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HUT-3X0系列数字超声波探伤仪集数码飞梭旋轮和快捷按键与一体，单手即可操作。操作过程如下：长按开关机按钮，打开仪器。进入工作界面。按下旋钮，调出菜单项。旋转旋钮，选择对应的菜单项。按下F按键，选择相应参数位，旋转旋钮，改变参数值。按下“取消”按钮，退出到上一级菜单，直到退出菜单项。按下“增益”按钮，进入增益快捷调节，旋转旋钮，改变增益值。按下“闸门”按钮，参数在闸门位置、闸门宽度、闸门高度之间切换，旋转旋钮，改变相应的值。按下“范围”按钮，参数在范围、延时之间切换。旋转旋钮，调整相应的参数。按下“冻结”按钮，冻结或解冻屏幕。按下“峰值记忆”按钮，打开峰值记忆，再按一下，打开回波包络，再次按下，关闭。10、按下“DAC”按钮，如果仪器中保存有制作完成的DAC曲线，打开DAC曲线。如果没有，则进入DAC制作阶段。HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪探头分辨率与分辨力的区别。电力检测仪出厂价

浑身是宝的CSK-IA超声波试块CSK-IA试块是超声波检测较常用的试块之一，标准中对于试块的定义分为标准试块、对比试块，其中CSK-IA试块稳居标准试块行列已有15年之久。针对CSK-IA试块的各部分功能进行描述（1）采用R=50mm，R=100mm弧，可用于测定声速、探头的入射点（前沿、探头延迟），如果只采用单弧（50mm或100mm）可测定探头的入射点，声速可以手动输入。建议可采用单弧测试，测定声速为CSK-IA试块的声速！（2）可采用三个不同深度的台阶底面（85mm、91mm、100mm）用于测定直探头的分辨力，测试结果可做参考NB/T47013要求测试方法参考JB/T9214。(3)可采用40mm、44mm、50mm三个阶梯孔测定斜探头的分辨力，此处测试结果可做参考，NB/T47013要求测试方法参考JB/T9214。另外可采用50mm圆孔测试斜探头K值，K2、K2.5、K3探头布置在上表面，K1、K1.5探头布置在下表面。采用50mm圆孔还可测试直探头的盲区，探头位置分别布置在试块上表面及侧面，此处测试结果也作为参考，具体方法应参照JB/T9214。（4）φ1.5mm横孔可用于测试斜探头K值。（5）将CSK-IA试块平置，可用25mm大平底、测试水平线性、垂直线性，垂直线性测试结果可作参考，具体方法参照JB/T9214。另外可用大平底校准直探头！苏州钢轨探伤仪工厂直销HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪探伤执行标准都有哪些？

试块的分类超声检测用试块通常分为标准试块、对比试块和模拟试块三大类。(1)标准试块标准试块通常是由**机构制定的试块，其特性与制作要求有专门的标准规定。标准试块通常具有规定的材质、形状、尺寸及表面状态。如IIW试块,CBI,CBII;CSI.CSII,CSⅢ;CSK-IA，CSK-ⅡIA，CSK-ⅢA，CSK-ⅣA。(2）对比试块对比试块是以特定方法检测特定工件时采用的试块，含有意义明确的人工反射体（平底孔、槽等)。它与被检工件材料声学特性相似，其外形尺寸应能**被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。对比试块主要用于检测校准以及评估缺陷的当量尺寸，以及将所检出的不连续信号与试块中已知反射体产生的信号相比较。(3）模拟试块模拟试块是含模拟缺陷的试块，可以是模拟工件中实际缺陷而制作的样件，或者是在以往检测中所发现含自然缺陷的样件。模拟试块主要用于检测方法的研究、无损检测人员资格考核和评定、评价和验证仪器探头系统的检测能力和检测工艺等。

使用表面波进行检测的方法，称为表面波法。对于近表面缺陷的检测，表面波是有效的检测方法。1.表面波的性质表面波只在物体表面下几个波长的范围内传播。当其沿表面传播的过程中遇到表面裂纹时,(1)一部分声波在裂纹开口处仍以表面波的型式被反射，并沿物体表面返回。(2）一部分声波仍以表面波的形式沿裂纹表面继续向前传播，传播到裂纹顶端时，部分声波被反射而返回,部分声波继续以表面波的形式沿裂纹表面向前传播。(3）一部分声波在表面转折处或裂纹顶端转变为变形纵波和变形横波，在物体内部传播。在表面波检测中,主要利用表面波的上述特性来检测表面和近表面裂纹。2.表面波的产生产生表面波的方法较多，检测中较实用的两种方法:Y切石英法和纵波折射法，在实际应用中灵敏度大体上相同。HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪支柱瓷绝缘子及瓷套检测解决方案。

CSK-IA试块是我国承压设备无损检测标准JB/T4730—2005中规定的标准试块，是在IIW试块基础上改进后得到的，其结构及主要尺寸如图4—30所示。CSK-IA试块有三点改进:1)将直孔φ50mm改进φ50mm、φ44mm、φ40mm台阶孔，以便于测定横波斜探头的分辨力。2)将R100改为R100、R50阶梯圆弧，以便于调整横波扫描速度和检测范围。3)将试块上标定的折射角改为K值(K=tanβs)，从而可直接测出横波斜探头的K值。CSK-IA试块的其他功能同IIW试块,材质一般同被检工件。(4)CSK-IA,CSK一IA和CSK一ⅣA标准试块CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA试块是JB/T4730—2005标准中规定采用的焊缝超声波检测用的横孔标准试块。CSK-IA结我国的CSK系列标准试块比较特殊，要求试块材质与工件相同或相近。CSK-IA,CSK一IA,CSK-ⅣA试块主要用于测定横波距离一波幅曲线、斜探头的K值和调整横波扫描速度和灵敏度等。其中CSK-IA和CSK-A适用于壁厚范围为8~120mm的焊缝，CSK-ⅣA系列试块用于壁厚范围120～400mm的焊缝！HUT-3X0系列手持数字超声波探伤仪厂家排行。宁波薄板探伤仪厂家供应

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在用超声波探伤仪进行探伤时，当工件中缺陷尺寸大于声束截面时，一般采用测长法来确定缺陷的长度。测长法是根据缺陷波高与探头移动距离来确定缺陷的尺寸。根据测定缺陷长度时的灵敏度基准不同将测长法分为相对灵敏度法、***灵敏度法和端点峰值法。1、相对灵敏度测长法相对灵敏度测长法是以缺陷比较高回波为相对基准、沿缺陷的长度方向移动探头，降低一定的dB值来测定缺陷的长度。常用的是6dB法和端点6dB法。2、***灵敏度测长法***灵敏度测长法是在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动,当缺陷波高降到规定位置时，探头移动的距离，即为缺陷的指示长度。***灵敏度测长法测得的缺陷指示长度与测长灵敏度有关。测长灵敏度高，缺陷长度大。在自动探伤中常用***灵敏度法测长。3、端点峰值法探头在测长扫查过程中，如发现缺陷反射波峰值起伏变化，有多个高点时，则可以缺陷两端反射波极大值之间探头的移动长度来确定为缺陷指示长度。这种方法称为端点峰值法。端点峰值法测得的缺陷长度比端点6dB法测得的指示长度要小一些。端点峰值法只适用于测长扫查过程中，缺陷反射波有多个高点的情况。电力检测仪出厂价

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