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测试分选机基本参数
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    多个烧录结构使得一个工作人员可以同时操作多个i芯片的烧录过程,实现多工位操作,提高了设备的工作效率,降低了企业的生产成本。为了使的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具实施例用以解释,并不用于限定。以下结合具实施例对的实现进行详细的描述。本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件;在的描述中,需要理解的是,若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,是为了便于描述和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此附图中描述位置关系的用语用于示例性说明,不能理解为对本的限制,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具情况理解上述术语的具含义。参照图-所示,为提供的较佳实施例。本实施例提供的多工位i芯片烧录设备,用于解决i芯片烧录设备生产效率低下的问题。多工位i芯片烧录设备包括扫码结构、多个烧录结构和基座,扫码结构用于扫描i芯片的二维码信息。沿基座的长度方向,多个烧录结构依次排列,基座包括底座、龙门焊件和第二龙门焊件。自动测试分选机前景找金创图。惠州高速测试分选机厂家

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    测试分选机的支架的从后侧观察的立体。测试分选机的第二支架的从后面观察的立体。和是示出了接合槽的修改的视。是示出了从前侧观察的球塞的视。是示意性地示出了从侧面观察的球塞的视。至是解释根据所示的一个实施方式如何将下匹配板安装到测试分选机中的视。是示出了根据所示的一个实施方式的测试分选机的压板的从前侧观察的视。是用于解释根据所示的一个实施方式的测试分选机中轴与压板的连接结构的视。是根据另一个实施方式的测试分选机的推动装置的侧视。是示出了根据所示的另一个实施方式的测试分选机的锁定模块的立体。是示意性地示出了根据另一实施方式的测试分选机的推动装置的主视。具体实施方式通过以下连同附给出的、对示例性实施方式的描述,本公开的优点和特征以及实现这些优点和特征的方法将变得显而易见。将具体地描述示例性实施方式,以使得本领域技术人员可容易地实施发明构思。然而,应注意的是,这些示例性实施方式在任何方式均不旨在为限制性的,并且可进行各种修改而不脱离本公开的技术概念。本发明构思的范围将由以下权利要求限定,而不是由对示例性实施方式的具体描述来限定。北京ic测试分选机好处全自动测试分选机的作用以及市场价值!

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    锁紧段与轴承段呈垂直固定布置,下板块具有与上板块的后端面呈平齐布置的后平面,锁紧段固定在下板块的后平面,螺纹段与轴承段呈正对布置,螺纹段具有朝向轴承段的螺纹面,螺纹段的螺纹面背离轴承段凹陷形成螺纹槽,螺纹槽具有朝内的内端面,螺纹槽的内端面形成螺纹,轴承段具有朝向螺纹段的轴承面,轴承段的轴承面具有贯穿轴承段的通孔,通孔设有轴承,轴承包括内圈和外圈,外圈固定在通孔上,内圈与外圈呈转动连接,转动杆的一端与螺纹槽呈螺纹连接,且在螺纹槽内沿方向移动,另一端与内圈呈固定布置,且穿过内圈延伸形成转动手柄。转动杆的一端与螺纹槽呈螺纹连接,且在螺纹槽内沿方向移动,另一端与内圈呈固定布置,且穿过内圈延伸形成转动手柄,通过转动转动手柄,转动杆在螺纹槽内相对螺纹座在方向上移动,带动承接座移动,由于承接座与下板块呈固定布置,因此下板块在方向上移动,进而实现优力胶压头在方向上的移动。轴微调件包括第二螺纹座、第二承接座和第二转动杆,第二螺纹座包括第二固定段和第二螺纹段,第二固定段与第二螺纹段呈垂直固定布置,上板块具有与后端面相邻的侧端面,第二固定段固定在上板块的侧端面。第二承接座包括第二锁紧段和第二轴承段。

    滑动件的前端面形成贯穿滑动件的螺纹通孔。深圳市金创图电子设备有限公司是一家集研发、销售、生产和服务于一体的电子制造领域的自动化设备制造企业,工厂面各10000平方,公司主要生产IC烧录机/测试机,在烧录测试领域10多年的丰富经验,公司主要产品有全自动KA3000机型、KA2000机型、KU4000机型、1213D机型、KA42-2000机型等,在知识产权方面,已经取得了多项国家专利技术证书。公司自主研发,走品牌路线的企业发展模式,坚持已客户和市场需求为导向,围绕客户和市场需求持续改善,合作共赢。拓展APP+物联网,设备租赁等模式,实现客户、团队和个人的共同发展。调节手柄嵌入螺纹通孔且与滑动件呈螺纹连接。当调节手柄拧紧并抵接导轨时,滑动件与导轨呈相对固定布置。,调节模块包括l型板、丝杆和移动块,l型板呈固定布置,l型板具有呈垂直固定布置的长板和短板,长板具有处于l型板内侧的内端面,长板的内端面上形成移动滑轨,移动块与移动滑轨呈相嵌布置且沿移动滑轨滑动,短板上形成短板通孔,短板通孔上固定有轴承,丝杠的一端与移动块呈螺纹连接,另一端与轴承固定连接且穿过轴承沿背离轴承的方向延伸形成旋钮;沿方向布置的调节模块的l型板与固定板呈固定布置。全自动测试分选机日保养和周保养找金创图。

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    本发明涉及测试分选机。背景技术:测试分选机是支持对通过预定制造工艺制造的、诸如半导体装置的电子部件的测试、根据测试结果按等级分类电子部件、以及将电子部件安装在用户盘上的装置。和是示出了典型的测试分选机的立体和平面。参照和,测试分选机可包括加载装置、浸泡室、测试室、去浸泡室和卸载装置。在测试盘和中提供了可安置电子部件的多个插入件。测试盘和可通过多个传送装置(未示出)沿预定封闭路线循环。加载装置能够在加载位置将安装在用户盘上的未测试的电子部件加载到测试盘和中。由于可能在不同的温度环境下使用电子部件,所以有必要确定该电子部件是否在具体温度环境下良好工作。在进行测试之前,可在浸泡室中对安装在测试盘和上的电子部件进行预加热或预冷却。经由浸泡室传送至测试位置并安装在测试盘和上的电子部件可在测试室中进行测试。具体地,安装在测试盘和上的电子部件可由推动装置朝向测试器推动。电子部件和测试器可通过其接触或接合彼此电连接。在该状态下,可对电子部件执行测试。推动装置可包括与测试盘和匹配的匹配板以及用于朝测试盘和移动匹配板的配置。在匹配板的每个中都以矩阵案设置有多个推动器。三合一的测试分选机要找金创图电子。宁波半导体测试分选机好处

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    根据将在以下描述的实施方式的测试分选机的加载装置、测试室和卸载装置与以上参照和描述的测试分选机的加载装置、测试室和卸载装置相同。因此,将省略对前述配置的描述。将详细描述推动装置。作为参考,在附中,x和-x方向可表示水平方向,y和-y方向可表示竖直方向,并且z方向可表示前向方向,而-z方向可表示后向方向。另外,x方向和-x方向可分别表示一个侧方向和另一个侧方向。推动装置可向前(在z方向上)推动安装在测试盘上的电子部件,以使得电子部件与定位在测试盘的前方的测试器紧密接触,其中,该测试盘定位在推动装置的前方(定位在与推动装置在z方向上间隔开的点处)。是根据一个实施方式的、测试分选机的推动装置的、从前侧观察的立体。、测试分选机的推动装置的、从后侧观察的立体。、测试分选机的推动装置的分解立体。、测试分选机的推动装置的主视。、测试分选机的推动装置的侧视。如至所示,压板可定位在匹配板和匹配板以及推动器的后方。压板可将从后面接收的压力传递至匹配板和匹配板和/或推动器,并且可使推动器与安装在测试盘上的电子部件接触。虽然没有在附中示出,然而在压板的后侧可设置有移动主体(例如,致动器)。移动主体可通过多个轴和连接至压板。惠州高速测试分选机厂家

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