由于是针对目标响应值相对大小关系的校正，这就使得一点校正法可以在目标响应值与校正测量值相近时的任何情况下都能较好地成像。例如，一种很常见的实现方式是在环境温度、FPA温度变化后，通过实时动态调节积分时间、全局偏置等参数，让目标响应值回到与校正测量时相近的范围内，则成像一般不成问题，但这样处理后将导致测温算法复杂化甚至根本无法实现测温功能。各厂家在一点校正法的工艺实现中，还有个普遍的谬误：用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构此时档片起到的是参考黑体的作用。如果用外档片则还与校正测量的情况比较接近，但内档片差得就很离谱了。腔体式黑体炉发射率至少可以做到0.99以上，市场上一些**黑体设备标称可以做到0.999。中高温黑体炉样品
黑体的应用:黑体在工业上主要应用于测温领域，**主要的产品是黑体炉。对辐射温度计的校准、检定，通常采用比较法，就是通过高稳定度的辐射源（通常为黑体辐射源）和其他配套设备，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果。在校准、检定工作中，辐射源一般在-6～1200℃（或1600℃）范围内可用开口式中、低温黑体炉，1200（或1600℃）～3200℃采用抽真空并充惰性气体保护的高温黑体炉。标准器分别为二等标准热电偶（二等标准铂电阻温度计）和标准光学（光电）高温计。靶面式黑体炉CS400在选择黑体炉时通常是选择发射率较高的腔式黑体，也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。
我国在20世纪七八十年代，做实验与标定的黑体辐射源，用于红外标定的都是进口产品，如ISOTECH，EOI，美国的Mikron,OMEGA的相关产品都不错，基本上黑体炉的国际市场是以美国独大，品质很好，但是进口成本太过高了，这个严重限制了我国红外事业的发展。黑体的市场化滞后严重制约了我国红外事业的发展。到本世纪初，我国主要科研单位加快了黑体产品的研发进度，黑体炉国产化也发展很快，如武汉凯尔文，云南仪表厂（已经倒闭），为黑体的市场化做出了杰出的贡献，相关的产品指标与稳定性都与国外产品实现了同步，随着大量产品进入市场，供给增加，黑体的市场价格也应声下落，红外生产厂家的成本也因规模效应而不断下降，为红外热像产品的市场化，民用化开辟了广阔的市场前景。我国的红外科研也在不断缩小与国外先进水平的差距。
随着科学技术的发展，黑体炉的用途已经不局限于在温度计量方面的应用。在光学方面，已经普遍采用黑体作为标准辐射源和标准背景光源。在测量领域里，黑体已经用于测量材料的光谱发射、吸收和反射特性。在高能物理的研究中，黑体已经用作为产生中子源。不同的用途对黑体的要求是不一样的。在温度计量领域，主要是利用黑体辐射和温度的对应关系，因此要求黑体的发射率越高越好。要求黑体炉的辐射能量按照光谱分布(也就是黑体光谱辐射能量、也称为单色能量)都能符合普朗克定律，这样我们在检定或校准辐射温度计时，以黑体的温度(或标准辐射温度计)的示值，来修正辐射温度计的偏差。因此在选择黑体时通常是选择发射率较高的腔式黑体，同时也要注意黑体腔口直径，温度均匀性和辐射温度不确定度。CS120黑体炉控温方便，升温速度快，温度均匀性好，性能优异。
黑体炉是用于标定红外系统的基准源，它的光谱能量是可以通过计算而获得，是工业、实验室、科研、**用来标定红外点式测温仪、线型扫描测温仪、热成像仪的标准源。在**领域，可以作为整套光电测试系统的一部分。常用黑体炉，用数字显示文控器来控制辐射源温度，可在环境温度与1100℃范围内任意设置黑体辐射温度。精密热电阻、热电偶装在黑体辐射源的内部，能提高黑体的精度和重复性。利用PID温控器使用黑体辐射温度分辨率达到比较高0.1℃，黑体辐射源使用了耐热而性能稳定的保湿材料，具有寿命长、温度稳定快的特点。其内部结构设计紧凑，便于携带，使用方便，是温度测量仪器进行温度校准的较理想的目标源。在温度计量领域，主要是利用黑体炉辐射和温度的对应关系，因此要求黑体的发射率越高越好。高精度黑体炉CS1500
高温黑体炉通常温度范围为300~1500℃。中高温黑体炉样品
红外热像仪用于研发，工业检测与设备维护的应用范围愈来愈***，红外热像仪的需求也在逐年增加之中，在科研，医疗，电子建筑等各行各业中发挥着举足轻重的作用。红外热像仪有许多参数，依据现行的热像仪校准规范（JJF1187-2008）的要求，需要对外观、显示、示值误差、测温一致性进行校准。热成像仪示值误差和测温一致性校准可以用腔式黑体炉完成。当黑体辐射源的尺寸不能完全覆盖热像仪视场时，需要调整热像仪或黑体辐射源位置，使黑体辐射源中心分别成像于标记点，使辐射源中心分别成像于热像仪显示器的各个区域，需要调整并测量9次（JJF1187-2008热像仪校准规范.中高温黑体炉样品
