比色红外测温仪又称双色红外测温仪。它是利用邻近通道两个波段红外辐射能量的比值来决定温度的大小。比值与温度的关系是线性的，这是由探测器的性能决定的。双色测温仪能够消除水汽、灰尘、检测目标大小变化、部分被遮挡、发射率变化等的影响，双色测温仪测量绝大数灰体材料时不需要修正双色系数，双色测温仪测量一个区域内最高温度的平均值。大多数的双色红外测温仪可以克服严重水汽、灰尘、检测目标大小变化、部分被遮挡、发射率变化等的影响，即使检测信号衰减95%，也不会对测温结果有任何影响。软、硬件设计适用于一百万倍信号动态范围的可靠检测，满足用户对仪器的精度和分辨率等要求。**期间，快速、无需接触的红外测温仪发挥了巨大作用。DGF40N红外测温仪样品
对金属或钢铁来说，在同一个温度，测温的红外波长越大，发射率就越小，反之，测量的波长越小，发射率就越大。(注意，这个规律只是针对金属或钢铁来说的，不适合其它材料，其它材料有其它材料的发射率规律，比如玻璃则反之)。发射率表提供的往往是一个发射率范围，你无法准确确认发射率的值，也就是发射率设置经常会有误差，而且有时误差还特别大而且，**重要的一点就是：除了黑体以外，实际物体的发射率值往往在一个范围里，而不是一个固定的值，比如上图中的哈氏合金在1μm时，发射率值是0.5~0.9；同样，铁、钢材，也是如此，比如不锈钢在1μm时发射率为0.35，而在8-14μm时发射率是0.1~0.8。换言之，在这个范围里，提供的发射率表很多都是一个范围，而不是一个确定的值，在这个范围里，谁也弄不清到底具体发射率值是多少，所以你如何确切地设定发射率呢？又如何确保发射率没有误差呢？所以，发射率误差1%~10%是应用红外测温仪、红外热像仪中非常常见的、经常发生的。上海红外测温仪使用说明一般成型机螺杆温度，发热圈温度，人体等，红外测温仪是通过反射回来的激光束来传感出来温度的。
为使黑体辐射定律适用于所有实际物体，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与黑体辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，就知道了任何物体的红外辐射特性。影响发射率的主要因素在：材料种类、表面粗糙度、理化结构和材料厚度等。当用红外测温仪测量目标的温度时首先要测量出目标在其波段范围内的红外辐射量，然后由测温仪计算出被测目标的温度。单色测温仪与波段内的辐射量成比例;双色测温仪与两个波段的辐射量之比成比例。
德国DIAS中**双色红外测温仪DSR56NV主要特征•测温范围500~3300°C•线性温度输出0/4~20mA，可切换•集成式显示器、按键和RS485通信接口•激光瞄准或内置彩***瞄准•可选透镜瞄准或取景器•短响应时间5ms性能指标技术数据型号DSR56N、DSR56NV测温范围500~1200°C*600~1400°C**700~1800°C800~2500°C900~3000°C或1000~3300°C子测温范围在测温范围内可调，**小跨度50°C光谱范围0.7μm~1.1μm光学系数固定焦距(250,650,2000,4000)1，**小可测光斑直径为1.3mm距离系数*50:1,**100:1,200:1测量误差20.5%测量值(°C)重复精度20.1%测量值(°C)要么将测温仪存放在测量地，要么测量前等待红外测温仪的温度适应测量位置的温度。
1800年，英国天文学家F.W.赫歇尔发现了红外线。上世纪70年代，红外测温仪和电荷耦合器件被成功应用。上世纪末，以焦平面阵列（FPA）为**的红外器件被成功应用。红外技术的**是红外探测器，红外探测器按其特点可分为四代：***代（1970s－80s）：主要是以单元、多元器件进行光机串/并扫描成像；第二代（1990s－2000s）：是以4x288为**的扫描型焦平面；第三代：凝视型焦平面；第四代：目前正在发展的以大面阵、高分辨率、多波段、智能灵巧型为主要特点的系统芯片，具有高性能数字信号处理功能，甚至具备单片多波段探测与识别能力。红外测量仪器采用非接触的测温方式来测量物体表面温度，是实现快速温度控制的无损测量方法之一。DSR44N红外测温仪厂家现货
对一些不能或不便用于接触式测量的目标，活动目标以及温度变化迅速的目标，红外测温仪比较适用。DGF40N红外测温仪样品
红外测温仪原理：黑体是一种理想化的辐射体，它吸收所有波长的辐射能量，没有能量的反射和透过，其表面的发射率为 1。但是，自然界中存在的实际物体，几乎都不是黑体，为了弄清和获得红外辐射分布规律，在理论研究中必须选择合适的模型，这就是普朗克提出的体腔辐射的量子化振子模型，从而导出了普朗克黑体辐射的定律，即以波长表示的黑体光谱辐射度，这是一切红外辐射理论的出发点，故称 黑体辐射定律。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。DGF40N红外测温仪样品
上海诺丞仪器仪表有限公司成立于2014-04-29，同时启动了以诺丞,DIAS,Testo,爱德克斯,大正仪表为主的红外测温仪，红外热成像仪，气体检测仪，校验仪产业布局。旗下诺丞,DIAS,Testo,爱德克斯,大正仪表在仪器仪表行业拥有一定的地位，品牌价值持续增长，有望成为行业中的佼佼者。我们强化内部资源整合与业务协同，致力于红外测温仪，红外热成像仪，气体检测仪，校验仪等实现一体化，建立了成熟的红外测温仪，红外热成像仪，气体检测仪，校验仪运营及风险管理体系，累积了丰富的仪器仪表行业管理经验，拥有一大批专业人才。上海诺丞仪器仪表始终保持在仪器仪表领域优先的前提下，不断优化业务结构。在红外测温仪，红外热成像仪，气体检测仪，校验仪等领域承揽了一大批高精尖项目，积极为更多仪器仪表企业提供服务。
