荧光寿命成像基本参数
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荧光寿命成像企业商机

作为荧光成像中除光谱和强度之外的新维度,当前,荧光寿命成像主要应用领域包括:用于样品分离,如利用不同染料荧光寿命的差异将不同组织、正常与病变细胞等有效分离。荧光寿命成像可以提供荧光强度(光子数)和光子寿命的空间分布,具有200 nm的空间分辨率和皮秒量级的时间分辨率。通过双光子激发可以直接检测荧光和时间分辨的荧光寿命。这种无损检测技术,无需解剖或专门制造分层样品,不但可在样品表面,还可在样品表面以下实现深度解析测量。特别适用于新材料、光子学、光伏、光催化、生物材料、纳米材料和纳米复合材料以及其相关的原理探究和设计优化。荧光寿命成像可以提供荧光强度(光子数)和光子寿命的空间分布。杭州单分子荧光寿命成像怎么操作

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典型的荧光寿命成像包括从感兴趣区域(ROI)的共焦图像中提取1-,2-或3-衰减时间。限制荧光团的衰减速率可能是任意的,而且很复杂,因为在细胞环境中存在几种衰减速率。对于相量图,关于选择哪种衰减模型以及评估拟合优度的挑战性决定已成为过去。在相量图中,所有原始FLIM数据在向量空间中均表示为相位和幅度。图像中的每个像素都转换为相量图中的一个点。单独于其在图像中的位置,具有相似衰减特征的像素在相量图中形成群集。可以在此阵列中选择不同的相量簇,并在标注中反向注释对应的像素。

荧光寿命成像显微技术已在生命科学,临床荧光寿命领域中得到了普遍的应用。成像,扩散光学层析成像,荧光相关光谱等等。使用我们专有的多维时间相关单光子计数技术(TCSPC),我们的FLIM和TCSPC系统具有超高光子效率的特点。因此,科学家,医生,研究人员和其他用户能够进行TCSPC FLIM显微镜检查,多波长FLIM,同时FLIM和快速获取FLIM。生命科学是我们荧光寿命成像显微(FLIM)设备的主要应用领域。我们的技术经常用于以下领域:分子影像学、代谢成像、FRET成像、同时进行NAD(P)H和pO2成像。荧光寿命成像通常用于研究生物分子间相互作用、细胞中的信号事件或区分光谱重叠的荧光团。

荧光寿命成像 (FLIM)通过建立检测到的荧光事件的直方图来确定寿命。可显示单指数或多指数荧光衰减。数值曲线拟合表示荧光寿命和振幅(即检测到的光子数)。由于FRET减少了供体寿命,因此如果无FRET的供体寿命已知,就可以量化FRET发生的程度。该供体寿命τ作为分析FRET样品的一定参考。因此,FLIM-FRET为内部参照—这一特点减少了基于强度测量FRET时的很多缺点。由于其荧光寿命是染料的固有特性,因此对其他不利影响(如光漂白、图像明暗处理、不同浓度或表达水平)具有普遍的不变性。使用基于强度的FRET测量的主要限制是所有可观察的供体分子都经历FRET的基本假设。通常情况并非如此。供体分子这种变化的“非结合”组分给测量的FRET效率带来了相当大的不确定性,使得无法在实验之间进行比较。荧光寿命成像克服了这一缺点。由于荧光寿命成像不受样品浓度影响,具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能。上海三维荧光寿命成像使用方法

荧光寿命成像不受光漂白的影响。杭州单分子荧光寿命成像怎么操作

荧光寿命(FLT)是荧光团在发射光子并返回基态之前花费在激发态的时间。根据荧光基团的不同,FLT可以从皮秒到数百纳秒不等。荧光团群的寿命是指经荧光或非辐射过程的能量损失后,激发态分子数量以指数方式衰减到原始数量的N / e(36.8%)的时间。荧光寿命是荧光团的固有属性。FLT不依赖于荧光团浓度、样品吸收、样品厚度、测量方法、荧光强度、光漂白和/或激发强度。它受外部因素影响,如温度、极性和荧光淬灭剂的存在。荧光寿命对依赖于荧光团结构的内部因素敏感。杭州单分子荧光寿命成像怎么操作

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