企业商机
激光干涉仪基本参数
  • 品牌
  • OPILB
  • 型号
  • ILBMG
  • 类型
  • 激光干涉仪,白光干涉仪
激光干涉仪企业商机

干涉仪分双光束干涉仪和多光束干涉仪两大类,前者有瑞利干涉仪、迈克耳孙干涉仪及其变型泰曼干涉仪、马赫-秦特干涉仪等,后者有法布里-珀luogan涉仪等。干涉仪的应用极为guangfan。长度测量在双光束干涉仪中,若介质折射率均匀且保持恒定,则干涉条纹的移动是由两相干光几何路程之差发生变化所造成,根据条纹的移动数可进行长度的精确比较或juedui测量。迈克耳孙干涉仪和法布里-珀luogan涉仪曾被用来以镉红谱线的波长表示国际米。折射率测定两光束的几何路程保持不变,介质折射率变化也可导致光程差的改变,从而引起条纹移动。瑞利干涉仪就是通过条纹移动来对折射率进行相对测量的典型干涉仪。应用于风洞的马赫-秦特干涉仪被用来对气流折射率的变化进行实时观察。为展示IDS3010在测量短距离和长距离位移方面的优势!广东激光干涉仪高精度测量

激光干涉仪

利用不同构形的弹性敏感元件可测量各种物体的应力、应变、压力、扭矩、加速度等机械量。半导体应变片与电阻应变片(见电阻应变片相比,具有灵敏系数高(约高 50~100倍)、机械滞后小、体积小、耗电少等优点。P型和N型硅的灵敏系数符号相反,适于接成电桥的相邻两臂测量同一应力。早期的半导体应变片采用机械加工、化学腐蚀等方法制成,称为体型半导体应变片。它的缺点是电阻和灵敏系数的温度系数大、非线性大和分散性大等。这曾限制了它的应用和发展。自70年代以来,随着半导体集成电路工艺的迅速发展,相继出现扩散型、外延型和薄膜型半导体应变片,上述缺点得到一定克服。半导体应变片主要应用于飞机、导弹、车辆、船舶、机床、桥梁等各种设备的机械量测量。广东激光干涉仪高精度测量易于集成(只Ø1.2mm,重量只几克)!

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数控转台分度精度的检测:数控转台分度精度的检测及其自动补偿现在,利用ML10激光干涉仪加上RX10转台基准还能进行回转轴的自动测量。它可对任意角度位置,以任意角度间隔进行全自动测量,其精度达±1。新的国际标准已推荐使用该项新技术。它比传统用自准直仪和多面体的方法不仅节约了大量的测量时间,而且还得到完整的回转轴精度曲线,知晓其精度的每一细节,并给出按相关标准处理的统计结果。知晓其精度的每一细节,并给出按相关标准处理的统计结果。     

半导体应变片:用于车辆等机械量测量的元件.半导体应变片是将单晶硅锭切片、研磨、腐蚀压焊引线,结尾粘贴在锌酚醛树脂或聚酰亚胺的衬底上制成的。是一种利用半导体单晶硅的压阻效应制成的一种敏感元件。利用半导体单晶硅的压阻效应制成的一种敏感元件,又称半导体应变片。压阻效应是半导体晶体材料在某一方向受力产生变形时材料的电阻率发生变化的现象(见压阻式传感器)。半导体应变片需要粘贴在试件上测量试件应变或粘贴在弹性敏感元件上间接地感受被测外力。包括与机器的数据交互接口,可实现自动测量线和误差补偿!

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客户经常打电话咨询干涉仪,看到中间仪器有激光干涉仪和白光干涉仪,不知道哪一个能满足自己的需求?虽然激光干涉仪和白光干涉仪都属于干涉仪的类别,但两者之间的区别可能很大!

激光干涉仪的工作原理

激光干涉仪激光束(圆偏振光)分为两束激光(线偏振光);

两束激光分别通过角锥反射镜A和角锥反射镜B由于两束激光频率相同,振动方向相同,相位差恒定,反射后平行于出射光(红线)返回,分光镜后叠加。

测量距离等于干涉条纹数乘以激光半波长。激光干涉仪用于机床、电机、滑台、模块、自动化设备、机器人等领域。

白光干涉仪的工作原理

光源发出的光通过分光棱镜分为两束,一束通过测量表面反射,另一束通过参考镜反射,两束反射光聚集干扰,通过测量干涉条纹的变化来测量表面的三维形状。用白光干涉仪测量三维微观形状。

可广泛应用于半导体制造和封装工艺检测3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件等超精密加工行业和航空航天、科研机构等领域。 虽然加速度计可用于测量频率> ~20 Hz @ 10 kHz的镜像虚拟仪!广东激光干涉仪高精度测量

皮 米 精 度 位 移 传 感 器。广东激光干涉仪高精度测量

波长的测量任何一个以波长为单位测量标准米尺的方法也就是以标准米尺为单位来测量波长的方法。以国际米为标准,利用干涉仪可精确测定光波波长。法布里-珀luo gan 涉仪(标准具)曾被用来确定波长的初级标准(镉红谱线波长)和几个次级波长标准,从而通过比较法确定其他光谱线的波长。检验光学元件泰曼干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量。在泰曼干涉仪的一个光路中放置待检查的平板或棱镜,平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反映到干涉图样上。若在光路中放置透镜,可根据干涉图样了解由透镜造成的波面畸变,从而评估透镜的波像差。广东激光干涉仪高精度测量

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