中国计量科学研究院基准髙温装置一高温光电比较仪光路图。工作时，小金点黑体炉经物镜成像于调制器7的狭缝上，经调制转换为交流光信号。信号由光导纤维混合、传输，并于聚光透镜焦点上聚焦，经聚光镜和干涉滤光片后，由聚光透镜14均匀地聚焦到光电倍增管的阴极上。经调制的光相位相反，当两束光亮度不等时，一个交变光能量由光电倍增管接收，使指零仪表不指“0”，调节被检灯电流，以达亮度平衡。若两光源亮度相等，则被检光源的亮度温度就等于标准光源的亮度温度。黑体炉由于加热的不均匀、外界环境影响以及加工精度等原因造成了其内部温度场是具有温度梯度的不均匀场。高温黑体炉BR1450
BR1450中高温黑体辐射源/黑体炉温度范围宽广，由100～1450℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ32mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试。功能特点：●温度范围：100～1450℃●采用自动升温控温方式、安全可靠、温度稳定性好、使用操作方便●使用双排数字显示测量值及设定值●紧凑而坚固的设计、集校准与测试的完美结合德国Optris黑体炉现货实际应用中，对实用黑体炉的评估是相当困难的。
由于是针对目标响应值相对大小关系的校正，这就使得一点校正法可以在目标响应值与校正测量值相近时的任何情况下都能较好地成像。例如，一种很常见的实现方式是在环境温度、FPA温度变化后，通过实时动态调节积分时间、全局偏置等参数，让目标响应值回到与校正测量时相近的范围内，则成像一般不成问题，但这样处理后将导致测温算法复杂化甚至根本无法实现测温功能。各厂家在一点校正法的工艺实现中，还有个普遍的谬误：用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构此时档片起到的是参考黑体的作用。如果用外档片则还与校正测量的情况比较接近，但内档片差得就很离谱了。
高温场视觉测温模型的建立是基于CCD传感器对铸坯表面温度场进行在线测量的前提。在分析辐射测温及CCD探测器基本工作原理的基础上，基于几何光学理论建立了窄带光谱辐射测温模型，为CCD辐射测温提供了理论依据。并结合连铸坯表面温度场分布特点，从温度测量范围、测量准确性以及发射率消除等因素上确定了灰度CCD进行连铸坯表面温度场测量方案。基于面阵CCD辐射测温模型，分析了测温灵敏度、温度测量范围与窄带滤光片中心波长、像方孔径角之间的关系。分析结果表明，灵敏度与像方孔径角成正相关，随窄带光谱中心波长先增大后减小；而温度测量范围与像方孔径角成负相关，随窄带光谱中心波长先减小后增大。同时考虑到波长对水雾的吸收特性以及本文选择的探测器响应波段等因素，黑体炉终选择的窄带滤光片中心波长为μm，带宽为10nm。基于几何成像的基本原理，建立了辐射测温变参数模型，在黑体炉上进行了标定试验研究，分析了曝光时间、光圈、焦距以及标定距离等参数对CCD灰度测量的影响。在温度计量领域，主要是利用黑体炉辐射和温度的对应关系，因此要求黑体的发射率越高越好。
黑体是用于标定红外系统的基准源，它的光谱能量是可以通过计算而获得，是工业、实验室、科研、**用来标定红外点式测温仪、线型扫描测温仪、热成像仪的标准源。在**领域，可以作为整套光电测试系统的一部分。常用黑体炉，用数字显示文控器来控制辐射源温度，可在环境温度与1100℃范围内任意设置黑体辐射温度。精密热电阻、热电偶装在黑体辐射源的内部，能提高黑体的精度和重复性。利用PID温控器使用黑体辐射温度分辨率达到比较高0.1℃，黑体辐射源使用了耐热而性能稳定的保湿材料，具有寿命长、温度稳定快的特点。其内部结构设计紧凑，便于携带，使用方便，是温度测量仪器进行温度校准的较理想的目标源。如果黑体炉口径比较大，靶体的有效范围也增宽，那就有更高的容错率了。中温黑体炉哪家好
如果需要升至比较高，务必在**短时间内完成校准，然后对黑体炉进行降温操作，否则容易造成腔心损毁。高温黑体炉BR1450
试验用锅发射率测试3.1测量仪器锅体材料是影响灶具热效率的重要因素之一，因此，本试验主要测量新、旧两版国标下铝制锅具材料的发射率，分别为旧国标下的普通白色铝锅和新国标下的黑色无光铝锅，以下分别简称“白锅”和“黑锅”。发射率测量仪器见图4，分别为日本某公司生产的FTIR-6100型傅里叶光谱分析仪和HIT-2型面源黑体炉。3.2发射率测量针对标准用锅的样品，使用HIT-2型黑体炉作为参考黑体辐射源，在120℃下，分别测量黑体辐射源、黑锅和白锅的辐射量，经过计算机进行傅里叶变换，获得黑锅和白锅在2.5~25μm红外波段的发射率，测量结果见图5。高温黑体炉BR1450
