企业商机
吸收轴角度测试仪基本参数
  • 品牌
  • 千宇光学科技
  • 型号
  • PLM-10S
吸收轴角度测试仪企业商机

PLM-10S是由苏州千宇光学精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪,该设备由光学博士团队合力研发,追求国产替代,打破进口设备在光学膜、双折射材料行业中相位差测量的20多年垄断。科普一些光学小知识:扩散膜是通过在光学膜片材料上的微细颗粒(beads)实现光的扩散,而增亮膜(棱镜片)是通过在透明光学材料上加工成型微细条纹(光栅)结构进行反射和折射,对光能重新分布。由于表面均匀布满棱形尖锥型的微细结构,提高了光线透过率,增大了亮度和视角。增光膜(棱镜片)的生产工艺包括光学设计、精密模具、化学配方及涂布。国际先进国家的方法就是在加工完的模辊上通过光固化UV胶成型工艺技术,实现微细光学结构的成型工艺。增光膜**关键的技术是在辊筒上雕刻棱形花纹技术。偏光片吸收轴角度、偏振片偏振方向。湖北离型膜吸收轴角度测试仪定义

PLM-100系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差,是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量;是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备;并提供不同型号,供客户进行选配。

一种长的起偏振片,包括至少一个偏振薄膜,所述薄膜具有:偏振性能;和与纵向既不平行也不垂直的吸收轴,其中所述长的起偏振片在550nm下具有80%或更大的偏振度,在550ran下具有35%或更大的单片透射比,具有1m或更长的纵向长度,并且所述长的起偏振片为卷状,具有3圈或更多圈。一种长的起偏振片,包括至少一个偏振薄膜,所述薄膜具有:偏振性能;和与纵向既不平行也不垂直的吸收轴,其中所述长的起偏振片在550nm下具有80%或更大的偏振度,在550nm下具有35%或更大的单片透射比,并且与所述长的起偏振片的纵向垂直的工作宽度是650nm或更大。 山西偏光片吸收轴角度测试仪商家型号PLM-100 技术参数: 主要测试项目:偏光片吸收轴角度、偏振片偏振方向、波片快轴方向。

PLM-100系列测试仪可测试项目及定义

测试项目有:1、吸收轴角度定义:偏光片的透过率*低的方向

2、相位差R0定义:在XY方向光的行进距离会产生差异,平面方向的相位差(R0)

优势:可以测试0-20000nm的相位差范围;零残留相位差测试;高相位差测试

3、相位差Rth定义:厚度方向的相位差

4、波长分散性测试定义:在波长400nm-800nm下相位延迟量的曲线

5、慢轴、快轴角度定义:慢轴(快轴)与基准边的夹角

6、偏光度、色度、透过率(单体、平行、直交)优势:搭载高精密光谱仪,可以兼容测试偏光片的光学特性

关于偏光片吸收轴角度定义科普:来间接的测定信号传播的时间,从而求得被测距离的。因此,信号相位测量的精度也就决定了测距的精度。相位测量技术的研究由来已久,**早的研究和应用是在数学的矢量分析和物理学的圆周运动以及振动学方面,随之在电力部门、机械部门、航空航天、地质勘探、海底资源等方面也相应得到重视和发展。随着电子技术和计算机技术的发展,相位测量技术得到了迅速的发展,目前相位测量技术已较完善,测量方法及理论也比较成熟,相位测量仪器已系列化和商品化。现代相位测量技术的发展可分为三个阶段:***阶段是在早期采用的诸如阻抗法、和/差法、三电压法、比对法和平衡法等,虽然方法简单,但测量精度较低;第二阶段是利用数字**电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等构成测相系统,使测量精度得以**提高;第三阶段是充分利用计算机及智能化虚拟测量技术,从而**简化设计程序,增强功能,使得相应的产品精度更高、功能更全。同时,各种新的算法也随之出现。相位测量是正弦信号经过不同的时间或不同的网络后可以有不同的相位。通常所谓相位测量是指对两个同频率信号之间相位差的测量。**常见的是对网络输入与输出信号的相位差,即网络相移的测量。整机尺寸:根据客户样品尺寸定制。

偏光片吸收轴角度测试仪概念科普: 滞后的相位值都为π的一半,或者说90°.在计算电路电流有效值时,电容电流超前90,电感落后90,可用矢量正交分解加合.加在晶体管放大器基极上的交流电压和从集电极输出的交流电压,这两者的相位差正好等于180°.这种情况叫做反相位,或者叫做反相.正弦量正交(90°)和反相(180°)都是特殊的相位差.目前,国内相位差测量仪生产厂家或研究单位明显存在着技术老化问题,其采用的器件、方法和技术与技术先进**有较大的的差距。而**近发展的先进的计算机技术、电子技术等却由技术、资金、管理等方面的原因未能应用于相位测量技术,因此国内相位测量的水平与国外水平有着相当大的差距。同时,随着**和科教等领域的发展,迫切需要高精度高性能的相位测量系统,而且在一些特殊工程领域,还需要测量仪器具备其它特殊功能。由此可见,为缩小这些差距,对高精度相位测量算法的研究和相位测量系统的设计刻不容缓。本文介绍的是一套较完整的高精度相位差测量仪,提高相位及频率参数的测量精度,并扩展测相系统功能,由移相网络模块、相位差测量模块及频率测量模块三大部分构成,其系统功能主要是进行相位差测量及频率和幅度测量。相位差测试仪:补偿膜光轴角测试仪。湖北离型膜吸收轴角度测试仪定义

此光轴跟基方向呈现吸收状态(透光率比较低)。湖北离型膜吸收轴角度测试仪定义

PLM系列是由苏州千宇光学科技有限公司精心设计研发及生产的一款高精度相位差轴角度测量仪。该设备可解析多层相位差,是对吸收轴角度、快慢轴角度、相位差、偏光度、色度及透过率等进行高精密测量;是结合偏光解析和一般光学特性分析于一体的设备;并提供不同型号,供客户进行选配。设备主要运用于:偏光片,盖板玻璃,双折射材料,离型膜,补偿膜,其他光学材料的测试中。可解析多层相位差,主要测试项目包括:吸收轴角度,偏光轴角度,快轴,慢轴角度,波长分散性,三次元折射率,相位差R0/Rth(0~20000nm),透过率,色度,偏光度。湖北离型膜吸收轴角度测试仪定义

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