扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相...
扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理
场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑,作为高度聚焦的电子探针,在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM,其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方,探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流,经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同,因此可获取同一位置的不同图像,从而反应材料的不同信息,有环形明场像(ABF)、环形暗场像(ADF)、高角环形暗场像(HAADF)。 体视显微镜和金像显微镜。成都PSM-1000显微镜
扫描探针显微镜控制器通过扫描器在竖直舛由方向移动样品以使探针和样品之间的距离(或相互作用的物理量)稳定在某一固定值;同时在x-y水平平面移动样品,使探针按照扫描路径扫描样品表面。扫描探针显微镜在稳定探针与样品间距的情况下,检测系统检测探针与样品之间相互作用的相关物理量信号;在稳定相互作用物理量的情况下,则通过竖直方向礴由位移传感器检测探针与样品之问距离。图像系统则根据检测信号(或探针与样品间距)对样品表面进行成像等图像处理。双光路显微镜产品介绍金相显微镜主要是用来鉴定和分析金属内部结构组织,专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。
显微镜机械系统维护保养:
▪油漆表面的清洁:顽固污迹可以使用软性清洁剂清洁▪塑料表面的清洁:软布蘸水清洁即可。
显微镜光学系统维护保养:
▪不要用手接触光学零件▪擦镜纸是给油镜清洁使用的,干镜清洁请务必使用脱脂棉签▪油镜使用后用干净柔软的专业擦镜纸蘸无水乙醇采用螺旋渐进的方式轻轻擦干净油的物镜;√ 留意擦镜纸的两个面,纹路是不同的:其中一面是粗糙的,另一面更光滑些,要使用更光滑的那一面来清洁。一般不建议用干的擦镜纸直接擦拭,同样可能划伤镜头。▪如果有较顽固污迹或灰尘,先用洗耳球吹走较大较硬灰尘,然后用长纤维脱脂棉签或干净细棉布蘸无水乙醇擦拭,这样可以避免较大较硬灰尘颗粒划伤镜头,影响观察效果。▪目镜和物镜的擦试方法√ 准备工作:在长纤维脱脂棉签顶端蘸上无水乙醇√ 目镜:从中间部分开始,采用螺旋渐进的方式轻轻逐步擦到边缘。√ 物镜&聚光镜:用脱脂棉签按同样方法擦试物镜和聚光镜顶透镜。
注意:无需经常将物镜/目镜拆下来清理擦拭,日常使用时需用脱脂棉签及擦镜纸配合无水乙醇擦去油污即可,只有遇到顽固污渍时才应将物镜拆卸清理。擦试镜头时,动作应轻柔,不能过于用力,以避免损坏镀膜层。
透射电镜的工作过程与光学显微镜类似。在光学显微镜中聚焦后的可见光射向样品,穿过样品的光经过物镜、目镜等光学系统聚焦后被眼睛接收。在电子显微镜中,可见光由电子枪发射出来的电子束所代替,在阳极加速电压的作用下,电子经过2、3个电磁透镜会聚为电子束,用来照明样品薄片 (电子的穿透能力很弱,因此样品必须很薄),穿过样品薄片的电子携带了样品本身的结构信息,经物镜、中间镜和投影镜所组成的成像系统的接力聚焦放大以图像或衍射谱的形式显示于荧光屏或感光材料上。体视显微镜又可称为立体显微镜或解剖显微镜;
扫描透射电子显微镜 (STEM) 是什么?
扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscopy, STEM)由透射电子显微镜(TEM)发展而来,指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式,其空间分辨率可达亚埃米级,可在纳米和原子尺度上对材料微结构与精细化学组分的表征与分析。在冶金、材料、环境科学、生物科学等领域具有巨大应用潜力。 显微镜的使用方法及步骤;mitutoyo显微镜商家
体视显微镜和光学显微镜。成都PSM-1000显微镜
扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力(既有可能足吸引力,也有可能是排斥力)所引起的微悬臂形变来检测样品表面。可根据不同需求来进行定制,满足不同应用场合成都PSM-1000显微镜
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扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相...
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