之,这三个芯片1310~1330可以包含上述基板结构300~1200当中的其中一种。或者说整个晶圆1300所包含的所有芯片都包含同一种基板结构。在另一实施例当中,这三个芯片1310~1330可以是不同种设计的芯片。也就是说,这三个芯片1310~1330可以包含上述基板结构300~1200当中的其中两种或三种。换言之,整个晶圆1300的多个芯片包含两种以上的基板结构。举例来说,芯片1310可以包含基板结构500,芯片1320可以包含基板结构900,芯片1330可以包含基板结构400。在另一范例中,芯片1310可以包含基板结构300,芯片1320可以包含基板结构800。图13所示的芯片也可以包含图6、7、11、12分别所示的四种剖面600、700、1100与1200。换言之,本申请并不限定同一个晶圆上的任两颗芯片使用相同的剖面。请参考图14所示。半导体晶圆服务电话?东莞半导体晶圆价格优惠
半导体产品的加工过程主要包括晶圆制造和封装测试。西安半导体晶圆诚信互利
一些气泡内爆继续发生,然后,在时间段τ2内,关闭声波功率,气泡的温度从tn冷却至初始温度t0。ti被确定为通孔和/或槽的图案结构内的气泡内爆的温度阈值,该温度阈值触发***个气泡内爆。由于热传递在图案结构内是不完全均匀的,温度达到ti后,越来越多的气泡内爆将不断发生。当内爆温度t增大时,气泡内爆强度将变的越来越强。然而,气泡内爆应控制在会导致图案结构损伤的内爆强度以下。通过调整时间△τ可以将温度tn控制在温度td之下来控制气泡内爆,其中tn是超/兆声波对清洗液连续作用n个周期的气泡**高温度值,td是累积一定量的气泡内爆的温度,该累积一定量的气泡内爆具有导致图案结构损伤的**度(能量)。在该清洗工艺中,通过控制***个气泡内爆开始后的时间△τ来实现对气泡内爆强度的控制,从而达到所需的清洗性能和效率,且防止内爆强度太高而导致图案结构损伤。为了提高颗粒去除效率(pre),在如图22a至22b所示的超或兆声波清洗过程中,需要有可控的非稳态的气穴振荡。可控的非稳态的气穴振荡是通过设置声波电源在时间间隔小于τ1内功率为p1,设置声波电源在时间间隔大于τ2内功率为p2,重复上述步骤直到晶圆被清洗干净,其**率p2等于0或远小于功率p1。西安半导体晶圆诚信互利
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该晶圆层320的该***表面321与第二表面322的**小距离可以是**大距离的一半。换言之,该晶圆层320的电阻值约略是该晶圆层120的一半。在另外的实施例当中,该***表面321与第二表面322的**小距离与**大距离的比值,可以是其他小于100%的比例。如此,在芯片的边缘处具有较厚的晶圆层320,但是降低在芯片中间有半导体元器件之处的晶圆厚度。此外,可以在降低该晶圆层320中间的电阻值的同时,可以维持芯片结构强度,降低工艺过程中的器件失效。在一实施例当中,该芯片边缘较厚的晶圆层320,其左右的宽度可以介于50~200um之间。本领域普通技术人员可以理解到,可以根据该芯片所实作的半...