海南位相差吸收轴角度测试仪设备

偏光片光学膜相位差测量仪PLM-100系列 测试误区 配向角（取向角）是指轴角吗？ 否。 配向角是轴角在垂直方向的投影。当水平放置样品时，配向角=轴角。当样品倾斜时，配向角会随着样品的翻转而变化，所以在测量配向角时候，需要知道样品与水平面的夹角。 设备主要运用于：其他光学材料、盖板玻璃、双折射材料、离型膜、补偿膜、偏光片 *已通过**计量用标准片数据匹配。 *傅里叶变换解析偏振光，数据可靠稳定 *可溯源性：可提供计量检测报告 *专业性：光学博士团队合力研发，追求国产替代。 *精心打造的每一台设备出货前都会用**i级计量标准片进行校验 *打破国外垄断测量重复性精度业内比较高。海南位相差吸收轴角度测试仪设备

偏光片吸收轴角度测试仪工作原理 数字相位计一般采用相位-电压转换法的相位差数字化测量方法.它测量的是同频信号的相位差，相位差为φ的两个同频信号U1(t)和 U2(t)分别经过各自的衰减电路被衰减成为振幅在0.6V到2.0V的基准电压，然后送至相应的整形电路整形为方波，此时对称调整电路会对这两 个信号进行对称调整，使得测量结果更准确，这样就得到了两个同频方波信号

再经过鉴相脉冲电路得到一个随相位差变化而变化的脉冲信号 △t.相位差的数字化是采用填充计数法实现的，即用周期为τ的脉冲分别对△t和T进行计数，则相位 差:φ=△tTX360° =n1 Tn2τ X360° =n1n2X360°式子中T为两个被测信号的周期，n1为△t时间内所填充的脉冲个数, n2为T时 间内所填充的 脉冲个数。由于不同的信号电压大小不同，所以他们需要进入不同的衰减电路,才能保证整个电路的安全和测量的准确性,这就需要一个精确 的自动换程电路.而后续的信号处理需要--个幅值稳定在-一个范围内的基准信号，这就需要通过衰减器来实现. 天津配向膜吸收轴角度测试仪定义相位差测试仪：离型膜相位差测试仪 。

相位差测试仪测试小科普：1.Q：轴角度是吸收轴角度吗？A：否。①吸收轴角度，是指透过光线在某一方向呈现吸收状态（透光率比较低），此光轴跟基准边的夹角。通常同偏光轴（透过轴）垂直相交。②轴角度定义适用于双折射样品（产生相位差的样品），在国际上普遍定义为慢轴与基准边的夹角。2.Q：配向角（取向角）是指轴角吗？A：否。配向角是轴角在垂直方向的投影。当水平放置样品时，配向角=轴角。当样品倾斜时，配向角会随着样品的翻转而变化，所以在测量配向角时候，需要知道样品与水平面的夹角。

偏光片相位差轴角度测试仪PLM-100P优势：性能可靠：对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精密测量；高度集成，精度高；参数指标：输入信号波形正弦/三角/梯形波/方波输入阻抗1MΩ相位范围0°to360°or±180°频率范围10Hz～99Hz幅度范围～250V分六个量程，自动选择量程测量精度相位测量精度±1°（典型值正弦波：10Hz-99Hz）相位分辨率°相位重复性±°或更好频率测量精度±频率分辨率幅度精度±幅度分辨率1mV、、环境特性工作温度0℃～＋50℃相对湿度≤90%（40℃）存储温度-30℃～＋70℃供电电源交流220V±10%，50Hz±5%，功率小于75W机箱尺寸3U，19″标准机箱（上机架）482mm（宽）x370（深）x150mm（高）测相位差原理分析一般测量相位差有如下两种方法：方法1：:将两路同频不同相的方波信号异或后得到的脉冲宽度t与方波信号的周期T的比值（占空比），即对应为两信号的相位差，如下所示：异或测量相位差的原理方法2：通过捕获处理后的两通道的方波，就可计算出相位。单波段(550nm为主)/多波段测试(380nm"nn为主)。

PLM-100P是一款可以解析多层相位差，吸收轴角度，轴角度透过率，色度（La、b），偏光度，快轴慢轴角度单波段（550nm为主）/多波段测试（380nm~nm为主）内应力的光学性能检测仪

光谱仪参数探测器类型:HAMATSU光电二极管阵列像素点：2048光栅：全息平场凹面衍射光栅狭缝：可选择狭缝宽度（25um、50um、100um、200um）光谱范围：VIS：400--800nmUV-VIS:190--800nm光学分辨率：VIS：1.5nm（100um狭缝）UV-VIS:1.5nm（100um狭缝）波长精度：±0.2nm光谱杂散光：<0.05%（400nm）信噪比：2000：1AD分辨率：16bit积分时间：0.1ms--60s供电：5V/220mA通讯接口：USB2.0（480Mbps） 测量重复性：0.02° （精度业内比较高）。吉林KOBRA吸收轴角度测试仪用途

测量波段上料方式：手动上料。海南位相差吸收轴角度测试仪设备

接下来给大家介绍一下偏光片吸收轴角度及相位差的概念：数字处理技术的发展日新月异，随着集成电路技术和软件技术的不断发展和解决复杂问题能力的不断提高，DSP技术的出现使得测量仪器集成度高，稳定性好，测量速度快，精度高，操作简捷，功能也越来越强大。目前，国内相位计生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题，其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由于技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术，因此国内相位测量的水平有着相当大的差距。同时，随着**和科教等领域的发展，迫切需要高精度高性能的相位测量系统，而且在一些特殊工程领域，还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见，为缩小这些差距，对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。海南位相差吸收轴角度测试仪设备