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探伤仪基本参数
  • 品牌
  • 绘环
  • 型号
  • HUT-300/HUT-320/HUT-350
  • 类型
  • 超声波探伤仪
  • 重量
  • 1
  • 产地
  • 江苏南通
  • 厂家
  • 南通绘环电子科技有限公司
探伤仪企业商机

超声波探伤仪灵敏度余量的定义,主要有以下几种:1)超声波探伤仪的灵敏度一般是指整个探伤系统(超声波探伤仪主机和超声波探头)发现非常小缺陷的能力,发现的缺陷越小,灵敏度就越高。2)超声波探伤仪探头的灵敏度常用灵敏度余量来衡量,灵敏度余量是指超声波探伤仪较大输出时(增益、发射强度较大,衰减和抑制为0),使规定反射体回波达基准高所需衰减的衰减总量。灵敏度余量大,说明超声波探伤仪与探头的灵敏度高。灵敏度余量与超声波探伤仪和探头的综合性能有关,因此又叫仪器(超声波探伤仪)与探头的综合灵敏度。3)灵敏度余量:超声波探伤系统中,以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与较大探测灵敏度之间的差值。HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪电池的保养、维修及使用注意事项。淄博石化探伤仪哪家便宜

在锻件检测中,不同性质的缺陷回波是不同的,实际检测时,可根据超声波探伤仪显示屏上的缺陷回波情况来分析缺陷的性质和类型。1.单个缺陷回波锻件检测中,超声波探伤仪显示屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波。2.分散缺陷回波锻件检测时,工件中的缺陷较多且较分散,缺陷彼此间距较大,这种缺陷回波称为分散缺陷回波。分散缺陷回波一般不太大,因此常用当量法定量,同时还要测定分散缺陷的位置。3.密集缺陷回波锻件检测中,示波屏上同时显示的缺陷回波很多,缺陷之间的间隔很小,甚至连成一片,这种缺陷回波称为密集缺陷回波。4.游动回波在圆柱形轴类锻件检测过程中,当探头沿着轴的外圆移动时,示波屏上的缺陷波会随着该缺陷检测声程的变化而游动,这种游动的动态波形称为游动回波。5.底面回波锻件检测中,有时还可根据底波变化情况来判别锻件中的缺陷情况。当缺陷回波很高,并有多次重复回波,而底波严重下降甚至消失时,说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。淄博工业无损探伤探伤仪有哪些HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪探头分辨率与分辨力的区别。

引起超声波衰减的主要原因是波束扩散、晶粒散射和介质吸收。1.扩散衰减超声波在传播过程中,由于波束的扩散,使超声波的能量随距离增加而逐渐减弱的现象称为扩散衰减。超声波的扩散衰减*取决于波阵面的形状,与介质的性质无关。平面波波阵面为平面,波束不扩散,不存在扩散衰减。柱面波波阵面为同轴圆柱面。波束向四周扩散,存在扩散衰减,声压与距离的平方根成反比。球面波波阵面为同心球面,波束向四面八方扩散,存在扩散衰减,声压与距离成反比。2.散射衰减超声波在介质中传播时,遇到声阻抗不同的界面产生散乱反射引起衰减的现象,称为散射衰减。散射衰减与材质的晶粒密切相关,当材质晶粒粗大时,散射衰减严重,被散射的超声波沿着复杂的路径传播到探头,在示波屏上引起草状回波(又叫草波),使信噪比下降,严重时噪声会淹没缺陷波。3.吸收衰减超声波在介质中传播时,由于介质中质点间内摩擦(即黏滞性)和热传导引起超声波的衰减,称为吸收衰减或黏滞衰减。除了以上三种衰减外,还有位错引起的衰减,磁畴壁引起的衰减和残余应力引起的衰减等。通常所说的介质衰减是指吸收衰减与散射衰减,不包括扩散衰减。

使用表面波进行检测的方法,称为表面波法。对于近表面缺陷的检测,表面波是有效的检测方法。1.表面波的性质表面波只在物体表面下几个波长的范围内传播。当其沿表面传播的过程中遇到表面裂纹时,(1)一部分声波在裂纹开口处仍以表面波的型式被反射,并沿物体表面返回。(2)一部分声波仍以表面波的形式沿裂纹表面继续向前传播,传播到裂纹顶端时,部分声波被反射而返回,部分声波继续以表面波的形式沿裂纹表面向前传播。(3)一部分声波在表面转折处或裂纹顶端转变为变形纵波和变形横波,在物体内部传播。在表面波检测中,主要利用表面波的上述特性来检测表面和近表面裂纹。2.表面波的产生产生表面波的方法较多,检测中较实用的两种方法:Y切石英法和纵波折射法,在实际应用中灵敏度大体上相同。HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪钛合金锻件检测解决方案。

CSK-IA试块是我国承压设备无损检测标准JB/T4730—2005中规定的标准试块,是在IIW试块基础上改进后得到的,其结构及主要尺寸如图4—30所示。CSK-IA试块有三点改进:1)将直孔φ50mm改进φ50mm、φ44mm、φ40mm台阶孔,以便于测定横波斜探头的分辨力。2)将R100改为R100、R50阶梯圆弧,以便于调整横波扫描速度和检测范围。3)将试块上标定的折射角改为K值(K=tanβs),从而可直接测出横波斜探头的K值。CSK-IA试块的其他功能同IIW试块,材质一般同被检工件。(4)CSK-IA,CSK一IA和CSK一ⅣA标准试块CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA试块是JB/T4730—2005标准中规定采用的焊缝超声波检测用的横孔标准试块。CSK-IA结我国的CSK系列标准试块比较特殊,要求试块材质与工件相同或相近。CSK-IA,CSK一IA,CSK-ⅣA试块主要用于测定横波距离一波幅曲线、斜探头的K值和调整横波扫描速度和灵敏度等。其中CSK-IA和CSK-A适用于壁厚范围为8~120mm的焊缝,CSK-ⅣA系列试块用于壁厚范围120~400mm的焊缝。HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪探伤时缺陷长度的测定方法。山东裂纹探伤仪维修

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浑身是宝的CSK-IA超声波试块CSK-IA试块是超声波检测较常用的试块之一,标准中对于试块的定义分为标准试块、对比试块,其中CSK-IA试块稳居标准试块行列已有15年之久。针对CSK-IA试块的各部分功能进行描述(1)采用R=50mm,R=100mm弧,可用于测定声速、探头的入射点(前沿、探头延迟),如果只采用单弧(50mm或100mm)可测定探头的入射点,声速可以手动输入。建议可采用单弧测试,测定声速为CSK-IA试块的声速。(2)可采用三个不同深度的台阶底面(85mm、91mm、100mm)用于测定直探头的分辨力,测试结果可做参考NB/T47013要求测试方法参考JB/T9214。(3)可采用40mm、44mm、50mm三个阶梯孔测定斜探头的分辨力,此处测试结果可做参考,NB/T47013要求测试方法参考JB/T9214。另外可采用50mm圆孔测试斜探头K值,K2、K2.5、K3探头布置在上表面,K1、K1.5探头布置在下表面。采用50mm圆孔还可测试直探头的盲区,探头位置分别布置在试块上表面及侧面,此处测试结果也作为参考,具体方法应参照JB/T9214。(4)φ1.5mm横孔可用于测试斜探头K值。(5)将CSK-IA试块平置,可用25mm大平底,测试水平线性、垂直线性,垂直线性测试结果可作参考,具体方法参照JB/T9214。另外可用大平底校准直探头 淄博石化探伤仪哪家便宜

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