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光轴测量仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM系列
  • 类型
  • 光学测量仪
  • 规格
  • PLM系列
  • 产地
  • 江苏
光轴测量仪企业商机

主要精度数据:

测试对象:偏光片,相位差膜,光学膜

测试项目:偏光度,透过率(单体/平行/直交),色度,相位差(R0/RTH),轴角度,吸收轴角度,消光比

注:测试可选择高精度模式和快速模式

整机尺寸:根据客户样品尺寸定制

对应样品尺寸:可定制

测试光斑:约5mm

轴角度测量范围:0°~180°

偏光度

重复性 :3σ≦0.001%

可实现指定波长透过率测量

轴角度精度:±0.05°(高精度模式)

测量重复性:0.02°    (高精度模式)

相位差测亮范围:0~20000nm  

相位差重复性精度:3σ≦0.1nm;

测量波段:400nm~800nm

倾斜旋转台规格:傾斜角度范围:-60°~+60°**小角度:0.1°

旋转角度范围:-180°~+180°

旋转**小角度:0.1° 测量波段:550nm单波段(可根据客户要求定制波段)。桂林光轴测量仪供应商家

来间接的测定信号传播的时间,从而求得被测距离的。因此,信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等,虽然方法简单,但测量精度较低;第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高;第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高、功能更全。同时,各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差,即网络相移的测量。芜湖离型膜夹角光轴测量仪狹缝:可 选择狭缝宽度(25um、 50um、100um、 200um )。

相位差测量仪主要是由锁相环产生360倍频基准信号和移相网络的基准信号与待测信号进行异或后的信号作为显示器的闸门电路和控制信号。频率测量模块主要是用计数法测量频率的,它是有某个已知

标准时间间隔Ts内,测出被测信号重复出现的次数N,然后计算出频率f=N/Ts.显示电路模块主要是由计数器、锁存器、译码器和数码管组成。

相位差测试仪是工业领域中是经常用到的一般测量工具,比如在电力系统中电网并网合闸时,需要两电网的电信号相同,这就需要精确的测量两工频信号之间的相位差。

相位是关于一个波,特定的时刻在它循环中的方位:-种它是否在波峰、波谷或它们之间的某点的标度。相位描绘信号波形改动的衡量,通常以度(视点)作为单位,也称作相角。当信号波形以周期的办法改动,波形循环一周即为360°。相位常应用在科学领域,如数学、物理学等。例如:在函数y=Acos(∞x+φ)中,Wx+中称为相位。在astrolog32中点击ALTIFT+A可以显示相位设定菜单。在沟通电中,相位是反映沟通电任何时刻的情况的物理量。沟通电的大小和方向是随时刻改动的。比方正弦沟通电流,它的公式是i=Isin2Tft。i是沟通电流的瞬时值,I是沟通电流的比较大值,f是沟通电的频率,t是时刻。跟着时刻的推移,沟通电流可以从零变到比较大值,从比较大值变到零,又从零变到负的比较大值,从负的比较大值变到零。在三角函数中2Jft相当于弧度,它反映了沟通电任何时刻地点的情况,是在增大仍是在减小,是正的仍是负的等等。因而把2兀ft叫做相位,或许叫做相。专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。

相位差测量仪PLM-100系列 测试误区 配向角(取向角)是指轴角吗? 否。 配向角是轴角在垂直方向的投影。当水平放置样品时,配向角=轴角。当样品倾斜时,配向角会随着样品的翻转而变化,所以在测量配向角时候,需要知道样品与水平面的夹角。 设备主要运用于:其他光学材料、盖板玻璃、双折射材料、离型膜、补偿膜、偏光片 *已通过中国计量用标准片数据匹配。 *傅里叶变换解析偏振光,数据可靠稳定 *可溯源性:可提供计量检测报告 *专业性:光学博士团队合力研发,追求国产替代。 *精心打造的每一台设备出货前都会用国家i级计量标准片进行校验 *打破国外垄断轴角度测量范围:0°~180° 数据输出:电脑连接,轴角度精度:±0.05°。芜湖离型膜夹角光轴测量仪

轴角度精度:±0.05°(精度业内比较高)。桂林光轴测量仪供应商家

光谱仪参数

探测器类型:                   HAMATSU光电二极管阵列

像素点:                              2048

光栅:                          全息平场凹面衍射光栅

狭缝:        可选择狭缝宽度(25um、50um、100um、200um)

光谱范围:                        VIS:400--800nm

UV-VIS:190--800nm

光学分辨率:                     VIS:1.5nm(100um狭缝)

UV-VIS:1.5nm(100um狭缝)

波长精度:                             ±0.2nm

光谱杂散光:                             <0.05%(400nm)

信噪比:                               2000:1

AD分辨率:                             16bit

积分时间:                            0.1ms--60s

供电:                                 5V/220mA

通讯接口:                          USB2.0(480Mbps)

解析多层相位差:相位差(0~20000nm)

吸收轴角度/偏光轴角度

透过率,色度(La、b),偏光度

快轴慢轴角度

单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm~nm为主)

内应力(此功能软件开发中) 桂林光轴测量仪供应商家

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