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聚焦离子束（FIB）显微镜

随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的重要部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束（FIB）技术利用聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。

技术特征

1、比较高束流可以达到100nA,且加工性能优异。可以实现快速切割和纳米加工。

2、最高分辨率小于3nm，可以实现精细加工，并显示优异的FIB成像质量。

3、电压范围在500V-30KV可调，可以实现精细抛光，降低样品表面非晶层厚度。

4、离子源比较稳定，使用寿命长。行业内**长离子源寿命1500小时（3000uAh），72小时束流变化在5%以内。5、与SEM镜筒完美配合，可以实现FIB加工过程中可以利用SEM进行实时观察。 体视显微镜的光路设计；mitutoyo显微镜供应

体视显微镜的原理及常见的体视显微镜的光路设计主要有两种：格里诺光路（GreenoughDesign）和伽利略光路（CMODesign）Greenough原理：两个相同的光学系统以10–16°的角度连接到同一支架。光路中的两个成像棱镜可确保图像直立并和实物的方向一致。常规使用的普通体视显微镜多数采用的是Greenough原理。伽利略光路原理：光学系统由两个平行的光束路径和一个共享的主要物镜组成，这就是为什么它被称为CMO（通用主要物镜）系统的原因。这种类型的体视显微镜具有可移动的观察管和可在管镜区域定制的通用配件，体视荧光附件就是其中重要的光学配件。伽利略光路的体视显微镜增加上体视荧光附件就可以升级为体视荧光显微镜，成为现代科学、再生医学、遗传学等领域重要的工具之一。 共聚焦显微镜厂家直销显微镜的几种观察方法；

探针应用的显微镜STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘得到的样子，也可以说是根据样品与探针间测量得到的距离，将图像画下来的样子。当然，具体原理还是有点不一样的。为什么会有两种“探针型”的显微镜，STM显微镜因为需要测定电流，因此必须要求所测样品需要具有导电性，而AFM显微镜因为只需要测定相互作用力，因此不需要考虑测定电流，所以相比STM显微镜可以测定更多类型样品。而AFM的缺点则是其分辨率比STM要低，主要原因也是测量时候的原理及目前技术上的问题。首先测定形变是利用激光，在形变后激光的方向会发生偏折，因此测定的其实是激光的信息从而绘制的图像。

共聚焦显微镜扫描时用的是激光光源，激光的穿透力强，可对样本进行一定深度的光学断层，从而获得高标准的连续光学切片，由此做Z轴光学切片后重组出3D效果就能立体地展示样品里荧光的空间分布。配有高精度电动载物台和图像拼接软件，能完美解决放大倍数和整体成像这一问题。可做时间序列拍摄，实时监测荧光变化，可以把荧光变化的过程以动态的形式展示出来。

共聚焦的应用很广，像离体细胞、组织切片、物理材料、模式生物等荧光样本都可以用共聚焦进行拍摄，除了常规的荧光图片拍摄进行定性定位外，还可以进行荧光的半定量分析、共定位分析、荧光漂白恢复（FRAP）、荧光共振能量转换(FRET)等，但也要注意一下，常规405-647nm之间的激发波长都可以支持。 金相显微镜放大倍数通常在50-1000倍，照明系统有透射光和同轴反射光；

扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同，被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力(既有可能足吸引力，也有可能是排斥力)所引起的微悬臂形变来检测样品表面。可根据不同需求来进行定制，满足不同应用场合显微镜的使用方法及步骤；多倍率显微镜推荐厂家

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显微镜的观察方式，你知道几种？

偏光显微镜具有很高的灵敏度，可用于针对各种各向异性样品的定性和定量研究。定性偏振光显微镜在实践中非常流行，然而偏振光显微镜的定量方面，主要应用于晶体学，矿物学、地质学和化学领域。偏振光显微镜是通过在聚光镜之前和物镜之后插入交叉偏振元件实现的。细胞内具有双折射特性的组分会旋转光的偏振平面，在深色背景上显得明亮。

微分干涉（DIC）是七种观察方式中比较复杂的一种。光路中不仅包括偏光组件，还要包括一组特制棱镜，以放大样品厚度梯度和折射率的微小差异。例如，由于细胞的水相和脂质相之间的折射率差异，脂质双层可以在DIC中产生出色的对比度。

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