中山光谱仪调试

SPM-5000积分球系统中，积分球作为漫射光源或匀光器来使用，消除由于光源自身特性而造成的出射光束不均匀或者带有偏振方向。积分球入射光在积分球内部发生多次漫反射造成的。正常测量时，球体内部或球壁上需要安装标准灯、辅助灯、温度探头、光纤探头、被测光源等各种部件。为了进行准确测量，这几个部件之间的位置关系需要遵循以下一些基本原则：A）辅助灯、标准灯或被测光源发出的光线都不应该直接照射到光纤探头，否则测量结果会出现重大误差。为了避免这种情况，通常在光纤探头正前方需要设置挡板。但挡板的大小，需要保证光纤探头部位的光照度与其它部分的光照度相同。B）辅助灯、标准灯、被测光源发出的光线不应直接照射到温度探头。通常温度探头对于光线比较敏感，接收光线强度不同，其温度也会不同，这就会引入测量误差，从而使其测量值不能反映积分球球体内部的真实温度。通常，我们也可以在探头前部设置挡板，以达到避免光线直射的目的。C）辅助灯发出的光不应直接照射到标准灯或被测光源。辅助灯的作用是为了比较标准灯与被测光源外形、颜色差异而设计。D）标准灯、被测光源的安装位置较好相同，应尽量接近，以减小由于校准灯位置与测量位置不同而产生的测量误差。IMS-2020光色电综合测试系统满足GB/T 24824:2009 普通照明用LED模块测试方法。中山光谱仪调试

SPM5000高精度快速光谱仪测试系统（含植物生长灯数据），在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体色容差SDCM参数。满足ANSI C78.377-2015,ANSI C78.376-2001色容差SDCM的测量，参照荧光灯国家标准GB/T10682-2010色容差公式：g11Δx2+2g12ΔxΔy+g22Δy2=K2(1)式中：Δx和Δy表示相对于目标坐标值x，y的误差，g11,g12,g22表示由各目标值决定的系数，K为色容差。标准颜色灯的色品坐标目标值应符合表D1的规定（见附录），系数见表D2。用轴参数计算色容差的算式为：x’/K2a2+y’/K2b2=1(2)式中：x’=Δxcosθ+Δysinθy’=-Δxsinθ+Δycosθa和b分别是1SDCM的长半轴和短半轴，见表D3。详细内容参见荧光灯国家标准GB/T10682-2010。湖州光谱仪价格IMS-2021植物生长灯光电综合测试系统QB/T 2944-2008 植物生长用荧光灯。

SPM5000高精度快速光谱仪与TR-200光学透过率测试装置、直流电源组成灯具外壳光学透过率的测量系统。可以模拟得到加上指定外壳后灯具的色温，色品坐标、光通量、光效等等一系列光色电参数。灯具外壳光学透过率的测量系统是您选择合适的外壳、漫射罩壳的理想工具，也是您进行灯具光色设计的好帮手。波长范围380-800nm(可定制)。灯具外壳光学透过率的测量系统可以测得透明材料的光谱透过率曲线、通过叠加已测得的无外壳发光光源的光谱，

SPM-5000高精度快速光谱仪系统（含植物生长灯数据测试）测试速度快；可以满足照明行业质检部门的质量检测、生产部门的质量控制以及开发部门的参数测试设计的日常需求。发光效率、光谱功率分布及色度参数是各类光源及发光材料的重要质量指标，有效的掌握这些质量指标的测量仪器对于各类光源及发光材料的研制及生产有着十分重要的意义。IMS系列CCD光谱仪积分球测试系统正是为满足CIE/IESNA/GB等标准的基础上设计而成的。采用目前国际先进的全息凹面光栅分光技术，光路设计独特，杂散光极低。测试准确度及重复性完全可媲美国内外同类产品。SPM-5000高精度光谱辐射计配以专业的积分球、数字功率计、精密变频交流电源以及高精度定标直流电源组成IMS积分球测试系统自动化程度高。SPM-5000高精度快速光谱仪多点阵带电子快门CCD，灵敏度高，动态范围宽。

SPM-5000系列高精度快速光谱仪系统采用目前国际先进的全息凹面光栅分光技术，光路设计独特，杂散光极低。同时具有高重复性和稳定性，可同时实现毫秒级的测试速度和传统机械式光谱仪的测量精度。它具有快速测量、使用方便、灵敏度较高、寿命长、可靠性高、无机械磨损、体积小等优点。主要应用于产品品质控制和批量生产检测，也适合作为实验室研究设备。可同时实现毫秒级的测量速度和传统机械式光谱仪的测量精度，用于LED及LED灯具等各类光源的光谱、颜色及光通量等光色参数的高精度测量。SPM-5000高精度快速光谱仪测试数据可以导出IES TM-33 2018(*.xml)格式。镇江光谱仪出厂价

SPM-5000高精度快速光谱仪可应用于工业冷光源测试。中山光谱仪调试

SPM-5000高精度快速光谱仪光谱范围380nm-800nm(可定制全光谱光谱仪)，通常光谱仪器的选择需要覆盖此光谱范围，然后再考虑分辨率、响应速度、信噪比及动态范围等参数。合适的光谱范围有利于软件的数据分析，同时也可以增加响应速度。在测量LED的过程中，由于LED芯片的量子特性，在一定的温度条件下，它的输出能量、色温、色坐标及光谱特性在不断变化，即LED的特性每一刻都在变化，CCD光谱仪通常可以实现毫秒级的测量。使用CCD光谱仪测量时，由于扫描速度快，因此在若干秒内可以实现多次测量，同时还可以显示出测量过程中光源特性的变化。中山光谱仪调试

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