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IC测烧基本参数
  • 品牌
  • 优普士电子
  • 型号
  • IC芯片
  • 封装形式
  • 多种,TSOP,PLCC,SOP/SOIC,QFP/PFP,TQFP,CSP,QFP,BGA
IC测烧企业商机

功能测试、延迟测试、参数测试的定义及作用

Function Test(功能测试)芯片在生产制造过程中会引入各种故障,通常会引起功能的失效。这些失效包括Stuck-atFault,OpenFault,BridgeFault等。这些故障通常可以基于芯片设计时插入的ScanChain,用ATPG(对于memory用mbist方法,对于Flash按照vendor的测试方法设计bist)产生测试Pattern进行筛选测试,从而剔除有功能故障的芯片。

DelayTest(延迟测试):除了功能故障之外,先进工艺的芯片还会有时序故障。Delay test的目的是剔除有Timing related defect 的芯片(即时序不满足要求的芯片)。基于Scan-at-speed的策略使用Launch from capture 和Lanuch from shift的方法来实现at-speed测试。在设计层面需要在Scan模式下利用on-chip PLL提供at-speed模式需要的高速工作时钟。 烧录机是一种量产式的芯片程序烧录生产设备。阳江IC测烧批量价格

Parameter Test(参数测试):除了基于功能和时序的测试,还需要进行基于电流、电压的测试来筛选掉一些“顽固”的芯片。通过IDDQ测试,剔除静态电流不符合规范的芯片,通过Very Low Voltage test可以更容易发现时序不满足的芯片,通过Stress test(高压高温)加速芯片的寿命更容易剔除gate oxide 失效。

代客IC测烧流程:

1.确认客户需求:确认客户的IC种类.,包装,数量及要求服务项目;若为尚未支援的新IC,则请工程师申请升级。

2.报价:按烧录时间表长短及服务项目多少计价;若需特殊治具的客制IC,则费用另计。

3.确定烧录样品:由客户提供样品,烧录程序及CHECKSUM;送还试烧样品,供客户验证及确认。

4.订购单:将客户的订单详情输入电脑订单系统。

5.生产安排:生产部门根据要求安排设备和人力;将烧录容量比较好化以缩短交货时间。

6.进料:确定来料种类,数量正确。

7.烧录测试:大量烧录前再次确定机器设定及烧录内容正确性;烧录品质及良率控制;烧录内容保密控制。

8.烧录QA:QA人员检验烧录程序正确性及有否弯脚,混料。

9.按客户要求的材料,方法包装成品。

10.外观QA:就打印,混料,弯脚以及包装材料,包装方法做外观检查。

11.出货:准备出库单,送货单及收据;确保将正确的产品和数量及时运交给客户。 阳江IC测烧批量价格芯片烧录测试优普士电子为客户提供好品质,高效率的烧录测试服务以及完整的烧录测试方案。

代客烧录服务优势

1、拥有本行业经验丰富的工程师并保证IC代烧的稳定。

2、烧录设备齐全,可代工超难、超偏的IC。

3、品质管控严格:严格的流程化管理,良率十分高。

4、产能高:采用自动IC烧录机,公司拥有配套齐全的烧录机台共计500多台,能提供批量快速服务。

5、交货速度快:提供快速送货服务。

6、IC上板后出现不明故障,可配合厂商作不良分析。

优普士电子(深圳)有限公司是崇碁集团之大陆分公司,为广大客户群体提供FT测试、IC烧录、lasermarking、编带、烘烤、视觉检测(WLCSP\BGA\LQFP)等半导体芯片后段整合的一站式业务,欢迎你的咨询。

IC产品可靠性等级测试有哪几种?

1、TCT:高低温循环试验(TemperatureCyclingTest)

目的:评估IC产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率。方法是通过循环流动的空气从高温到低温重复变化。

测试条件:

ConditionB:-55℃to125℃

ConditionC:-65℃to150℃

失效机制:电介质的断裂,导体和绝缘体的断裂,不同界面的分层

2、TST:高低温冲击试验(ThermalShockTest)

目的:评估IC产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率。

方法是通过循环流动的液体从高温到低温重复变化。

测试条件:

ConditionB:-55℃to125℃

ConditionC:-65℃to150℃

失效机制:电介质的断裂,材料的老化(如bondwires),导体机械变形

3、HTST:高温储存试验(HighTemperatureStorageLifeTest)

目的:评估IC产品在实际使用之前在高温条件下保持几年不工作条件下的生命时间。

测试条件:150℃

失效机制:化学和扩散效应,Au-Al共金效应

4、可焊性试验(SolderabilityTest)

目的:评估ICleads在粘锡过程中的可靠度测试

方法:Step1:蒸汽老化8小时Step2:浸入245℃锡盆中5秒失效标准(FailureCriterion):至少95%良率

专业芯片烧录测试加工厂,生产售后无忧,服务好,您的满意之选,找我们就对了!

芯片测试机的技术难点:

1、随着集成电路应用越趋于火热,需求量越来越大,对测试成本要求越来越高,因此对测试机的测试速度要求越来越高(如源的响应速度要求达到微秒级);

2、由于集成电路参数项目越来越多,如电压、电流、时间、温度、电阻、电容、频率、脉宽、占空比等,对测试机功能模块的需求越来越多;

3、状态、测试参数监控、生产质量数据分析等方面,结合大数据的应用,对测试机的数据存储、采集、分析方面提出了较高的要求。

4、客户对集成电路测试精度要求越来越高(微伏、微安级精度),如对测试机钳位精度要求从1%提升至0.25%、时间测量精度提高到微秒级,对测试机测试精度要求越趋严格;

5、集成电路产品门类的增加,要求测试设备具备通用化软件开发平台,方便客户进行二次应用程序开发,以适应不同产品的测试需求 优普士电子(深圳)有限公司提供专业的芯片烧录、测试方案,具体咨询请联系我们。揭阳IC测烧报价

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什么是封装测试?

在晶圆测试后,将好的芯片在晶圆上标记出来(又叫bluetape),然后切割成一个一个单独的芯片,将这些一个一个的芯片封装成黑盒子,也就是这个样子。然后我们将封装好的芯片,分别装进ICsocket中,然后再将socket装进一个board中,其中,这又涉及到一些新概念。

首先我们要知道,在FT测试中是不需要probecard的。那该怎么测试呢?在封装完之后得到上面图形的芯片。可以看到,上面有很多银色的金属引脚,这个时候用CP端的probecard肯定是不行了,比较好的办法就是找一个IC插座,懂行的也称之为IC测试座,将这些带引脚的芯片放在IC测试座子里,然后给插座供电就可以测试了啊,这个插座就叫做Icsocket,所以直接在socket上加电压,电流就可以了。

到这里还有一个问题,就是这样一个一个测试太慢了,比较好是把这些socket都放在一起。然后测试效率就有效升高。所以我们把这些socket都放在一个板子上,这个板子就叫做board。那socket和board是什么关系呢?在测试的时候,将board放到测试机台上,测试机台将需要的电压电流加到board上的接口,然后再通过board上的电路,将这些电压电流加到socket上,socket再把电压电流加到芯片上。这就是FT测试的大概流程。 阳江IC测烧批量价格

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