太赫兹源美国TeraSense IPATT sub-太赫兹发生器,产生频率范围80-11GHz,可定制频率输出,输出功率可达10mW,专注客户解决方案。详情介绍
TeraSense IPATT sub- 太赫兹发生器,产生频率:100GHz输出功率80mW,140GHz输出功率30mW,专注客户方案解决。
美国TERASENSE公司研发太赫兹、亚太赫兹成像系统及器件,利用技术生产半导体材料的室温工作太赫兹波探测器,高功率太赫兹发生器。
可根据客户需求定制快速的太赫兹成像系统。
TERASENSE公司提供高功率IMPATT DIODE太赫兹源,
可输出100GHz和140GHz,输出功率是80mw和30mw。
窄线宽<1MHz,
使用寿命1000小时
可选配TTL调制模块
调制上升沿时间1us PONY谱尼测试具有CNAS,CMA资质的专业第三方光功率计量校准实验室,光功率计量校.手持荧光光谱仪 钢研纳克
LIBS元素分析仪LEA-S500 是一款结合了现代光学、激光、光谱和软件等领域的科技而成的强有力的工具,它能在几分钟内检测样品中的所含的化学成分。详情介绍
产品特点:20Hz双激光脉冲激发175nm-850nm高量子效率CCD探测器系统含抽气装置,优化175-193nm波段范围较低检测限可达0.1ppm5分钟内能定量分析50种元素样品全部元素定量分析在3至30分钟内即可完成可分析任何固体或粉末状材料较小雾化质量(元素分析消耗量)小于50纳克
产品功能:
较少的样品消耗即可测得样品的化学元素或氧化物质量分数(浓度)快速的多元素分析功能,一次测试即可获得样品的全部元素分析数据很宽的浓度范围内都可以获得高灵敏度及准确的数据无需改变样品的状态即可测试通过位置及系统对样品表面指定区域进行分析可以对腐蚀物、薄膜、沉积物、表面进行逐层分析可以对夹杂物、缺点、瑕疵分析 原子吸收光谱仪标准溶液配制光谱测试仪器的测试原理。
光束质量分析仪
法国FemtoEasy公司的Beam Pro系列光束分析仪拥有用户友好型软件, 可提供分析和数据统计。详情介绍
该产品使用标准通信协议,适用于复杂的应用,部分Beam Pro可通过网络进行远程控制。它适用于190-1100nm波长,光束直径测量可达11mm。Beam Pro还提供用于测量聚焦光束,像素小至2.2μm的分辨率型号。
紧凑设计;
可见光和紫外波长可选;
内置中性密度滤光片;
C接口(提供CS或SM1适配器);
提供自定义传感器设计。
东方闪光(北京)光电科技有限公司,是一家光学仪器设备供应商与服务商。致力于将光学仪器设备,结合自身的专业知识与行业经验,引荐给科研和企业用户,提供解决方案。
InGaAs相机-近红外荧光成像
C12741-11是一款在950nm-1700nm近红外波段**冷温度高灵敏度的InGaAs相机。应用于太阳能电池评估、半导体故障分析、LED故障分析、电致荧光和光致荧光近红外波段成像、光通信设备分析、非侵入性体内成像。
详情介绍
1、产品特点:
-在950nm-1700nm近红外波段具有高灵敏度
-70℃冷却,高稳定性,低噪声
-像素高一致性,坏点率低
2、技术参数:
产品型号:C12741-11
像元尺寸:20μm×20μm
分辨率:640×512
工作区域:12.8mm×10.24mm
读出速度:Cameralink模式下7.2fps@640×512
水冷温度:-70度 拉曼激光器,单频光纤激光器,光电探测器,价格优惠,功能齐全,产品齐全,欢迎您的来电咨询。
Channeltron电子倍增器
Channeltron电子倍增器是耐用的正离子和负离子检测器,同样适用于电子和光子。Photonis提供150+种的类型的标准探测器,同时提供定制CEM设计,是做质谱分析较优的选择,安捷伦、布鲁克、PE 等几十家公司都采用Photonis的电子倍增器。
详情介绍
电子倍增器种类:
1. 适用于高压的Spiraltron 电子倍增器,螺旋式结构,让探测器可以在高压下工作,同时也因为螺旋式结构减少了残余气体离子反馈。
2. 高动态范围的Magnum 电子倍增器,基于6通道落选结构,通过6个**通道分配二次电子产生增加了线性输出电流并延长检测器的寿命。
应用:化学分析,质谱,高能物理,RGA,残余气体分析,等离子体分析,电子能谱仪,SEM,FIB,泄露检测器
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荧光寿命/瞬态吸收分析系统
在单光子计数灵敏度下测量光致发光材料从亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命。样品材料包括薄膜、固体、粉末和溶液等。液体样品可以制冷至-196℃
详情介绍
产品特点
产品应用
Quantaurus-Tau系统是一款紧凑型系统,用于快速而简洁地在单光子计数灵敏度下测量光致发光材料从亚纳秒到毫秒范围内的荧光寿命。不同形式的样品材料,包括薄膜、固体、粉末和溶液等均能被分析。液体样品可以被液氮制冷至-196摄氏度(-77K)。
操作非常简单。只需将样品放置到样品室,然后在测量软件上输入几个测量条件参数就可测量荧光寿命和光致发光(PL)谱。典型测量只需一分钟即可获得测量结果。测量软件具有多种测量和分析功能,包括多组分分析和多样品数据对比等。
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