上饶Rth吸收轴角度测试仪

偏光片相位差轴角度测试仪可以测试0-20000nm的相位差范围；零残留相位差测试；高相位差测试；

相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面，随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展，目前相位测量技术已较完善，测量方法及理论也比较成熟，相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发,展可分为三个阶段:***个阶段是早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法和平衡法等，虽方法简单，但测量精度较低，第二阶段是利用数字**电路，微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统，使测量精度得以**提高，第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术，从而**简化设计程序，增强功能，使得相应的产品精度更高，功能更全，同时各种新的算法也随之出现。 测量重复性精度业内比较高。上饶Rth吸收轴角度测试仪

偏光片吸收轴角度测试仪PLM-100P可测试项目：吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等，欢迎各位客户及代理商前来咨询

若我们将一个信号周期看作是 360，则相差的范围就在0°～360°。：两个同频信号之间的移相， 是电子行业继电保护领域中模拟、分析问题的一个重要手段，利用移 相原理可以制作校验各种有关相位的仪器仪表、继电保护装置的信号 源。因此，移相技术有着很广的实用价值。我们知道，将参考信号整 形为方波信号，并以此信号为基准，延时产生另一个同频的方波信号， 再通过波形变换电路将方波信号还原成正弦波信号。以延时的长短来 决定两信号间的相位值。这种处理方式的实质是将延时的时间映射为 信号间的相位值。也就是说，只要能够测量出该延迟时间，我们就可 以推算出其相位差值。 天津偏光片贴合角吸收轴角度测试仪定义高精度轴角度相位差测量仪相位差(0 20000nm)。

相位差测试仪物理学概念：两个频率相同的交流电相位的差叫做相位差，或者叫做相差；偏光片吸收轴角度概念：偏光片的透过率*低的方向叫做吸收轴角度

这两个频率相同的交流电，可以是两个交流电流，可以是两个交流电压，可以是两个交流电动势，也可以是这三种量中的任何两个。一台高精度相位差测量仪对相位差的测量尤为重要。相位差与相位的关系（1）当j12>0时，称***个正弦量比第二个正弦量的相位越前（或超前）j12；（2）当j12<0时，称***个正弦量比第二个正弦量的相位滞后（或落后）|j12|；（3）当j12=0时，称***个正弦量与第二个正弦量同相，如图7-1(a）所示；（4）当j12=±π或±180°时，称***个正弦量与第二个正弦量反相；

偏光片吸收轴角度测试仪工作原理 数字相位计一般采用相位-电压转换法的相位差数字化测量方法.它测量的是同频信号的相位差，相位差为φ的两个同频信号U1(t)和 U2(t)分别经过各自的衰减电路被衰减成为振幅在0.6V到2.0V的基准电压，然后送至相应的整形电路整形为方波，此时对称调整电路会对这两 个信号进行对称调整，使得测量结果更准确，这样就得到了两个同频方波信号

再经过鉴相脉冲电路得到一个随相位差变化而变化的脉冲信号 △t.相位差的数字化是采用填充计数法实现的，即用周期为τ的脉冲分别对△t和T进行计数，则相位 差:φ=△tTX360° =n1 Tn2τ X360° =n1n2X360°式子中T为两个被测信号的周期，n1为△t时间内所填充的脉冲个数, n2为T时 间内所填充的 脉冲个数。由于不同的信号电压大小不同，所以他们需要进入不同的衰减电路,才能保证整个电路的安全和测量的准确性,这就需要一个精确 的自动换程电路.而后续的信号处理需要--个幅值稳定在-一个范围内的基准信号，这就需要通过衰减器来实现. 相位差测试仪：拉伸膜相位差测试仪 。

偏光片吸收轴角度测试仪主要精度数据

测试对象：偏光片，相位差膜，光学膜测试项目：偏光度，透过率(单体/平行/直交)，色度，相位差（R0/RTH），轴角度，吸收轴角度，消光比注：测试可选择高精度模式和快速模式整机尺寸：根据客户样品尺寸定制对应样品尺寸：可定制测试光斑：约5mm轴角度测量范围：0°~180°偏光度重复性：３σ≦０．００１%可实现指定波长透过率测量轴角度精度：±0.05°（高精度模式）测量重复性：0.02°（高精度模式）相位差测亮范围：0~20000nm相位差重复性精度：３σ≦０．１nm；测量波段：400nm~800nm倾斜旋转台规格：傾斜角度范围：－60°～＋60°**小角度：０．１°旋转角度范围：－180°～＋180°旋转**小角度：０．１° 整机尺寸：根据客户样品尺寸定制。上饶Rth吸收轴角度测试仪

整机对应样品皆可定制。上饶Rth吸收轴角度测试仪

目前，国内相位差测量仪生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题，其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术，因此国内相位测量的水平与国外水平有着相当大的差距。由此可见，为缩小这些差距，对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。而苏州千宇精心制造研发的这款偏光片相位差测试仪更是打破了国外垄断，该设备可解析多层相位差，是对等进行高吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。上饶Rth吸收轴角度测试仪