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光学膜透过率测试仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM-10S
  • 类型
  • 光学测量仪
  • 规格
  • PLM-10S
光学膜透过率测试仪企业商机

相位测量技术的研究由来已久。**早的研究和应用领域是数学矢量分析、物理圆周运动和振动。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展。目前,相位测量技术更加完善,测量方法和理论更加成熟,相位测量仪器已经实现了系列化和商品化。一种现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***阶段是早期的阻抗法、和差法、三电压法、对比法和平衡法。虽然方法简单,但测量精度较低,第二阶段是数字化,第三阶段是充分利用计算机和智能虚拟测量技术,使设计过程**简化,功能增强,使相应的产品更加精确和实用。同时,各种新的算法也出现了。精心打造的每一-台设备出货前都会用**计量标准片进行校验。湖北离型膜夹角光学膜透过率测试仪供应商

相位差,物理学概念。两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差,或者叫做相差。这两个频率相同的交流电,可以是两个交流电流,可以是两个交流电压,可以是两个交流电动势,也可以是这三种量中的任何两个。一台高精度相位差测量仪对相位差的测量尤为重要。相位差与相位的关系(1)当j12>0时,称***个正弦量比第二个正弦量的相位越前(或超前)j12;(2)当j12<0时,称***个正弦量比第二个正弦量的相位滞后(或落后)|j12|;(3)当j12=0时,称***个正弦量与第二个正弦量同相,如图7-1(a)所示;(4)当j12=±π或±180°时,称***个正弦量与第二个正弦量反相;贵州AXOSCAN光学膜透过率测试仪定义相位差测试仪:偏光片相位差测试仪。

性能可靠:对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精密测量;高度集成,精度高;参数指标:输入信号波形正弦/三角/梯形波/方波输入阻抗1MΩ相位范围0°to360°or±180°频率范围10Hz~99Hz幅度范围~250V分六个量程,自动选择量程测量精度相位测量精度±1°(典型值正弦波:10Hz-99Hz)相位分辨率°相位重复性±°或更好频率测量精度±频率分辨率幅度精度±幅度分辨率1mV、、环境特性工作温度0℃~+50℃相对湿度≤90%(40℃)存储温度-30℃~+70℃供电电源交流220V±10%,50Hz±5%,功率小于75W机箱尺寸3U,19″标准机箱(上机架)482mm(宽)x370(深)x150mm(高)测相位差原理分析一般测量相位差有如下两种方法:方法1::将两路同频不同相的方波信号异或后得到的脉冲宽度t与方波信号的周期T的比值(占空比),即对应为两信号的相位差,如下所示:异或测量相位差的原理方法2:通过捕获处理后的两通道的方波,就可计算出相位。

能提供固定或可变相移量的无耗二端口网络称为固定或可变移相器。数字处理技术的发展日新月异,随着集成电路技术和软件技术的不断发展和解决复杂问题能力的不断提高,DSP技术的出现使得测量仪器集成度高,稳定性好,测量速度快,精度高,操作简捷,功能也越来越强大。目前,国内相位计生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题,其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由于技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术,因此国内相位测量的水平有着相当大的差距。同时,随着**和科教等领域的发展,迫切需要高精度高性能的相位测量系统,而且在一些特殊工程领域,还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见,为缩小这些差距,对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。推荐产品本文给大家介绍一套较完整的数字高精度相位计,提高相位及频率参数的测量精度,并扩展测相系统功能,该设备具有操作简便、使用方便、安全,由于采用电流耦合、高阻输入方式对轨道电路相位差、相邻区段极**叉进行检查,解决了相邻区段有车占用时极**叉无法检查的问题。相位差测试仪的数据输出:电脑连接。

间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。间接法通常采用三电压表法。一般要求两电压信号有一公共点(设为a点),当分别测出两信号电压Uab、Uca,以及两电压的差值Ubc后,可画出电压三角形。按余弦定理,两信号电压间的相位差当∮很小时,可将Uab或Uca中较大的一个信号电压分压,使分压后两信号的数值相等。整机尺寸:根据客户样品尺寸定制。湖南偏光片贴合角光学膜透过率测试仪

相位差测试仪:离型膜相位差测试仪 。湖北离型膜夹角光学膜透过率测试仪供应商

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