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    虽然在本实施方式中设为通过2重量％以下的薄的氢氟酸来以3μm/分以下的慢的速度进行蚀刻处理，但不限于该手法。若并非使蚀刻速率在整个蚀刻处理过程中都慢，而是刚开始采用较快的蚀刻速率然后分阶段地减慢，则能缩短蚀刻处理的时间。例如，采用如下构成即可：越往蚀刻装置300的后级，越使蚀刻液中的氢氟酸浓度下降。若切取多块用玻璃母材50经过蚀刻装置300，则改性线20被蚀刻。在改性线20处，与其他部位相比，蚀刻液更快地浸透，玻璃沿该线溶解，从而通过改性线20，切断彩色滤光片基板变得容易。另外，即使在激光照射时发生了伤痕等的情况下，该伤痕也容易消失。若蚀刻处理结束，则将所粘贴的耐蚀刻膜16剥离。接着，对于切取多块用玻璃母材50，如图23的(a)～图23的(c)所示，进行用于形成端子部切断槽30的处理，端子部切断槽30用于去除彩色滤光片基板14中的与阵列基板12的电极端子部122对置的区域。在本实施方式中，通过刻划轮(cutterwheel)250，在彩色滤光片基板14中的与阵列基板12的电极端子部122对置的区域的内侧形成端子部切断槽30。端子部切断槽30去除彩色滤光片基板14中的与阵列基板12的电极端子部122对置的区域，因此沿端子部切断预定线而予以形成。检测汽车玻璃粘度、电阻、化学稳定性、玻璃转化温度的玻璃面型检测设备。佛山高铁玻璃面型检测联系人

    大多为20～35μm)。如此，在制造液晶面板10时，侧面蚀刻的影响几乎不发生，因此能设计将液晶面板10彼此相近配置的切取多块用玻璃母材50。例如，若以激光宽度2μm+α而存在合计10μm左右的间隙，则能将切取多块用玻璃母材50适当地分离成单个液晶面板10。在上述实施方式中，为了方便说明，针对阵列基板12以及彩色滤光片基板14的外涂层(oc)膜或ito膜省略了说明，但通过上述处理，它们不会发生污损。另外，即使是未形成外涂层(oc)膜或ito膜的状态下的被处理物(液晶面板等)，也能通过上述方法来适当地进行处理。应认为：上述实施方式的说明在全部的点上只是例示，并不是为了限制。本发明的范围不是由上述实施方式而是由权利要求的范围来示出。进而，本发明的范围旨在包含与权利要求的范围等价的含义以及范围内的全部变更。(标号说明)2玻璃面板4切取多块用玻璃母材6、16耐蚀刻膜7、17透明薄膜10液晶面板12阵列基板14彩色滤光片基板20改性线30端子部切断槽50切取多块用玻璃母材100智能手机122电极端子部250刻划轮300蚀刻装置302、304蚀刻腔室306蚀刻槽。佛山平坦度玻璃面型检测我公司基于相位偏折光学的在线高精度玻璃面型检测，代替30个人工，节约企业成本。

    对阵列基板以及彩色滤光片基板粘贴具有耐蚀刻性的透明的蚀刻层。与上述同样，作为耐蚀刻层的**例，可列举由具有对包含用于蚀刻玻璃的氢氟酸的蚀刻液的耐性的透明的树脂材料构成的耐蚀刻膜。耐蚀刻膜既可以经由透明的具有耐蚀刻性的粘接剂进行粘贴，也可以使用具有自粘合性的耐蚀刻膜。除了耐蚀刻膜以外，还能使用具有耐蚀刻性的透明的抗蚀剂材料或其他透明的掩蔽构件来形成耐蚀刻层。在激光扫描步骤中，沿与液晶面板的形状对应的形状切断预定线来扫描激光，从而沿形状切断预定线去除耐蚀刻层且在切取多块用玻璃母材形成具有易被蚀刻的性质的改性线。进而，在蚀刻步骤中，在激光扫描步骤后，通过使切取多块用玻璃母材与蚀刻液接触，从而蚀刻改性线。在该液晶面板制造方法中，在阵列基板以及彩色滤光片基板分别形成改性线，因此能在使各个基板的侧面蚀刻的影响**小化的同时，通过蚀刻处理来对切取多块用玻璃母材进行分割。在上述激光扫描步骤中，在阵列基板以及彩色滤光片基板所夹持的液晶层发生气泡的产生等不良状况的情况下，沿形状切断预定线来去除耐蚀刻膜且使改性线*形成于阵列基板或者彩色滤光片基板的任一者即可。通过采用该方法。

    尤其是蚀刻处理的后半部分)，需要减慢蚀刻速率来准确地控制蚀刻量。虽然在本实施方式中设为通过2重量％以下的薄的氢氟酸来以3μm/分以下的慢的速度进行蚀刻处理，但不限于该手法。若并非使蚀刻速率在整个蚀刻处理过程中都慢，而是刚开始采用较快的蚀刻速率然后分阶段地减慢，则能缩短蚀刻处理的时间。例如，采用如下构成即可：越往蚀刻装置300的后级，越使蚀刻液中的氢氟酸浓度下降。若切取多块用玻璃母材50经过蚀刻装置300，则改性线20被蚀刻。在改性线20处，与其他部位相比，蚀刻液更快地浸透，玻璃沿该线溶解，从而通过改性线20，切断彩色滤光片基板变得容易。另外，即使在激光照射时发生了伤痕等的情况下，该伤痕也容易消失。若蚀刻处理结束，则将所粘贴的耐蚀刻膜16剥离。接着，对于切取多块用玻璃母材50，如图11的(a)～图11的(c)所示，进行用于形成端子部切断槽30的处理，端子部切断槽30用于去除彩色滤光片基板14中的与阵列基板12的电极端子部122对置的区域。在本实施方式中，通过刻划轮(cutterwheel)250，在彩色滤光片基板14中的与阵列基板12的电极端子部122对置的区域的内侧形成端子部切断槽30。利用数字光栅技术对被检测物做高精度测量和设备标定，属于非接触式光学三维形貌测量的玻璃面型检测。

    但能抑制液晶层中的不良状况的发生，同时能容易地进行切取多块用玻璃母材50的分割。在本实施方式中同样，改性线20与上述图2的(a)所示同样，呈具有多个贯通孔或者改性层的穿孔状。改性线20具有比切取多块用玻璃母材50中的其他部位更容易被蚀刻的性质。当然，改性线20的形状不限于该形状，还可以呈除此以外的形状。在切取多块用玻璃母材50中沿形状切断预定线形成有改性线20后，切取多块用玻璃母材50如图8的(a)以及图8的(b)所示，在两个主面粘贴具有耐蚀刻性的耐蚀刻膜16。在此，作为耐蚀刻膜16，采用了厚度为50～75μm的聚乙烯。但耐蚀刻膜16的构成不限于此。例如，若是像聚丙烯、聚氯乙烯、烯烃系树脂等那样具有对用于蚀刻玻璃的蚀刻液的耐性的材料，则还能酌情选择采用。若耐蚀刻膜16的粘贴完成，则接下来如图8的(c)所示，沿与要取出的液晶面板10的形状对应的形状切断预定线来进行激光束对耐蚀刻膜16的扫描。通过该激光束的扫描，沿形状切断预定线去除耐蚀刻膜16。而且，沿形状切断预定线形成耐蚀刻膜16的开口部，其结果是，与图2的(c)所示的构成同样，切取多块用玻璃母材50的改性线20的形成位置将露出至外部。若上述激光加工结束，则如图9所示。检测高铁玻璃、强度玻璃的瑕疵、划痕等缺陷的玻璃面型检测设备。苏州汽车玻璃面型检测供应商

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    所要求的耐蚀刻性能被抑制得较低。故而，即使与通常的蚀刻处理相比，耐蚀刻膜、耐蚀刻层更薄，也不成问题。通过在耐蚀刻膜或者耐蚀刻层中的形状切断预定线所对应之处形成开口部，能在保护透明薄膜的同时对带透明薄膜的切取多块用玻璃母材中的改性线进行蚀刻。沿改性线，蚀刻液变得易于浸透，蚀刻处理的进行容易且短时间化，因此能使侧面蚀刻的影响**小化。在上述带透明薄膜的玻璃面板的制造方法中的激光扫描步骤中，推荐地，通过将激光的焦点深度设定得比玻璃面板的厚度长，从而在沿形状切断预定线而在切取多块用玻璃母材形成具有易被蚀刻的性质的改性线的同时去除透明薄膜。通过采用这样的构成，从而沿形状切断预定线去除透明薄膜，且沿形状切断预定线形成透明薄膜的开口部，其结果是，切取多块用玻璃母材的改性线形成位置将露出。尤其通过相同的激光束进行了透明薄膜的去除以及改性线的形成，因此能防止透明薄膜的开口位置与改性线的形成位置发生错位。作为形成改性线的手法的**例，可列举基于皮秒激光或者飞秒激光的纤线加工。改性线的宽度推荐设定为大致10μm以下。另一方面。佛山高铁玻璃面型检测联系人

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