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X荧光光谱仪基本参数
  • 品牌
  • 天瑞,深天科
  • 型号
  • 齐全
X荧光光谱仪企业商机

X射线荧光光谱仪测试样品要求:通常的定性半定量分析中X射线荧光光谱分析对测试样品有以下要求:这要求测试样品需要是均匀的,因为X射线荧光光谱分析区域体现出来的均匀性取决于材料受仪器激发的体积内样品的物理均匀性。例如尺寸合适的金属合金、塑料壳就可以看作是一个均匀的样品。对于不均匀的样品,我们需要经过处理后再进行分析,例如矿物或地质样品需要经过研磨成粉末后压片处理。有一定尺寸和厚度,X射线荧光光谱分析要求所测试的样品要完全覆盖光谱的测试窗口。覆盖不只只是指样品的测试平面宽度,还有样品的厚度要大于分析层(产生X射线荧光)的厚度,比如聚合物和轻金属如Al、Mg或Ti较小厚度要求5mm,液体厚度较小15mm,其它合金厚度较小1mm,需要压片处理的粉末样品一般4g以上。X荧光光谱仪能实现对元素的定性分析,通过探测特征波长的X射线光子的强度。上海微区X射线荧光光谱仪报价

X射线荧光光谱仪原理就是:X射线管通过产生入射X射线,来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。江苏台式X射线荧光光谱仪有哪些厂家X射线荧光光谱仪由三个主要部分组成,分别起激发、色散和探测的作用。

X射线荧光光谱仪,是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素之内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析,特别是在研究金属,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管(EURoHS)和考古学等领域,在某种程度上与原子吸收光谱仪互补,减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。

X射线荧光光谱仪是一种能量色散型X射线荧光光谱分析仪(简称:XRF光谱仪或XRF分析仪),也是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素之内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。检测器接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析,特别是在研究金属,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管(EURoHS)和考古学等领域,在某种程度上与原子吸收光谱仪互补,减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可以获得各元素的含量信息。

X荧光光谱仪的原理:X射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线,X荧光光谱仪使用的是通过对第一种荧光X射线的测定,从物质中获取元素信息(成分和膜厚)的荧光X射线法原理。物质受到X射线的照射时,发生元素所固有的X射线(固有X射线或者特征X射线)。荧光X射线装置就是通过对该X射线的检测而获取元素信息。通常人们将X光管所产生的X射线称为初级X射线。以初级X射线为激发光源照射试样,激发态试样所释放的能量不为原子内部吸收而以辐射形式发出次级X射线,这便是X射线荧光由于各种元素发射具有特定波长(或能量)的标识X射线,可利用锂漂移、硅半导体等不同探测器及能谱分析仪来确定元素的种类。而标识谱线强度可用来确定元素含量。X荧光光谱仪可以根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响。浙江X射线荧光光谱仪多少钱

X射线荧光光谱仪可以对物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测。上海微区X射线荧光光谱仪报价

X射线荧光光谱仪定量分析方法:X射线荧光光谱法是一种相对分析方法,光谱仪只提供X射线荧光的强度,要找到荧光强度与样品浓度的关系,需要一套高质量的标准样品,根据元素的浓度和已测的该元素的特征谱线的强度按一定关系进行拟合绘制工作曲线,以该工作曲线为基础测试同类型样品元素的组成和含量。X射线荧光光谱仪无标样分析方法:它的基本思路是:由仪器制造商测量标准样品,储存强度和工作曲线,然后将这些数据转到用户的X射线荧光分析系统中,并用随软件提供的参考样品校正仪器漂移。其优点是采用了制造商的标样、经验与知识,包括测量条件,自动谱线识辨,背景扣除,谱线重叠校正,基体校正等。无标样分析技术可以在没有标准样品的情况下分析各种样品中的七十几个元素,应用范围较广,但其适用性也带来了分析准确度的局限性。上海微区X射线荧光光谱仪报价

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