哪些zeta电位及纳米粒度仪市场

技术优势1、PMT高灵敏度检测器；2、可搭配不同功率光源；3、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；4、钯电极；5、精确度高，接近样品真实值；6、复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换；相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换；7、快速检测，可以追溯历史数据；8、结果数据以多种形式和格式呈现；9、符合USP,CP等个多药典要求；10、无需校准；11、模块化设计便于维护和升级；（1）可自动稀释模块（选配）；（2）搭配多角度检测器（选配）；（3）自动进样系统（选配）；工作原理：ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）。哪些zeta电位及纳米粒度仪市场

  Nicomp多峰分布概念：基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp380系列仪器的两个主要特点，Nicomp创始人DaveNicole很早就认识到传统的动态光散射理论只给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创的Nicomp多峰分布理论，提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。Nicomp多峰分布优势Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不只可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。哪些zeta电位及纳米粒度仪市场且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这缩短了测试者宝贵时间。

    动态光散射理论：粒子的扩散效应：悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownianmotion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，于是这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。

      Zeta电势电位原理1.什么是ZETA电势电位：Zeta电位（Zetapotential）是指剪切面(ShearPlane)的电位，又叫电动电位或电动电势（ζ-电位或ζ-电势），是表征胶体分散系稳定性的重要指标。2.STERN双电子层：胶核表面拥有一层离子，称为电位离子，电位离子通过静电作用，把溶液中电荷相反的离子吸引到胶核周围，被吸引的离子称为反离子，越靠近胶核表面的地方反离子越密集，相反，越远的地方反离子越稀疏，他们的电荷总量与电位离子相等并且符号相反。因此，整个胶团是处于电中性状态，而胶核表面电势是醉高的，根据定义Zeta电位即为胶核表面电势。3.DLS散射系统如何测ZETA电位：目前测量ZETA电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法。NicompZ3000采用的是主流的电泳法测试ZETA。随着模块的升级和增加，Nicomp 380的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。

动态光散射理论：粒子的扩散效应：悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownianmotion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，于是这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。广东挑选zeta电位及纳米粒度仪技术参数

通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。哪些zeta电位及纳米粒度仪市场

Nicomp380系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案。工作原理：粒度分布：动态光散射仪（DynamicLightScattering,DLS）/ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（DopplerElectrophoreticLightScattering,DELS）；检测范围：粒径范围0.3nm-10.0μm/ZETA电位+/-500mV；Nicomp380Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（DynamicLightScattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（DopplerElectrophoreticLightScattering,DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户节省检测成本。哪些zeta电位及纳米粒度仪市场