武汉变倍 显微镜

显微镜的使用方法及步骤：1、取用和放置使用时首先从镜箱中取出显微镜，一手握持镜臂，一手托住镜座，保持镜身直立，不可用一只手倾斜提携，防止摔落目镜。轻取轻放，放时使镜臂朝向自己，距桌边沿5-10厘米处。桌子平衡，桌面清洁，避免直射阳光。

2、开启光源打开电源开关

3、放置玻片标本将待镜检的玻片标本放置在载物台上，材料正对通光孔中间。再用弹簧压片夹在玻片的两端，防止玻片标本移动。若为玻片移动器，则将玻片标本卡入玻片移动器，然后调节玻片移动器，将材料移至正对通光孔**的位置

4、低倍物镜观察用显微镜观察标本时，应先用低倍物镜找到物像。其法如下：(1)转动粗调螺旋，用眼从侧面观望，使镜筒下降，直到低倍物镜距标本0.5厘米左右为度。(2)用左眼从目镜中观察，右眼自然睁开，用手慢慢转动粗调螺旋，使镜筒渐渐上升，直到视野内的物像清晰为止。此后改用微调螺旋，稍加调节焦距，使物像**清晰。(3)用手前后左右轻轻移动玻片或调节玻片移动器，便可找到欲观察的部分。要注意视野中的物像为倒像，移动玻片时应向相反方向移动。

在使用显微镜时要细心和耐心，勿操之过急，动作过猛，以防操作失误而损坏构件。不要用手触摸光学玻璃部分，防止剧烈碰撞而损坏构件 透射电子显微镜和扫描电子显微镜；武汉变倍 显微镜

体视显微镜的性能特点：

●先进的光学性能，平坦清晰的显微图像，即使是视场也能保持质量明亮的像质。

●采用新型视度可调目镜，连续变倍比物镜，灵活多样的辅助物镜组合，使显微图像更加清晰明亮。

●全新的人机工程学设计，长时间使用不感到疲劳，比较大限度的确保使用者操作的舒适性。

●广泛应用于医学、科研、现代电子工业在线检测和其他科技工业领域等高精度方面的要求。

用途：

●现代电子工业检测SZN可用于工业检测分析，如作晶体管点焊、检查等操作工具。各种材料的裂缝构成，气孔形状腐蚀情况等表面现象的检查。在制造小型精密零件时作机床工具的装置、工作过程的观察、精密零件的检查以及装配工具等。

●生物医学研究SZN可用于医学、科研的基础生物研究。同时也满足于中高等院校的教学实验课程，如动物学、植物学、昆虫学、组织学和解剖学等多种研究课程。 成都显微镜加装激光扫描共聚焦显微镜的扫描成像技术。

透射电镜的工作过程与光学显微镜类似。在光学显微镜中聚焦后的可见光射向样品，穿过样品的光经过物镜、目镜等光学系统聚焦后被眼睛接收。在电子显微镜中，可见光由电子枪发射出来的电子束所代替,在阳极加速电压的作用下，电子经过2、3个电磁透镜会聚为电子束，用来照明样品薄片 (电子的穿透能力很弱，因此样品必须很薄)，穿过样品薄片的电子携带了样品本身的结构信息，经物镜、中间镜和投影镜所组成的成像系统的接力聚焦放大以图像或衍射谱的形式显示于荧光屏或感光材料上。

显微镜常见故障的排除：

四、视野出现明亮不均匀检查显微镜使用前是否进行光路对中。

五、目镜视野观察全黑1、检查物镜是否转入光路，视场光阑和孔径光阑是否调节太小2、检查光路是否对中。

六、视野亮度偏暗1、检查视场光阑和孔径光阑是否调的太小。2、检查光路是否调节到位（聚光镜、光阑、灯丝）。3、是否使用了偏光、相差部件。

七、目镜视野内出现黑边1、检查是否视场光阑打得太小。2、光路是否对中（聚光镜、光阑、灯丝）。3、物镜转换是否卡到位。4、目镜筒与机身卡位是否准确。

八、同步性问题使用摄像头观察时，目镜观察清晰，但是电脑显示图像模糊。1、调节接口或接口透镜高度以达到同步。2、调节接口无法完全同步的情况下，尝试调节目镜屈光度。 扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。

扫描探针显微镜根据所利用的探针与样品之间相互作用物理场的不同，被分为不同系列的显微镜。其中扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是比较常用的两类扫描探针显微镜。扫描隧道显微镜是通过检测探针与被测样品之间的隧道电流的大小来检测样品表面结构。原子力显微镜是通过光电位移传感器检测针尖一样品间的相互作用力(既有可能足吸引力，也有可能是排斥力)所引起的微悬臂形变来检测样品表面。可根据不同需求来进行定制，满足不同应用场合体视显微镜和光学显微镜。武汉变倍 显微镜

STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘；武汉变倍 显微镜

扫描探针显微镜的特点：

扫描探针显微镜是除了场离子显微镜和高分辨率透射电子显微镜之后的第三种以原子尺度观察物质结构的显微镜。以扫描隧道显微镜(STM)为例，其横向分辨率为0.1~0.2nm，纵向深度分辨率则为0.01nm，这样的分辨率可以清楚地观测到分布在样品表面的单个原子或分子。同时，扫描探针显微镜还可以在空气，其他气体或液体环境下进行观察研究。扫描探针显微镜拥有原子分辨、原子搬运、纳米微加工等特点，但是由于细部各种扫描显微镜的工作原理不同，它们得到的结果所反映的样品表面信息是很不同的。扫描隧道显微镜测量的是样品表面的电子台分布信息，具有原子级别的分辨率但仍得不到样品的真结构。而原子显微镜探测的是原子之间的相互作用信息，因此可以得到样品表面原子分布的排列信息即样品的真实结构。但另一方面，原子力显微镜测不到可以和理论比较的电子态信息，因此二者各有短长。 武汉变倍 显微镜

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