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X荧光光谱仪基本参数
  • 品牌
  • 天瑞,深天科
  • 型号
  • 齐全
X荧光光谱仪企业商机

X荧光光谱仪引起样品误差的原因:样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。样品的组分分布不均匀,样品组分的偏析、矿物效应等。样品的组成不一致 引起吸收、增有效应的差异造成的误差;被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。制样操作,在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。X射线荧光光谱仪会产生电离辐射,在测试时确保不要将仪器对着人。深圳工业X荧光光谱仪售价

X射线荧光光谱仪测试样品要求:通常的定性半定量分析中X射线荧光光谱分析对测试样品有以下要求:这要求测试样品需要是均匀的,因为X射线荧光光谱分析区域体现出来的均匀性取决于材料受仪器激发的体积内样品的物理均匀性。例如尺寸合适的金属合金、塑料壳就可以看作是一个均匀的样品。对于不均匀的样品,我们需要经过处理后再进行分析,例如矿物或地质样品需要经过研磨成粉末后压片处理。有一定尺寸和厚度,X射线荧光光谱分析要求所测试的样品要完全覆盖光谱的测试窗口。覆盖不只只是指样品的测试平面宽度,还有样品的厚度要大于分析层(产生X射线荧光)的厚度,比如聚合物和轻金属如Al、Mg或Ti较小厚度要求5mm,液体厚度较小15mm,其它合金厚度较小1mm,需要压片处理的粉末样品一般4g以上。能量色散型X荧光光谱仪X荧光光谱仪一般测量一个样品只需1-3分钟。

X荧光光谱仪的原理:X射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线,X荧光光谱仪使用的是通过对第一种荧光X射线的测定,从物质中获取元素信息(成分和膜厚)的荧光X射线法原理。物质受到X射线的照射时,发生元素所固有的X射线(固有X射线或者特征X射线)。荧光X射线装置就是通过对该X射线的检测而获取元素信息。通常人们将X光管所产生的X射线称为初级X射线。以初级X射线为激发光源照射试样,激发态试样所释放的能量不为原子内部吸收而以辐射形式发出次级X射线,这便是X射线荧光由于各种元素发射具有特定波长(或能量)的标识X射线,可利用锂漂移、硅半导体等不同探测器及能谱分析仪来确定元素的种类。而标识谱线强度可用来确定元素含量。

X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。X射线光谱仪与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。

X射线荧光光谱仪定性与定量分析:不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长,因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分。事实上,在定性分析时,可以靠计算机自动识别谱线,给出定性结论。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工鉴别。定量分析:X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Wi成正比。X荧光光谱仪用于各种金属材料中各种化学元素的精确成分分析。用于原材料检验,冶炼生产过程成分控制,成品元素成分定值及其它特殊应用,以检测铜合金的炉前快速分析和成品分析,控制铜合金中的元素各成分含量,并在满足客户的技术要求下,控制铜的含量以降低生产成本。X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种普遍应用于冶金、地质等各个领域。北京台式X射线荧光光谱仪怎么使用

X射线荧光光谱仪已被普遍用于冶金,地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。深圳工业X荧光光谱仪售价

X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。主要包括光源、激发单色器、样品池、荧光单色器及探测器等主要部件。而探测器是很重要的一环,它的重要作用是接受和分辨信号,由于探测器性能的不同,在选用探测器时,就需要综合考虑多种因素。好的探测器不只需要具有高分辨率和高计数率,还需要有较宽的元素分析范围和有效活性区。其应用领域和使用环境等也是需要关注之一。就目前X荧光光谱仪常用的三种X射线探测器而言,产生一个离子对的平均能量,在Si(Li)探测器、流气式正比计数器、闪烁计数器之间大约相差一个量级,而分辨率与统一个光子产生的电子数的平方根成正比,故三者之间的分辨率也粗略相差三倍。由人射光子在探测器中产生的等价离子对数目与人射光子能量成正比,与产生离子对的平均能量成反比。深圳工业X荧光光谱仪售价

深圳市天科仪器有限公司位于深圳市宝安区新桥街道新桥社区洋下大道8号凯悦大厦703。公司业务涵盖x荧光光谱仪,液相色谱仪,气相色谱仪,气质联用仪等,价格合理,品质有保证。公司从事机械及行业设备多年,有着创新的设计、强大的技术,还有一批专业化的队伍,确保为客户提供良好的产品及服务。天科仪器秉承“客户为尊、服务为荣、创意为先、技术为实”的经营理念,全力打造公司的重点竞争力。

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