河北大冢LCD-5100高低温光学测试系统

OLED光学测量系统

产品概要

二维色彩分析仪CA-2500采用可媲美人眼视觉效果的XYZ滤镜及高像素CCD ,能够对智能shou机、平板电脑等各种显示屏的亮度分布、色度分布进行准确、高 分辨率的二维测量。使用的**软件充分兼顾易用性,用户通过极简单的操作,就能在短时间内完成从测量到数据分析、评估的全过程,大幅提高了测量效率,可在开发评估、检测等方面发挥重要作用。

主要用途

统一测量多个中小型液晶面板、有机EL面板的亮度、色度分布测量单个大型液晶面板、有机EL面板的亮度、色度分布测量照明范围内的亮度分布，测量各种发光体的亮度、相关色温分布，测量车用仪表的亮度分布。 标准样品尺寸比较大390mmX310m（可接受定制），可选配PMT＋光谱仪自动切换。河北大冢LCD-5100高低温光学测试系统

该机器设备关键由箱体、制冷机组、加温系统软件、气体呼吸系统及其自动控制系统构成。箱体的机壳为采用冷轧板静电喷

塑，內胆采用***304SUS不锈钢板材，尾门正中间设大规模观察窗，并装有观查灯，使客户能够清楚地见到试件的实验状况。外观总体美观大方。隔热层为硬塑聚氨酯聚氨酯发泡再加小量的超细玻璃棉，具备抗压强度高，隔热保温性有好等特性。

环境标准的可重复性每台环境试验设备将会用以相同种类产品的数次试验，而每台被试的工程项目产品也将会在不一样的环境试验设备中开展试验，为了确保相同台产品在相同试验标准所要求的环境试验标准下个人所得试验結果的可比较性，必定规定环境试验设备所出示的环境标准具备可重复性。 河北大冢LCD-5100高低温光学测试系统客户客户样品尺寸可定制高低温腔体，比较大可到1米5，视场角测量比较大可以到80°以上。

利用物质的光谱特征，进行定性、定量及结构分析的方法称为光谱法或光谱分析法。按物质能级跃迁的方向，可分为吸收光谱法（如紫外-可见分光光度法、红外分光光度法、原子吸收分光光度法）及发射光谱法（如原子发射光谱及荧光分光光度法等）。按年能级跃迁类型，可分为电子光谱、振动光谱及转动光谱等类别。按发射或吸收辐射线的波长顺序，分为Y射线、X射线、紫外线、可见及红外光谱法、微波谱法以及电子自旋共振波谱法等。按被测物质对辐射吸收的检测方法的差别（在明背景下检测吸收暗线或是在暗背景下检测共振明线）可分为吸收光谱法与共振波谱法两类。

非接触检测技术的应用在机械制造行业中，为了使机加工的产品能达到设计精度和质量要求，除了传统的物理计量与检测实现方法，可以运用高性能计算机及软件技术、光学、光学成像、声学与机器动作多种混合技术实现的逻辑计量与检测，RETS-100偏光片光学测试，习惯将这些复杂的计量与检测技术称之为非接触计量与检测技术。将这些非接触计量与检测技术应用到为客户定制的计量与检测工具和设备之中，在实际项目中取得了满意的预期效果。

   ORI测试系统是一个模块化的，多功能的测试系统用于 ***的光学系统测试，ORI测试系统支持光学模块一系列重要参数的测试：MTF（轴上，离轴）、分辨率（可见光/近红外镜头）、有效焦距、畸变、渐晕、透过率、后焦距、工作焦距、焦距深度、场曲。支持汇聚镜头与发散镜头头的测试。

   ORI测试系统使用逆成像结构测试光学镜头，也就是说目标发生器模块位于被测试光学镜头的焦面处以作为一套图像投影系统，被测试的镜头生成一个畸变的图像。输出图像的质量可以在一系列不同光谱带宽的电子相机以及专业软件的辅助下进行测试评估。 光电性能检测IVL曲线lift time。

R0偏光片光学测试(推荐商家)产品描述分子信标技术分子信标技术是荧光分析方法在DNA检测领域的又一延伸。分子信标的概念是1996年由Tyagi等提出的。分子信标是一段与特定核酸互补的DNA探针，空间结构上呈“发夹”结构，其中环序列是与靶DNA互补的探针；茎的一端连接上一个荧光分子，另一端连上一个淬灭分子。当靶序列不存在时，分子信标呈“发夹”结构，茎部的荧光分子与淬灭分子非常接近（7～10nm），荧光分子发出的荧光被淬灭分子吸收，此时检测不到荧光信号；当有靶序列存在时，分子信标的环序列与靶序列特异性结合，形成稳定的双链体线性结构，R0偏光片光学测试，此时荧光分子与淬灭分子分开，产生可被检测的荧光信号。

运用高速高精度视觉处理技术自动检测PCB板上各种不同帖装错误及焊自动光学检测接缺点.PCB板的范围可从细间距高密度板到低密度大尺寸板，并可提供在线检测方案，以提高生产效率，及焊接质量 .通过使用AOI作为减少缺点的工具，在装配工艺过程的早期查找和消除错误，以实现良好的过程控制.早期发现缺点将避免将坏板送到随后的装配阶段，AOI将减少修理成本将避免报废不可修理的电路板。 标准样品尺寸比较大390mmX310m，客户客户样品尺寸可定制高低温腔体。青岛大冢LCD-5100光学测试系统

视场角测量比较大可以到80°以上，温控范围-40℃~120℃。河北大冢LCD-5100高低温光学测试系统

标准样品尺寸比较大390mmX310mm (可接受定制)；

客户样品尺寸可定制高低温腔体，比较大可到1米5；

视场角测量比较大可以到80°以上；

温控范围-40°C~120°C；

可选配PMT+光谱仪自动切换；

测试样品跟探测器在同一腔体内部，可形成比较大视场角测量；

可实现多片自动切换连续测量，不需要重新测样的等待时间；

定制进口**高低温腔体尺寸比较大可到1米5；

光纤探头与样品在同一个腔体内，可实现最大化视场角测量；

温度范围: -40°C~120°C；

测试项目:亮度，色度,光谱，视场角，响应时间等。

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