[0040]具体的，在本发明中，扫描卡与待测产品连接，通过扫描卡实现测量通道的切换，从而实现多组数据同时测试。在保证系统运行速率的前提下，通过一个主控板至多连接13张测量板和13张扫描板，可实现13张测量板同步测量，测量板可以任意对应一张扫描板或者对应多张扫描板，应用灵活。本系统测试参数、测量点位多，可同时对系统中的多个电容、电阻或者电感元件的物理参数进行测量，提高测量效率。此外，由于一张扫描卡有40个通道，通道数量较多，因此，本方案扫描卡、测量卡之间的信号传输大部分通过背部连接板进行转接，满足信号的稳定分配与传输的需求。[0041]在本发明中，进一步的，每个所述扫描卡包括扫描CPLD以及通道切换单元，所述扫描CPLD与所述通道切换单元连接，扫描CPLD用于接收主控板的信号并控制信号分配，所述通道切换单元通过若干继电器实现对测量通道的切换。在本方案中，如图14所示，扫描卡选用具有176脚位的扫描CPLD，具体为可编程逻辑器件U300A，型号为LC4256V 75TN176I，通过扫描CPLD控制切换测量通道使得可切换的通道多，内部逻辑门电路比较，不会由于外部干扰造成通道切换的错误。高精密多通道阻抗测试机怎么调？中国香港高精密多通道LCR测试机公司
一种多通道数字输出模块 6.根据权利要求5所述的一种多通道数字输出模块，其特征在于，所述主控芯片U1还连接有复位电路，所述复位电路包括复位按钮，所述复位按钮的2号端口通过电阻R2接3.3V电源，同时通过电阻R3接入主控芯片U1，所述复位按钮的1号端口接地，通过复位按钮实现对主控芯片U1的重置。7.根据权利要求6所述的一种多通道数字输出模块，其特征在于，所述主控芯片U1的89和90号引脚连接有晶振电路，所述晶振电路为所述主控芯片U1提供时钟脉冲信号。中国香港高精密多通道LCR测试机公司多通道LCR 测试机原理。
[0042]其中，如图15所示，通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路，所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器，所述继电器与所述扫描CPLD连接，以其中一例进行说明，切换电路包括继电器RY600，继电器RY600的1脚接+5VD电源，2脚与扫描CPLD的116脚连接，3脚连接至插排上实现信号的转接，通过扫描CPLD控制继电器继电器RY600两个点位的高低电平，实现对该通道的控制。如此，整个通道切换单元使用高隔离和寄生电容小的继电器，使得整个系统的寄生电容小，提升测量的精度，同时此继电器的切换时间小于1mS使得多通道切换时花费的时间少，提升了测量速度。[0043]在本发明中，进一步的，如图4所示，所述主控板包括MCU模块、测量CPLD、DDS合成单元以及信号测量单元，所述MCU模块与所述测量CPLD连接，所述MCU模块用于控制所述测量CPLD进行LCR测试，所述测量CPLD与所述DDS合成单元电连接，所述测量CPLD用于控制DDS合成单元合成正弦信号，所述DDS合成单元与所述信号测量单元连接，所述信号测量单元用于同步采集所述正弦信号。
一种多通道数字输出模块 具体实施方式 [0027]具体的，由于控制信号较多，为保证不同的控制信号之间互不干扰，以及控制信号传递的准确性，主控电路输出的每一控制信号均连接有一特定的隔离输出电路，故隔离输出电路依据实际所需的控制信号数量进行设置和排布，在本实施方式中设置有70组隔离输出电路，隔离输出电路连接结构相同，故以其中一组为例进行说明，隔离输出电路的隔离器输入端通过插座P3连接主控电路，输出端接驱动电路，隔离器采用TCMT4600系列光电耦合器，主控电路输出控制信号给隔离器，通过隔离器电‑光‑电式传递给驱动电路，驱动电路对信号放大后输出到插座P4，从而驱动与插座P4连接的设备接收到信号，做出相应的动作，通过隔离器与驱动电路的配合，保证了信号传输的稳定，抗干扰能力强，且无延迟，传输速度快。快速LCR测试机具体使用方法。
一种多通道高精密LCR测试系统 [0011]在本发明中，进一步的，所述信号转换电路包括信号调制电路以及ADC电路，所述信号调制电路与所述ADC电路连接，所述信号调制电路用于对采集的正弦信号调节增益，所述ADC电路用于对信号进行转换。[0012]在本发明中，进一步的，所述信号测量单元包括四路结构相同的采集电路，所述采集电路包括运算放大器U601，所述运算放大器U601的正极输入引脚与所述差分电路连接。[0013]在本发明中，推荐的，所述通道切换单元包括若干结构相同的通道切换电路，所述通道切换电路包括与所述通道数量相对应的继电器，所述继电器与所述扫描CPLD连接。[0014]在本发明中，进一步的，所述DDS合成单元包括数字频率合成器U501，所述数字频率合成器U501的输入引脚与所述测量CPLD连接，所述数字频率合成器U501的输出引脚与所述滤波电路连接。苏州高精密多通道电阻测试机。中国香港高精密多通道LCR测试机公司
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[0060]本系统通过MCU模块控制测量CPLD产生测量信号，测量信号经过DDS合成单元合成正弦信号，正弦信号通过滤波电路和差分电路滤除信号的谐波和高频干扰，由信号测量单元进行同步采集，经过处理后的正弦信号终分别传输至测量卡和扫描卡中，在测量卡上进行测量，经过扫描卡传输至产品上，用于驱动被测元件。[0061]被测元件的反馈信号传输至扫描卡中，并且该过程可通过通道切换单元进行测量测通切换，扫描卡的信号经过背部连接板进行信号转接，经过平衡转换电路进行转换以及增益调节电路进行信号调节，终传输至测量CPLD，测量CPLD进行内部分析和计算，将终计算出的不同的电参数数据传输至MCU模块，MCU模块可通过USB模块或网络通讯单元外界显示设备，对该测量结果进行显示。中国香港高精密多通道LCR测试机公司
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