浙江补偿膜光学膜透过率测试仪设备

相位检测仪器工作原理 数字相位计一般采用相位-电压转换法的相位差数字化测量方法.它测量的是同频信号的相位差，相位差为φ的两个同频信号U1(t)和 U2(t)分别经过各自的衰减电路被衰减成为振幅在0.6V到2.0V的基准电压，然后送至相应的整形电路整形为方波，此时对称调整电路会对这两 个信号进行对称调整，使得测量结果更准确，这样就得到了两个同频方波信号，再经过鉴相脉冲电路得到一个随相位差变化而变化的脉冲信号 △t.相位差的数字化是采用填充计数法实现的，即用周期为τ的脉冲分别对△t和T进行计数，则相位 差:φ=△tTX360° =n1 Tn2τ X360° =n1n2X360°式子中T为两个被测信号的周期，n1为△t时间内所填充的脉冲个数, n2为T时 间内所填充的 脉冲个数。由于不同的信号电压大小不同，所以他们需要进入不同的衰减电路,才能保证整个电路的安全和测量的准确性,这就需要一个精确 的自动换程电路.而后续的信号处理需要--个幅值稳定在-一个范围内的基准信号，这就需要通过衰减器来实现.*已通过中国计量用标准片数据匹配。浙江补偿膜光学膜透过率测试仪设备

一种长的起偏振片，包括至少一个偏振薄膜，所述薄膜具有：偏振性能；和与纵向既不平行也不垂直的吸收轴，其中所述长的起偏振片在550nm下具有80%或更大的偏振度，在550ran下具有35%或更大的单片透射比，具有1m或更长的纵向长度，并且所述长的起偏振片为卷状，具有3圈或更多圈。一种长的起偏振片，包括至少一个偏振薄膜，所述薄膜具有：偏振性能；和与纵向既不平行也不垂直的吸收轴，其中所述长的起偏振片在550nm下具有80%或更大的偏振度，在550nm下具有35%或更大的单片透射比，并且与所述长的起偏振片的纵向垂直的工作宽度是650nm或更大。广西补偿膜光学膜透过率测试仪销售厂家高精度轴角度相位差透过率，色度(La、 b)，偏光度。

专业性：光学博士团队合力研发，追求国产替代。 精心打造的每一台设备出货前都会用**i级计量标准片进行校验 打破国外垄断 主要精度数据： 整机尺寸：根据客户样品尺寸定制； 对应样品尺寸：可定；制 轴角度测量范围：0°~180°； 数据输出：电脑连接； 轴角度精度：±0.05°（精度业内*高）； 测量重复性：0.02° （精度业内*高）； 相位差重复性精度：３σ≦０．１nm； 测量波段：550nm单波段（可根据客户要求定制波段）可升级为380nm~780nm。

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相位测量技术的研讨由来已久，**早的研讨和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部分、机械部分、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到注重和展开。跟着电子技术和计算机技术的展开，相位测量技术得到了灵敏的展开，现在相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较老练，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测:量技术的展开可分为三个阶段:***阶段是在前期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等，虽然方法简略，但测量精度较低;第二阶段是运用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、 DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高;第三阶段是充分运用计算机及智能化虚拟测量技术，然后**简化规划程序，增强功用，使得相应的产品精度更高、功用更全。一起，各种新的算法也随之出现。相位差测试仪：拉伸膜相位差测试仪 。广东离型膜光学膜透过率测试仪技术参数

测试仪有：日本大冢相位差测试仪。浙江补偿膜光学膜透过率测试仪设备

PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，三次元折射率，相位差R0/Rth（0~20000nm）,透过率，色度，偏光度。浙江补偿膜光学膜透过率测试仪设备