FS70L显微镜升级

典型的共焦显微镜装置是在被测对象焦平面的共轭面上放置两个小孔，其中一个放在光源前面，另一个放在探测器前面，如图1所示。由图可知，当被测样品处于准焦平面时，探测端收集到的光强比较大；当被测样品处于离焦位置时，探测端的光斑发生弥散，光强迅速减小。因此，只有焦平面上的点所发出的光才能透过出射针（zhen）孔，而焦平面以外的点所发出的光线在出射针（zhen）孔平面是离焦的，绝大部分无法通过中心的针（zhen）孔。因此，焦平面上的观察目标点呈现亮色，而非观察点则作为背景呈现黑色，反差增加，图像清晰。在成像过程中，两针（zhen）孔共焦，共焦点为被探测点，被探测点所在的平面为共焦平面。透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜是各个高科技领域常用的四种显微镜。FS70L显微镜升级

激光扫描共聚焦显微镜的另一个特点是它是一种扫描成像技术，传统的宽场照明技术是将整个样品都照亮，因此可以图像可以直接被肉眼或探测器捕捉，但是LSCM采用一束或多束聚焦光束穿过样品扫描成像，这样得到的图像被称为光学切片。现代共聚焦显微镜的一种实际的工作方式是激光发出的激发光通过二向色镜，通过一对振镜在样品x方向和y方向进行扫描，样品激发（或反射）的光通过针（zhen）孔进入PMT检测器被记录，记录下的扫描图像通过计算机重构出实际的样品图像。浙江显微镜视频显微镜和金像显微镜。

探针应用的显微镜STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘得到的样子，也可以说是根据样品与探针间测量得到的距离，将图像画下来的样子。当然，具体原理还是有点不一样的。为什么会有两种“探针型”的显微镜，STM显微镜因为需要测定电流，因此必须要求所测样品需要具有导电性，而AFM显微镜因为只需要测定相互作用力，因此不需要考虑测定电流，所以相比STM显微镜可以测定更多类型样品。而AFM的缺点则是其分辨率比STM要低，主要原因也是测量时候的原理及目前技术上的问题。首先测定形变是利用激光，在形变后激光的方向会发生偏折，因此测定的其实是激光的信息从而绘制的图像。

显微镜的观察方法

明视场观察：垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。

暗视场观察：通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。

偏光观察：观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。

微分干涉（DIC）观察：利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 显微镜常见故障的排除；

显微镜透射照明的方式有两种：(1)临界照明这种照明要求聚光镜所成的光源像与被观察物体的物平面重合，如图1所示，相当于物面上放置一个光源，灯丝的形状同时出现在像面上，而造成不理想的观察效果。临界照明透射照明中，为使物镜的孔径角得以充分利用，聚光镜应有与物镜相同或稍大的数值孔径。临界照明聚光镜的孔径光阑常设在聚光镜的物方焦平面上，如果显微镜用的是远心物镜，聚光镜的出射光瞳与物镜的入射光瞳重合。聚光镜的光阑做成可变光阑，可任意改变射入聚光镜的孔径角，使之与物镜的数值孔径匹配。由于临界照明聚光镜的出射光瞳和像方视场分别与物镜的入射光瞳和物方视场重合，所以形成“瞳对瞳，视场对视场”的光管。临界照明的缺点在于当光源亮度不均匀或者呈现明显的灯丝结构时,将会反映在物面上，使物面照度不均匀，从而影响观察效果。为了达到比较均匀的照明，这种照明方式对发光体本身的均匀性要求较高，同时要求被照明物体表面和光源像之间有足够的离焦量。后续物镜的孔径角应该取大一些，如果物镜的孔径角过小，焦深会很大，容易反映出发光体本身的不均匀性。 同一个物镜不切换，得到两个不同视野的成像。武汉显微镜

体视显微镜和视频显微镜。FS70L显微镜升级

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