体式显微镜系统

共聚焦显微镜发展趋势共聚焦显微镜在技术层面上为了获得更好的观察效果，着力于从提高分辨率、降低光毒性、提高扫描速度、厚样品观察等方面提升技术水平。目前来看Z有效，对共聚焦显微镜技术推动Zda的是超高分辨率显微术，突破光学极限使研究者能够获得更精细的细胞结构，有利于研究者更深刻的认识生命活动。人们对微观事物的认知要求已不仅局限于二维图像观测，同时需要对微小物体的三维结构进行了解和研究。普通显微镜原理为物面前后一定厚度内飞所有断层图像的叠加，已无法达到应用需求。同一个物镜不切换，得到两个不同视野的成像。体式显微镜系统

扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点，其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件；与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。

优缺点：

优点：（1）成像质量高，受样品厚度与仪器干涉小（2）可达到原子分辨率（3）结果分析简单、直观（4）能够快速获取样品的综合信息，成像效率高。

缺点：（1）制样时间长，对样品的要求高；（2）一些材料在高能电子束中不稳定；（3）测试成本高，仪器分布稀少。 安徽显微镜维修探针台用显微镜如何挑选；

透射电子显微镜和扫描电子显微镜两者用的都是电子作为发射源，不过透射电子显微镜的结构更像是我们看到的光学显微镜，即通过两次电子束的聚焦，然后经过样品，经过投影屏放大分析，得到样品的微观结构。但是扫描电子显微镜则没有后面用来放大的投影屏，而是接收屏，即电子打在样品上后激发产生的二次电子，也可以理解为“反射”。所以看到的TEM和SEM在图像成像上，前者看着极其扁平，如同光镜的图像，是一个平面。但是SEM获得的图像有纵深，看着像是3D图像。

扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理

场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑，作为高度聚焦的电子探针，在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM，其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同，因此可获取同一位置的不同图像，从而反应材料的不同信息，有环形明场像（ABF）、环形暗场像（ADF）、高角环形暗场像（HAADF）。 透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜是各个高科技领域常用的四种显微镜。

扫描探针显微镜是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜，静电力显微镜，磁力显微镜，扫描离子电导显微镜，扫描电化学显微镜等)的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器。

扫描探针显微镜的基本工作原理是利用探针与样品表面原子分子的相互作用，即当探针与样品表面接近至纳米尺度时形成的各种相互作用的物理场，通过检测相应的物理量而获得样品表面形貌。扫描探针显微镜主要由探针、扫描器、位移传感器、控制器、检测系统和图像系统5部分组成。 电子显微镜与光学显微镜；体式显微镜技术改造

体视显微镜和金像显微镜。体式显微镜系统

共聚焦主要的观察对象是荧光。通俗来讲，是指用波长短的光照射某物质，该物质被照射时，由于光激发原理，能发射出比照射光波长较长的光，后者即为荧光。我们观察的荧光物质主要为荧光蛋白或荧光染料，可能样本本身也会有一些自发荧光。具体到共聚焦显微镜上，就是用不同的激光器去激发样本中的荧光染料，使之发射不同的荧光，就可以得到多色荧光图像了。不管是荧光染料还是荧光蛋白，或是其它荧光材料，都有其荧光特性，主要指激发光(Ex)-Excitation与发射光(Em)-Emission。我们常说的488，543，633就是指相关荧光材料的激发光，但要注意，无论激发光还是发射光，都不是一个数值，而是一段波谱，只是为了日常使用方便才使用488nm这样的波谱峰值(Ex-Max)。体式显微镜系统

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