无锡RFID射频硬件测试

为什么射频信号测试要用示波器？时域测量的直观性-要进行射频信号的时域测量的一个很大原因在于其直观性。比如在下图中的例子中分别显示了4个不同形状的雷达脉冲信号，信号的载波频率和脉冲宽度差异不大，如果只在频域进行分析，很难推断出信号的时域形状。由于这4种时域脉冲的不同形状对于终的卷积处理算法和系统性能至关重要，所以就需要在时域对信号的脉冲参数进行精确的测量，以保证满足系统设计的要求。更高分析带宽的要求在传统的射频微波测试中，也会使用一些带宽不太高（<1GHz）的示波器进行时域参数的测试，比如用检波器检出射频信号包络后再进行参数测试，或者对信号下变频后再进行采集等。此时由于射频信号已经过滤掉，或者信号已经变换到中频，所以对测量要使用的示波器带宽要求不高。但是随着通信技术的发展，信号的调制带宽越来越宽。典型的手机射频测试系统，由综测仪、测试夹具、待测手机（DUT）组成。无锡RFID射频硬件测试

射频测试会面临哪些趋势和挑战呢？MIMO采用多信号传输和接收将频谱效率带到了一个新的水平，然而，更高的频谱效率意味着更复杂的系统。比如说WiMAX系统，采用了正交频分复用（OFDM）来实现多种符号的并行传输。从SISO到MIMO的转变让测试工程师面临许多值得注意的新挑战。复杂的MIMO 和OFDM带来的个挑战是测试仪器可以支持的空间流（spatial streams）的数量。比如说，WLAN和LTE都支持四路空间流，而目前的WiMAX 使用Matr ix A 和Matrix B两路空间流。接收机测试的挑战是将混合在一起的信号分解成多路的单独信号或码流。然而，比较大的挑战还是同步。传输多路信号需要在多个信道之间实现相位和采样对准（sampling alignment）的精确同步。这意味着信号分析仪和信号发生器必须进行精确的同步，来实现精确的和可重复的测量。无锡RFID射频硬件测试射频测试探针通常由适合探针针型的波导或同轴连接器组成。

早起在射频探针出现之前，由于没有一种能够在无需安装或贴合状态下对单片微波集成电路(MMIC)装置进行测试的简便方法，因此测试过程常常使得电路完整性遭到破坏，引发各种问题。早期的射频探针使用的是共面陶瓷材料，而陶瓷不能太弯曲，因而压触的弹性范围并不大，同时支持的射频频率也较低，首先出现的探针只覆盖到18GHz。在差不多三十年的时间里，射频探针技术便取得了长足的进步，从低频测量到适用多种应用场合的商用方案：如在110GHz高频和高温环境进行阻抗匹配，多端口，差分和混合信号的测量装置，连续波模式中直到60W的高功率测量，以及直到1.1THz的太赫兹应用，都能见到射频探针的身影。

射频测试适用于哪些产品呢？有以下几种类型的产品，可以用射频测试来测试产品的1.短距离无线遥控产品（SRD）例如：遥控玩具、温湿度传输器、无线鼠标、无线键盘、遥控开关、蓝牙产品、智能穿戴设备、WiFi产品、无线遥控器、ZigBee，LoRa等.2.专业无线电遥控产品（PMR），例如：专业无线对讲机、无线麦克风、无线电话CTO、CT1、CT1+...ISDN（数字电话产品）、DECT（增强型数字无绳电话）、GSM、CDMA....等2.2G/3G/4G通信产品4.基站、直放站。新的RF芯片广泛应用于手机，平板等移动设备，通讯基站等通讯平台。RF射频测试座的需求越来越多。

射频测试如何选择合适的探针？由于待测设备（DUT）的性质和构成非常敏感且通常较为精细，因此射频电路的测量往往是一项棘手任务。高可靠性射频测量中困扰多的两大问题是：频率太高时，当前测试设备无法进行射频能量的测量当待测电路对电气环境中的微小变化敏感时，测量中要求频率或幅度不发生扰动这些问题可通过采用对待测电路的能量扰动尽可能小的测量探针解决，其中，高阻抗探针中的放大器能够平衡待测电路的受扰能量。➤与测试射频的阻抗匹配在射频电路系统测试中，探针与测试设备的阻抗匹配对于能否实现有效的功率传输而言至关重要。然而，随着测试频率越来越高，以及对测试误差的要求越来越严格，上述阻抗匹配变得越来越困难。➤接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件在射频测试领域中，射频测试探针分为多种不同类型，如何选择合适的探针取决于对待接触测试点、频率或数据速率、探针可用空间以及环境条件的考量。将来，射频探针需要具有测试更小焊盘及多个信道的设计能力，以及同时覆盖多种毫米波、射频、逻辑和功率信道测量范围的能力。射频测试仪器的种类很多，应用越来越多，包括从信号源和功率计，到频谱和网络分析仪等各种仪器。杭州蓝牙耳机射频测试方案

射频测试座的话，需要定期保养，比较好是每使用5000次用显微镜检查下接触探针或者RF射频连接器的情况。无锡RFID射频硬件测试

射频测试项目其中包括：1.发射功率测试（传导法、辐射法）；2.发射瞬态功率测试；3.发射邻道与次邻道功率测试；4.发射宽带测试；5.发射频谱特性；6.发射频率误差相位误差；7.发射杂散测试（传导法、辐射法）；8.接收比较大可用灵敏度；9.接受邻近通道选择；10.接收信号阻塞；11.接收同信道抑制；12.接收杂散响应抑制；13.接收互调响应抑制；14.SAR测试。RF测试办理要求：1、低电压的条件下工作频率误差不超过±10ppm,且发射功率在杂散限制范围内；2、停止发射电压需低于制造商宣告的工作电压。无锡RFID射频硬件测试

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