uTS原位加载系统:光学显微镜和DIC数字图像相关技术的结合,可以满足纳米级精度测量需求。光学显微镜受可见光波长限制分辨率只能达到250nm,由于DIC技术具有强大图像处理能力可以准确实现0.1像素位移测量,因此uTS显微测试系统的分辨率可达到25nm。在光学显微镜下材料的原位加载实验中,较大挑战在于加载过程产生的离面位移,高分辨率位移场需要高放大倍数显微镜,意味着景深很小,几微米的离面位移就会造成显微镜失焦。uTS显微测试系统针对离面位移有特殊的设计,有效地控制了离面位移对实验结果影响。SEM原位加载设备的原理能显示各种图像的信息是由于聚焦的电子束与样品的相互作用而产生的各种信号。河南xTS原位加载设备代理商
扫描电镜的基本原理是什么?当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时,电子与元素核和外层电子发生一次或多次弹性和非弹性碰撞。一些电子被样品表面反射,而其余电子则穿透样品,逐渐失去动能,在Z后停止运动,被样品吸收。在这个过程中,99%以上的入射电子能量转化为样品热能,剩余约1%的入射电子能量激发样品的各种信号。这些信号主要包括二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、电子电动势、阴极发光、X射线等。扫描电子显微镜设备使用这些信号来获取信息来分析样品。安徽Psylotech原位加载试验机销售公司CT原位加载系统由液压油通过活塞对试样施加载荷,或者直接对试样施加围压载荷。
原位加载扫描电镜技术与运用:材料的力学性能是其诸多性能中的关键性能之一,对于材料获得大范围的应用具有重要意义。因此,对材料的力学性能进行研究,寻求提高材料力学性能的途径,成为材料科学研究中的重要工作。但目前对材料性能的研究多是基于宏观的试验研究,测试结果虽与材料的应用效果紧密相关,但这种方法难以为提高材料的力学性能提供直接的机理支撑。细观力学的研究方法从介于宏观与微观之间的尺度对影响材料的力学性能因素进行分析与研究,是近年来材料力学性能研究的热点领域。
工业CT在各种环境条件下的原位扫描:工业CT是材料无损检测的方法之一,可用于各种样品内部和外部复杂结构的观察、分析和测量等,并越来越被大范围使用。一些特殊的应用,样品需要放置在特殊的模拟环境中进行检测,因此需要将特殊的环境模拟装置与检测设备相结合。对于产品质量控制、长期储存、老化试验和可靠性试验等,这种原位扫描可以提供更准确、可靠的信息,便于提高产品质量和客户使用的安全性。将工业CT扫描装置和环境模拟装置有机结合在了一起,实现了对样品的原位、无损检测和分析。原位加载系统可以很好的符合目前的力学测试与表征同时进行的要求。
SEM原位加载设备扫描电子显微镜:扫描电子显微镜,简称为扫描电镜,英文缩写SEM(ScanningElectronMicroscope)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。SEM已大范围的应用于材料、冶金、矿物、生物学领域。通常人眼能够分辨的较小距离为0.2MM,为了观察分析更微小的细节,人们发明了各种观察仪器。出现的是光学显微镜,它利用可见光作为照明束照射样品,再将照明束与样品的作用结果由成像放大系统处理,构成适合人眼观察的放大像。一般而言光学显微镜能分辨的较小距离约为200um,是人眼的一千倍。原位加载设备一些特殊的应用,样品需要放置在特殊的模拟环境中进行检测。福建SEM原位加载系统哪里能买到
CT原位加载设备特点有单轴拉力/压力适用于材料的力学试验分析。河南xTS原位加载设备代理商
基于x射线断层照相的原位加载装置:随着损伤及缺陷结构研究的深入,科研工作者需要知道在载荷作用下,材料的三维微细观结构损伤发展及演变的规律。利用X射线断层照相设备对损伤前后的样品进行非原位测试没有问题,但为了更准确的把握损伤演化过程以及更方便的对X射线断层照相数据进行对比处理获得定量演化数据,需要原位加载系统。考虑到样品台在断层照相数据采集过程中需要旋转运动,而且样品台的较大荷载有限,所以很难把加载系统的力直接加到样品台来实现原位实验。河南xTS原位加载设备代理商
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