以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，利用机械测头进行接触测量的光学长度测量工具。测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内转动的可调工作台，还带有不同测头和附件，常用于检定大尺寸量块和测量多种工件的内、外尺寸。测长机有1米、3米、6米和6米以上等几种测量范围，分度值通常为1微米。为求结构紧凑，多数测长机不采用阿贝原则（见长度测量工具），而采用爱宾斯坦光学系统。这种光学系统能自动补偿由于导轨直线度误差引起的测量误差。测量范围在1米以内的习惯上称为测长仪，它利用读数显微镜和带有线纹尺的测量轴组成的测量系统（习惯上称为阿贝头）进行接触测量。阿贝头的示值范围一般为100毫米。测长仪有立式和卧式两种。它的结构设计一般符合阿贝原则，故通常也称为阿贝测长仪。立式测长仪和卧式测长仪的测量范围通常分别不大于250毫米和600毫米(测量范围大于100毫米时需要用量块调整零位)。前者主要用于测量外尺寸，后者主要用于测量较大工件或在立式测长仪上不易定位的工件如圆盘等的内、外尺寸等。 测长仪生产厂家就找上海野齿仪器科技有限公司！常州精密测长仪生产厂家
读数装置放大倍数的正确性【要求】不超过。对于使用中的进口测长仪，应检定其读数装置与毫米刻度尺的相符性，要求不超过。【检定方法】读数装置放大倍数的正确性，用尺寸为1mm,2mm和3mm的3等量块以“配对法”检定。检定卧式测长仪时，移动测量轴，使测量杆上的球面测帽相接触，并调整至正确状态。在两测帽之间放入一块1mm量块，转动微米刻度，使其零线与指标线对准。再转动尾管的微动螺丝，使毫米刻度尺的任一条毫米刻线处于mm刻度尺的零线位置，并与螺旋线(双线)对准。然后换上2mm量块，与mm刻度尺的尾线位置的螺旋线(双线)对准。按微米刻度读出误差r1。重新使微米刻度尺的零线与指标线对准，转动尾管的微动螺丝，使毫米刻线与mm刻度尺的零线位移对准，同时与螺旋线(双线)对准。在测帽之间换放3mm量块，按上述方法进行对准，并取读数r2。放大倍数误差a按式()求得。上海UCK测长仪价格万能测长仪维修服务哪家好？
温度的要求温度差异是精密测量误差的主要来源，精密测量的条件应是被测件与仪器同温，为此在通常情况下，本仪器应置于20±1℃恒温室内，在测量长度小于100mm时，室温应控制在20±0.5℃内，当被测件大于100mm时，室温每小时变化应小于0.3℃，被测件与仪器尽量同温。对于长度大于50mm的工件，手的温度对工件有较大影响，为此，在拿取工件时，建议使用木钳和戴白手套。备注：为了减小温度对测量结果的影响，可以引入温度补偿量加以修正。
光栅测长机特点：双向恒测力：1)双向恒测力系统，减小了测力对测量结果的影响，保证了较高的系统测量精度；2)测力手动连续可调；3)测力传感器原理避免了仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。智能化管理与检测软件系统：1)仪器操作界面友好，操作者很容易即可基本掌握仪器操作，使用十分简便。2)10多年积累的实用检定软件设计经验，向客户提供简洁、实用、快速的操作体验；3)集成众多长度标准、规程，功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告，自动显示、打印、保存、查询检定记录；4)测量范围广，可满足绝大多数类型的量规、量块等长度参数测量；5)软件配备快速找拐点指示功能，方便客户快速便携地找到被测件的拐点；6)纯中文操作软件系统，更好的为国内用户服务；7)打印格式正规、美观。检定数据可存档，或集中打印，不占用检定操作时间；8)本仪器采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检定结果。高性能五轴工作台：1)X,Y,Z三轴采用高性能交叉滚子导轨：摩擦力极小，稳定性好，承载高；2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构，方便客户更好地找到三个轴的拐点；3)Z轴标准配置及Y轴可选配置数显装置，可连接将数据传输到电脑。 便携式测长仪生产厂家哪家好？
将尺寸为1mm的量块放入两球面测帽之间。转动微米刻度，使其零线与指标线对准。调整读数装置或转动尾管测量杆的微动螺丝，使毫米刻度尺的任一毫米刻线处于0.1mm刻度尺的零线，并与螺旋线(或双线)对准。经上述安装和调整后，依次地将尺寸为1.02mm，1.04mm，1.06mm，1.08mm，1.1mm，1.2mm，1.3mm，1.4mm，1.5mm，1.6mm，1.7mm，1.9mm和2mm的量块放入球面测帽之间，并依次使螺旋线(或双线)与毫米刻度尺的刻线对准并读数，每一点应进行四次对准和读数，取其平均值作为该点的测得值。读数装置的示值误差，以各点的误差中比较大的正误差对值和比较大的负误差对值之和确定。上海便携式测长仪维修服务就找上海野齿仪器科技有限公司！宁波大型测长仪品牌
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光学测长机在设计上违背阿贝原则,它是如何补偿所产生的阿贝误差呢?当尾座沿基座导轨运动时，由于导轨存在直线度误差，使尾座发生角偏摆，尾座测头前倾，造成测量误差ΔL。此时，尾座下方的成像光路也发生角偏摆，致使分米尺在测量座毫米尺上的成像位置产生位移ΔLʹ。由于测量端到分米尺的高度H与分米尺成像系统焦距fʹ相等，因此，ΔLʹ和ΔL的决对值几乎相等，符号相反，可以相互抵消，违反阿贝原则所造成的误差得到补偿。光学测长机是一种应用艾伯斯坦原理，使误差互相抵消的成功范例常州精密测长仪生产厂家
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