惠州射频硬件测试

射频探针重要探针参数，在射频测试中的高频测试里，高频产品元器件的测试需要使用复杂的测试设备，该设备可包括矢量网络分析仪（VNA）、晶片探测系统、高频探针、半刚性或柔性同轴射频线缆以及校准基板。其中，由于探针必须与待测设备实现物理连接，因此是这一测量系统中为关键的一环。高可靠性射频探针应该具有特征阻抗（通常为50欧姆）不发生退化的阻抗可重复性，在多次插拔后，相互配接的连接器上不允许出现肉眼可见的物理磨损。频射无处不在，不管是WI-FI、蓝牙、GPS、NFC（近距离无线通信）等等，都需要频射。因此需要射频测试。惠州射频硬件测试

射频测试中会有哪些专业术语呢？如1、功率/电平（dBm）：放大器的输出能力，一般单位为w、mw、dBm注：dBm是取1mw作基准值，以分贝表示的功率电平。换算公式：电平（dBm）=10lgw5W→10lg5000=37dBm10W→10lg10000=40dBm20W→10lg20000=43dBm从上不难看出，功率每增加一倍，电平值增加3dBm2、增益（dB）：即放大倍数，单位可表示为分贝（dB）。即：dB=10lgA（A为功率放大倍数）3、插损：当某一器件或部件接入传输电路后所增加的衰减，单位用dB表示。4、选择性：衡量工作频带内的增益及带外辐射的抑制能力。-3dB带宽即增益下降3dB时的带宽，-40dB、-60dB同理。5、驻波比（回波损耗）：行驻波状态时，波腹电压与波节电压之比（VSWR）等。苏州智能音箱射频测试系统射频器件主要包括三类：一是天线开关器件、二是功率器件、三是天线器件。

即使射频测试和微波测试系统的集成化程度越来越高，但是连接被测器件（DUT）和测试系统的测试电缆组件依然需要由测试者来操作连接，至少到目前为止，尚无任何迹象表明射频连接器件会产生改变性的变革。如果你所从事的工作是射频测试和测量，则无论是哪个细分领域，本书中所描述的器件对你来说存在两种意义--一类是必须了解的，每天都要直接面对的器件，如测试电缆组件和转接器、天线、衰减器、滤波器、放大器等；另一类可能你不会直接面对，但是在你的测试系统内部起着重要的作用的器件，如定向耦合器和功率分配器、隔离器和环流器等，了解这些器件的属性可以让你对测试系统有更深的理解，从而更好地完成你的测试任务。而本书中所描述的测试应用部分，即可在你有了相关的自动化测试系统，了解了测试原理后就可以帮助你更好地理解和使用这些测试系统。

手机消费市场竞争日趋激烈，射频测试越来越严格，在产品严重同质化的现在，除了从设计上寻求突破，产品品质也是各大厂商的另一个关注重点，具体到射频硬件部分，研发和生产阶段的精确射频测试是保障品质的重要手段。发射功率是手机发射机测试的重要指标之一，存在两面性，一方面手机需要发射足够高的功率以保证通信质量，另一方面在保证通信质量的前提下，发射功率越低越好，换言之，手机的发射功率需要根据实际情况被精确控制。接收灵敏度是接收机测试重要指标之一，也是衡量接收机接收能力的重要体现，必须精确测试。典型的手机射频测试系统由综测仪、测试夹具、待测手机（DUT）组成。测试夹具把综测仪和DUT连接起来，具有一定的插损，这个插损基本恒定不变。综测仪的发射功率和接收机测量都具有不确定度，仪器厂家给出的技术指标一般在0.5dB~1dB之间，重复性小于0.1dB，它们是一个统计特性，基于多台仪器、各种不同的工作条件下和测试场景下得出的。那么对特定某一台仪器，测试手机性能的不确定度是基本恒定的。夹具的插损和测试仪器的不确定度称为路径的系统损耗，可以通过校准来消除。射频中的射频盒+机柜组合模式，符合工厂端人工取放作业合理高度设计。

蓝牙产品RF自动化射频测试系统是基于蓝牙标准SIG认证设备的自动化测试系统，数据可查询，统计，分析，自动完成测试，可用于各行各业的蓝牙产品的设计验证和生产测试。该系统可提供蓝牙产品RF的各项测试， 如输出功率、 功率控制、 调制特性、 初始载波容限、 载波频率漂移、 单时隙灵敏度、 多时隙灵敏度、 比较大输入电平等， 还可 对产品蓝牙名称、 版本、 模组、 电量等进行自动检测， 同时能够结合服务器管理功能， 更好地提高生产品质和生产效率。射频器件是收发无线信号中的关键部件，遍布于各种通信场景，5G又进一步推动了射频器件性能进化。无锡234G射频仪器

射频应用中使用的传输线一般为与电路板连接的同轴线缆，以及设置于电路板内部的微带线。惠州射频硬件测试

现代对于射频测试中圆晶探针的设计将测试信号从一个三维媒质（同轴电缆或矩形波导）转换到两维（共面）探针的接触上。这种操作需要对传输媒质的特性阻抗Z0进行仔细的处理，并且要在不同传播模式之间进行电磁能量的正确转换。虽然晶片探针的输入是一个标准化同轴或波导界面，但它的输出（探针极尖）则可以实现不同的设计概念。这些界面，特别是探针极尖，会将不连续性带入到测量信号路径中。这种不连续性本身会产生高阶传播模。因此，圆晶探针和DUT激励必须只能支持单个准-TEM传。惠州射频硬件测试

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