扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相...
扫描探针显微镜的特点:
扫描探针显微镜是除了场离子显微镜和高分辨率透射电子显微镜之后的第三种以原子尺度观察物质结构的显微镜。以扫描隧道显微镜(STM)为例,其横向分辨率为0.1~0.2nm,纵向深度分辨率则为0.01nm,这样的分辨率可以清楚地观测到分布在样品表面的单个原子或分子。同时,扫描探针显微镜还可以在空气,其他气体或液体环境下进行观察研究。扫描探针显微镜拥有原子分辨、原子搬运、纳米微加工等特点,但是由于细部各种扫描显微镜的工作原理不同,它们得到的结果所反映的样品表面信息是很不同的。扫描隧道显微镜测量的是样品表面的电子台分布信息,具有原子级别的分辨率但仍得不到样品的真结构。而原子显微镜探测的是原子之间的相互作用信息,因此可以得到样品表面原子分布的排列信息即样品的真实结构。但另一方面,原子力显微镜测不到可以和理论比较的电子态信息,因此二者各有短长。 激光共聚焦显微镜不仅可以改善有效信号,而且可以降低噪声信号并获得高质量的荧光图像。重庆显微镜推荐厂家
显微镜常见故障的排除:
四、视野出现明亮不均匀检查显微镜使用前是否进行光路对中。
五、目镜视野观察全黑1、检查物镜是否转入光路,视场光阑和孔径光阑是否调节太小2、检查光路是否对中。
六、视野亮度偏暗1、检查视场光阑和孔径光阑是否调的太小。2、检查光路是否调节到位(聚光镜、光阑、灯丝)。3、是否使用了偏光、相差部件。
七、目镜视野内出现黑边1、检查是否视场光阑打得太小。2、光路是否对中(聚光镜、光阑、灯丝)。3、物镜转换是否卡到位。4、目镜筒与机身卡位是否准确。
八、同步性问题使用摄像头观察时,目镜观察清晰,但是电脑显示图像模糊。1、调节接口或接口透镜高度以达到同步。2、调节接口无法完全同步的情况下,尝试调节目镜屈光度。 武汉金像显微镜共聚焦显微镜主要的观察对象是荧光。
透射电子显微镜和扫描电子显微镜两者用的都是电子作为发射源,不过透射电子显微镜的结构更像是我们看到的光学显微镜,即通过两次电子束的聚焦,然后经过样品,经过投影屏放大分析,得到样品的微观结构。但是扫描电子显微镜则没有后面用来放大的投影屏,而是接收屏,即电子打在样品上后激发产生的二次电子,也可以理解为“反射”。所以看到的TEM和SEM在图像成像上,前者看着极其扁平,如同光镜的图像,是一个平面。但是SEM获得的图像有纵深,看着像是3D图像。
工业测量显微镜广泛应用于多个行业,尤其在电子行业,它是观察电路板的构造和精确测量距离的“得力”仪器。
根据不同的照明方式,观察成像也不同,因此需要根据不同的工件以及测量部位选择适合的照明方式。透射照明是采用透过轮廓光观察的方法,特别是观察测量轮廓时使用,边缘清晰易于观察。垂直反射照明是垂直照射测量工件的表面,适合用来表面性状的观察和测量。外部照明是用斜射的光来照射测量工件的表面,能够实现立体的、颜色重复性良好的观察。 光电流测试显微镜系统;
扫描透射电子显微镜兼具扫描成像与透射分析的特点,其仪器结构可看作SEM与TEM的结合。STEM主要由电子枪、电子光学系统、样品室、环形探测器与成像设备等组成。STEM与TEM的主要区别在于添加了扫描附件;与SEM的不同在于电子信号探测器安置在样品下方。
优缺点:
优点:(1)成像质量高,受样品厚度与仪器干涉小(2)可达到原子分辨率(3)结果分析简单、直观(4)能够快速获取样品的综合信息,成像效率高。
缺点:(1)制样时间长,对样品的要求高;(2)一些材料在高能电子束中不稳定;(3)测试成本高,仪器分布稀少。 体视显微镜的光路设计;Optem显微镜型号
显微镜的几种观察方式;重庆显微镜推荐厂家
激光扫描共聚焦显微镜的另一个特点是它是一种扫描成像技术,传统的宽场照明技术是将整个样品都照亮,因此可以图像可以直接被肉眼或探测器捕捉,但是LSCM采用一束或多束聚焦光束穿过样品扫描成像,这样得到的图像被称为光学切片。现代共聚焦显微镜的一种实际的工作方式是激光发出的激发光通过二向色镜,通过一对振镜在样品x方向和y方向进行扫描,样品激发(或反射)的光通过针(zhen)孔进入PMT检测器被记录,记录下的扫描图像通过计算机重构出实际的样品图像。重庆显微镜推荐厂家
上海波铭科学仪器有限公司在拉曼光谱仪,电动位移台,激光器,光电探测器一直在同行业中处于较强地位,无论是产品还是服务,其高水平的能力始终贯穿于其中。波铭科仪是我国仪器仪表技术的研究和标准制定的重要参与者和贡献者。公司承担并建设完成仪器仪表多项重点项目,取得了明显的社会和经济效益。将凭借高精尖的系列产品与解决方案,加速推进全国仪器仪表产品竞争力的发展。
扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同,被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相...
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