北京离型膜吸收轴角度测试仪用途

偏光片吸收轴角度测试仪主要精度数据

测试对象：偏光片，相位差膜，光学膜测试项目：偏光度，透过率(单体/平行/直交)，色度，相位差（R0/RTH），轴角度，吸收轴角度，消光比注：测试可选择高精度模式和快速模式整机尺寸：根据客户样品尺寸定制对应样品尺寸：可定制测试光斑：约5mm轴角度测量范围：0°~180°偏光度重复性：３σ≦０．００１%可实现指定波长透过率测量轴角度精度：±0.05°（高精度模式）测量重复性：0.02°（高精度模式）相位差测亮范围：0~20000nm相位差重复性精度：３σ≦０．１nm；测量波段：400nm~800nm倾斜旋转台规格：傾斜角度范围：－60°～＋60°**小角度：０．１°旋转角度范围：－180°～＋180°旋转**小角度：０．１° 整机尺寸：根据客户样品尺寸定制。北京离型膜吸收轴角度测试仪用途

PLM-100P是一款可以解析多层相位差，吸收轴角度，轴角度透过率，色度（La、b），偏光度，快轴慢轴角度单波段（550nm为主）/多波段测试（380nm~nm为主）内应力的光学性能检测仪

光谱仪参数探测器类型:HAMATSU光电二极管阵列像素点：2048光栅：全息平场凹面衍射光栅狭缝：可选择狭缝宽度（25um、50um、100um、200um）光谱范围：VIS：400--800nmUV-VIS:190--800nm光学分辨率：VIS：1.5nm（100um狭缝）UV-VIS:1.5nm（100um狭缝）波长精度：±0.2nm光谱杂散光：<0.05%（400nm）信噪比：2000：1AD分辨率：16bit积分时间：0.1ms--60s供电：5V/220mA通讯接口：USB2.0（480Mbps） 北京离型膜吸收轴角度测试仪用途狹缝:可 选择狭缝宽度(25um、 50um、100um、 200um )。

相位差吸收轴角度测试仪PLM系列相关介绍：相位常应用在科学领域，如数学、物理学等。例如：在函数y=Acos(ωx+φ)中，ωx+φ称为相位。在astrolog32中点击ALTIFT+A可以显示相位设定菜单。在交流电中，相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流，它的公式是i=Isin2πft。i是交流电流的瞬时值，I是交流电流的比较大值，f是交流电的频率，t是时间。随着时间的推移，交流电流可以从零变到比较大值，从** 大值变到零，又从零变到负的** 大值，从负的比较大值变到零。在三角函数中2πft相当于弧度，它反映了交流电任何时刻所处的状态，是在增大还是在减小，是正的还是负的等等。因此把2πft叫做相位，或者叫做相。

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PLM-10S是苏州千宇光学精心研发制造的一款吸收轴角度测试仪

相位测量技能是电子技能中进行信息检测的重要方法,在现代科学技能中占有无关宏旨的效果和地位。相位差测试仪是工业领域中是常常用到的一般测量东西，比如在电力体系中电网并网合闸时,需求两电网的电信号相同，这就需求精确的测量两工频信号之间的相位差。更有测量两列同频信号的相位差在研讨网络、体系的频率特性中具有重要意义。相位测量的方法许多，典型的传统方法是经过显示器观测，这种方法过错较大，读数不方便。为此，我们规划了一种数字相位差测量仪，实现了两列信号相位差的主动测量及数显。相位差测试仪应用于电力线路、变电所的相位校验和相序校验，具有核相、测相序、验电等功用。具有很强的抗干扰性，习气各种电磁场干扰场合。被测高电压相位信号由采集器取出，经过处理后直接发射出去。由接纳器接纳并进行相位比较，对核相后的效果定性。 轴角度精度：±0.05°（精度业内比较高）。河南进口吸收轴角度测试仪定义

整机对应样品皆可定制。北京离型膜吸收轴角度测试仪用途

光学膜透过率测试仪PLM-10S：相位调整 相位调整是指在有些**声响箱上加装的一个操控机构。用于对**声响箱所重放出的声响稍许加以推迟，从而让**声响箱的输出能够和前置主音箱同相位，即具有相同的时间联系。 相位噪声 相位噪声是频率域的概念，是对信号时序改变的另-种测量方法，其结果在频率域内显示。如果没有相位噪声，那么振荡器的整个功率都应集中在频率f=fo处。但相位噪声的出现将振荡器的一部分功率扩 展到相邻的频率中去，产生了边带(si deband)。从图2中能够看出，在离中心频率-定合理距离的偏移频率处，边带功率滚降到1/fm，fm是该频率偏离中心频率的差值。 相位噪声通常界说为在某-给定偏移频率处的dBc/Hz值， 其间，dBc是以dB为 单位的该频率处功率与总功率的比值。一个振荡器在某一偏移频率处的相位噪声界说为在该频率处1Hz带宽内的信号功率与信号的总功率比值。北京离型膜吸收轴角度测试仪用途