相位调整 相位调整是指在有些**声响箱上加装的一个操控机构。用于对**声响箱所重放出的声响稍许加以推迟,从而让**声响箱的输出能够和前置主音箱同相位,即具有相同的时间联系。 相位噪声 相位噪声是频率域的概念,是对信号时序改变的另-种测量方法,其结果在频率域内显示。如果没有相位噪声,那么振荡器的整个功率都应集中在频率f=fo处。但相位噪声的出现将振荡器的一部分功率扩 展到相邻的频率中去,产生了边带(si deband)。从图2中能够看出,在离中心频率-定合理距离的偏移频率处,边带功率滚降到1/fm,fm是该频率偏离中心频率的差值。 相位噪声通常界说为在某-给定偏移频率处的dBc/Hz值, 其间,dBc是以dB为 单位的该频率处功率与总功率的比值。一个振荡器在某一偏移频率处的相位噪声界说为在该频率处1Hz带宽内的信号功率与信号的总功率比值。相位差测试仪:离型膜相位差测试仪 。常州光学膜光轴测量仪
相位测量技术的研究由来已久。**早的研究和应用领域是数学矢量分析、物理圆周运动和振动。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展。目前,相位测量技术更加完善,测量方法和理论更加成熟,相位测量仪器已经实现了系列化和商品化。一种现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***阶段是早期的阻抗法、和差法、三电压法、对比法和平衡法。虽然方法简单,但测量精度较低,第二阶段是数字化,第三阶段是充分利用计算机和智能虚拟测量技术,使设计过程**简化,功能增强,使相应的产品更加精确和实用。同时,各种新的算法也出现了。
温州光学膜光轴测量仪相位差测试仪:KOBRA相位差测试仪。
主要精度数据:
测试对象:偏光片,相位差膜,光学膜
测试项目:偏光度,透过率(单体/平行/直交),色度,相位差(R0/RTH),轴角度,吸收轴角度,消光比
注:测试可选择高精度模式和快速模式
整机尺寸:根据客户样品尺寸定制
对应样品尺寸:可定制
测试光斑:约5mm
轴角度测量范围:0°~180°
偏光度
重复性 :3σ≦0.001%
可实现指定波长透过率测量
轴角度精度:±0.05°(高精度模式)
测量重复性:0.02° (高精度模式)
相位差测亮范围:0~20000nm
相位差重复性精度:3σ≦0.1nm;
测量波段:400nm~800nm
倾斜旋转台规格:傾斜角度范围:-60°~+60°**小角度:0.1°
旋转角度范围:-180°~+180°
旋转**小角度:0.1°
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概述 相位差测量仪操作简洁、使用方便、安全,由于采用电流耦合、高阻输入方式对轨道电路相位差、相邻区段极**叉进行查看,处理了相邻区段有车占用时极**叉无法查看的问题。 功用 1) 对正弦/三角/梯形波/方波的相位差进行精细丈量。 特点 a)高度集成,精度高; b)稳定性好,功能牢靠; 典型使用 1)相控雷达阵、无线电导航系统、自动控制系统的测距和定位,电力系统中相电压的相位差丈量等; 2) 适用于25Hz相敏轨道电路设备的电压、电流和频率、相位差的检测。测量波段上料方式:手动上料。镇江光轴测量仪供应商
公司主要的经营范围为光电材料、电子科技、软件科技领域内的技术开发。常州光学膜光轴测量仪
来间接的测定信号传播的时间,从而求得被测距离的。因此,信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等,虽然方法简单,但测量精度较低;第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高;第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高、功能更全。同时,各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差,即网络相移的测量。常州光学膜光轴测量仪