zeta电位及纳米粒度仪技术参数

产品优势：四、雪崩二极管(APD)高灵敏度检测器（选配）Nicomp380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有3-5倍放大增益效果）。APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。五、380/MA多角度检测器（选配）粒径大于100nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp380可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。 技术优势：11、模块化设计便于维护和升级；（3）自动进样系统（选配）。zeta电位及纳米粒度仪技术参数

       Nicomp多峰分布概念：基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列仪器的两个主要特点，Nicomp创始人DaveNicole很早就认识到传统的动态光散射理论只给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创的Nicomp多峰分布理论，提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。Nicomp多峰分布优势Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不只可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。挑选zeta电位及纳米粒度仪价格技术优势：6、复合型算法：相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换。

      Nicomp380系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：动态光散射仪（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；检测范围：粒径范围0.3nm-10.0μm/ZETA电位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户节省检测成本。

    动态光散射理论：粒子的扩散效应：悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownianmotion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，于是这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。技术优势：1、PMT高灵敏度检测器。

      Nicomp多峰分布概念：基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列仪器的两个主要特点，Nicomp创始人DaveNicole很早就认识到传统的动态光散射理论只给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创的Nicomp多峰分布理论，提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。Nicomp多峰分布优势Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不只可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。进口zeta电位及纳米粒度仪诚信合作

且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。zeta电位及纳米粒度仪技术参数

     Nicomp380系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：动态光散射仪（Dynamic Light Scattering,DLS）/ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler ElectrophoreticLightScattering,DELS）；检测范围：粒径范围0.3nm-10.0μm/ZETA电位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户节省检测成本。zeta电位及纳米粒度仪技术参数