浙江点阵参数精确测量XRD衍射仪

药物制剂生产过程中除需添加各种辅料外，往往还需要经过溶解、研磨、干燥(温度)、压片等工艺过程，在此过程中API的晶型有可能发生改变，进而可能影响到药物的疗效。国内外FDA规定多晶型药物在研制、生产、贮存过程中必须保证其晶型的一致性，固体制剂中使用的晶型物质应该与API晶型一致。因此药物制剂中的晶型分析是非常重要的。由于辅料的存在对药物制剂中API的晶型分析增加了干扰，特别是API含量非常少的制剂样品，检测更加困难。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先进检测器，为制剂中微量API的晶型检测提供了有利工具。MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度，与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。浙江点阵参数精确测量XRD衍射仪

婴儿爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妆品常见的有各种润肤粉、美容粉、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔红外线的作用，能增强这类化妆品的防晒和抗红外线的性能。所以，在日常生活中使用。由于石棉是滑石的伴生矿物，滑石粉中可能含有石棉。石棉纤维被人体吸入到肺会引起石棉肺恶性疾病，我国已明确把石棉列为化妆品禁用物质，用于化妆品生产的滑石粉必须经过检测不含石棉成分方可使用。判断滑石中是否存在石棉通常采用偏光或电子显微镜和X射线衍射相结合的办法。而石棉的定量分析一直是石棉分析中的一个难点，主要采用X射线衍射法。石棉定量采用基底修正法，具体操作步骤请参考：ØSN／T2549.2-2010：进出口化妆品中石棉的测定：第2部分：X射线衍射-偏光显微镜法ØISO22262-3_2016：QuantitativedeterminationofasbestosbyX-raydiffractionmethodØGB／T23263-2009：制品中石棉含量测定法上海购买XRD衍射仪配件从过程开发到质量控制，D8 DISCOVER可以对亚毫米至300mm大小的样品进行结构表征。

D8DISCOVER特点：微焦源IµS配备了MONTEL光学器件的IµS微焦源可提供小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。1.毫米大小的光束：高亮度和很低背景2.绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长3.MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度4.与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。5.提供各种技术前列的全集成X射线源，用于产生X射线。6.工业级金属陶瓷密封管，可实现线焦斑或点焦斑。7.专业的TWIST-TUBE（旋转光管）技术，可快速简便地切换线焦斑和点焦斑。8.微焦斑X射线源（IµS）可提高极小焦斑面积上的X射线通量，而功耗却很低。9.TURBOX射线源（TXS）旋转阳极可为线焦斑、点焦斑和微焦斑等应用提供比较高X射线通量。10. 性液态金属靶METALJET技术，可提供无出其右的X射线光源亮度。11.高效TurboX射线源（TXS-HE）可为点焦斑和线焦斑应用提供比较高X射线通量，适用于D8DISCOVERPlus。12.这些X射线源结合指定使用X射线光学元件，可高效捕获X射线，并将之转化为针对您的应用而优化的X射线束。

波特兰水泥熟料矿相定量分析引言水泥和熟料的物理化学性能，比如凝结性能和强度变化等，不光是由化学组成所决定的，而主要是由其矿物组成所决定的。传统的熟料物相分析采用BOGUE计算方法或熟料显微镜分析方法。这些方法的缺点是众所周知的。目前有效的熟料矿相定量分析方法是XRD与Rietveld分析方法的结合。可以确定孰料中的C3S、C2S、C3A、C4AF等主要矿相的含量，还可以得到C3S、C2S、C3A等矿相多晶型含量以及游离钙等微量相的含量。D8D和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：掠入射衍射、X射线反射率测量。

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本，是面向多用途、多用户实验室的X射线平台。它可理想地满足您对所有样品类型的需求，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：典型的X射线粉末衍射（XRD）对分布函数（PDF）分析小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）X射线反射率（XRR)和高分辨XRD（摇摆曲线，倒易空间扫描）环境条件下和非环境条件下该系统的一大优势在于它能够在多达6种不同的光束几何之间进行切换：从用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何以及两者之间的切换。您只需按下按钮，整个软件尽在掌握。样品台的卡口座允许在测角仪上快速准确地更换整个样品台，较大限度地提高实验灵活性。广州上海XRD衍射仪配件

专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。浙江点阵参数精确测量XRD衍射仪

XRD检测纳米二氧化钛晶粒尺寸引言纳米材料的性能往往和其晶粒大小有关，而X射线衍射是测定纳米材料晶尺寸的有效方法之一。晶粒尺寸Dhkl(可理解为一个完整小单晶的大小)可通过谢乐公示计算Dhkl：晶粒尺寸，垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高宽（或展宽）θ：hkl晶面的bragg角度λ：入射X光的波长，一般Cu靶为1.54埃K：常数（晶粒近似为球形，K=0.89；其他K=1）ADVANCE采用了开放式设计并具有不受约束的模块化特性的同时，将用户友好性、操作便利性以及安全操作性发挥得淋漓尽致，这就是布鲁克DAVINCI设计浙江点阵参数精确测量XRD衍射仪

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