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想要实现芯片的性能，功能，可靠性测试，我们具体要用哪些手段呢？

系统级SLT测试

常应用于功能测试、性能测试和可靠性测试中，常常作为成品FT测试的补充而存在。顾名思义就是在一个系统环境下进行测试，就是把芯片放到它正常工作的环境中运行功能来检测其好坏，缺点是只能覆盖一部分的功能，覆盖率较低所以一般是FT的补充手段。需要应用的设备主要是机械臂，需要制作的硬件是系统板+测试插座。

可靠性测试：

主要就是针对芯片施加各种苛刻环境，比如ESD静电，就是模拟人体或者模拟工业体去给芯片加瞬间大电压。再比如老化HTOL，就是在高温下加速芯片老化，然后估算芯片寿命。除了上述测试方法，一些复杂、高效的芯片也会采取多策并举的形式进行测试。同时我们可以发现，探针和插座贯穿了CP测试和FT测试，任何测试都离不开他，是芯片测试中必不可少的冶具之一。现如今芯片更新迭代的速度变得越来越快，功能越来越复杂，这就要求更高的测试可靠性和更少的测试时间以将产品快速推出市场。

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为什么要进行IC测试？有哪些分类？

任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，IC测试就是集成电路的测试，就是。如果存在无缺陷的产品的话，集成电路的测试也就不需要了。由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而无论怎样完美的产品都会产生不良的个体，因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。

IC测试一般分为物理性外观测试（VisualInspectingTest），IC功能测试（FunctionalTest）,化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation），可焊性测试（SolderbilityTest），直流参数（电性能）测试（ElectricalTest）,不损伤内部连线测试（X-Ray），放射线物质环保标准测试（Rohs）以及失效分析（FA）验证测试。 徐汇区IC测烧批量价格芯片测试是通过对芯片进行电气特性测试、功能测试、时序测试等手段来评估芯片的性能和可靠性。

DIP(DualIn－line Package)双列直插式封装称DIP或DIL(这是欧洲半导体制造商常用的名称)。插装型封装之一，引脚从封装两侧引出，封装材料有塑料和陶瓷两种。DIP是普及的插装型封装，应用范围包括标准逻辑IC，存贮器LSI，微机电路等。引脚中心距2.54mm，引脚数从6到64。封装宽度通常为15.2mm。有的把宽度为7.52mm和10.16mm的封装分别称为skinnyDIP和slimDIP(窄体型DIP)。但多数情况下并不加区分，只简单地统称为DIP。

Cerdip——用玻璃密封的陶瓷双列直插式封装，用于ECLRAM，DSP(数字信号处理器)等电路。引脚中心距2.54mm，引脚数从8到42。在日本，此封装表示为DIP-G(G即玻璃密封的意思)。

DIC——陶瓷DIP(含玻璃密封)的别称DIL——DIP的别称，欧洲半导体厂家多用此名称。

SDIP——收缩型DIP。插装型封装之一，形状与DIP相同，但引脚中心距(1.778mm)小于DIP(2.54mm)，因而得此称呼。引脚数从14到90。也有称为SH-DIP的。材料有陶瓷和塑料两种。

SK-DIP——DIP的一种。指宽度为7.62mm、引脚中心距为2.54mm的窄体DIP。通常统称为DIP。

SL-DIP——DIP的一种。指宽度为10.16mm，引脚中心距为2.54mm的窄体DIP。通常统称为DIP。

生产流程方面的测试

如从生产流程方面的测试讲，IC测试一般又分为芯片测试、成品测试和检验测试，除非特别需要，芯片测试一般只进行直流测试，而成品测试既可以有交流测试，也可以有直流测试，在更多的情况下，这两种测试都有。在一条量产的生产线上，检验测试尤为重要，它一般进行和成品测试一样的内容，它是**用户对即将入库的成品进行检验，体现了对实物质量以及制造部门工作质量的监督。

模拟电路的测试

就模拟电路的测试而言，IC测试一般又分为以下两类测试，其一是直流特性测试，主要包括端子电压特性、端子电流特性等；其二是交流特性测试，这些交流特性和该电路完成的特定功能密切有关，比如一块音频功放电路，其增益指标、输出功率、失真指标等都是很重要的参数；色处理电路中色解码部分的色差信号输出，色相位等参数也是很重要的交流测试项目。 为广大客户群体提供芯片烧录测试、代工烧录、Memory高低温设备系统、激光印字，包装转换、烘烤、等服务。

在线烧录是什么意思？主要用在哪一方面？

在线烧录:此方式在SMT生产过程中通常被叫做-先焊后烧。是指将未烧录的芯片先焊接在产品PCB上，然后通过PCB预留的连接器或接口，将下载调试工具连接到芯片本身的各种通讯接口，如USB、SWD、JTAG、UART等,运行**的软件，将数据烧录到IC中。这种方式受限于接口本身的性能，烧录速度有快有慢，如果使用的是SWD或者JTAG方式，烧录速度与离线差不多，如果是通过UART之类的，受频率影响，烧录速度相对较慢。在线烧录受设备功能和烧录方式的影响，单位时间产能低，追求产能时只能靠增加人力来完成，适合试验阶段或小批量的生产。 OPS用芯的服务以其专业性、创新性和共赢性，赢得了广大企业的好评和信赖。温江区IC测烧服务

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IC测试治具中的探针主要起到了什么作用呢？

IC测试治具的测试针是用于测试PCBA的一种探针。表面镀金，内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。材质主要有W、ReW、CU、A+等几种类型。W，ReW弹性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨损损针长，寿命一般。而A+材质的免清针，这种材质弹性较好，测试中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此寿命较长。IC测试治具的探针主要用于PCB板测试，主要可分为弹簧针(针)和通用针。

弹簧针在使用时，需要根据IC测试治具所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，一个模具只能测试一种PCB板；通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装的芯片测试。 普陀区IC测烧参考价格