山西离型膜夹角吸收轴角度测试仪特点

PLM-100系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。

一种长的起偏振片，包括至少一个偏振薄膜，所述薄膜具有：偏振性能；和与纵向既不平行也不垂直的吸收轴，其中所述长的起偏振片在550nm下具有80%或更大的偏振度，在550ran下具有35%或更大的单片透射比，具有1m或更长的纵向长度，并且所述长的起偏振片为卷状，具有3圈或更多圈。一种长的起偏振片，包括至少一个偏振薄膜，所述薄膜具有：偏振性能；和与纵向既不平行也不垂直的吸收轴，其中所述长的起偏振片在550nm下具有80%或更大的偏振度，在550nm下具有35%或更大的单片透射比，并且与所述长的起偏振片的纵向垂直的工作宽度是650nm或更大。 精心打造的每一-台设备出货前都会用**计量标准片进行校验。山西离型膜夹角吸收轴角度测试仪特点

PLM-100P是一款可以解析多层相位差，吸收轴角度，轴角度透过率，色度（La、b），偏光度，快轴慢轴角度单波段（550nm为主）/多波段测试（380nm~nm为主）内应力的光学性能检测仪

光谱仪参数探测器类型:HAMATSU光电二极管阵列像素点：2048光栅：全息平场凹面衍射光栅狭缝：可选择狭缝宽度（25um、50um、100um、200um）光谱范围：VIS：400--800nmUV-VIS:190--800nm光学分辨率：VIS：1.5nm（100um狭缝）UV-VIS:1.5nm（100um狭缝）波长精度：±0.2nm光谱杂散光：<0.05%（400nm）信噪比：2000：1AD分辨率：16bit积分时间：0.1ms--60s供电：5V/220mA通讯接口：USB2.0（480Mbps） 补偿膜吸收轴角度测试仪供应商轴角度精度：±0.05°（精度业内比较高）。

PLM-10S偏光片吸收轴角度测试仪 ；一种偏振片，其特征在于，在聚乙烯醇系偏振膜的至少单面上，介由粘合剂层层合有保护膜而成，上述粘合剂层由放射线固化性组合物的固化物形成，所述放射线固化性组合物包含（A）脂环式环氧化合物、（B）至少具有1个羟基且数均分子量为500以上的化合物以及（C）光致酸发生剂。偏振片还要求翘曲少。即，偏振片为了防止液晶单元被紫外线损伤，必须在偏振片使用的保护膜中的一方添加紫外线吸收剂，或者设置紫外线吸收层。因此，在制造偏振片中使粘合剂固化时，实质上只能从未添加紫外线吸收剂的保护膜侧进行光照射，因而呈2层的粘合剂层的照射强度产生差。其结果是，有时层合形成的偏振片产生翘曲而对其后的加工性产生影响。

接下来给大家介绍一下偏光片吸收轴角度及相位差的概念：数字处理技术的发展日新月异，随着集成电路技术和软件技术的不断发展和解决复杂问题能力的不断提高，DSP技术的出现使得测量仪器集成度高，稳定性好，测量速度快，精度高，操作简捷，功能也越来越强大。目前，国内相位计生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题，其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由于技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术，因此国内相位测量的水平有着相当大的差距。同时，随着**和科教等领域的发展，迫切需要高精度高性能的相位测量系统，而且在一些特殊工程领域，还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见，为缩小这些差距，对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。相位差测试仪的数据输出：电脑连接。

偏光片吸收轴角度测试仪PLM-100P可测试项目：吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等，欢迎各位客户及代理商前来咨询

若我们将一个信号周期看作是 360，则相差的范围就在0°～360°。：两个同频信号之间的移相， 是电子行业继电保护领域中模拟、分析问题的一个重要手段，利用移 相原理可以制作校验各种有关相位的仪器仪表、继电保护装置的信号 源。因此，移相技术有着很广的实用价值。我们知道，将参考信号整 形为方波信号，并以此信号为基准，延时产生另一个同频的方波信号， 再通过波形变换电路将方波信号还原成正弦波信号。以延时的长短来 决定两信号间的相位值。这种处理方式的实质是将延时的时间映射为 信号间的相位值。也就是说，只要能够测量出该延迟时间，我们就可 以推算出其相位差值。 对应样品尺寸：可定制，数据输出：电脑连接。北京吸收轴角度测试仪用途

测量波段：550nm单波段，上料方式：手动上料。山西离型膜夹角吸收轴角度测试仪特点

PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差，是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量；是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备；并提供不同型号，供客户进行选配。设备主要运用于：偏光片，盖板玻璃，双折射材料，离型膜，补偿膜，其他光学材料的测试中。可解析多层相位差，主要测试项目包括：吸收轴角度，偏光轴角度，快轴，慢轴角度，波长分散性，三次元折射率，相位差R0/Rth（0~20000nm）,透过率，色度，偏光度。山西离型膜夹角吸收轴角度测试仪特点