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眼图测量基本参数
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眼图测试中的时钟恢复

眼图测试和分析关键之处是时钟恢复。现代的宽带示波器一般提供多种时钟恢复方式 以供选择,如下所述。

(1) 常频方式,类似于平均处理,适用于测量时钟抖动、扩频信号等测试。

(2) 黄金锁相环(Golden PLL), 一般支持一级或二级PLL,参数可以随意设置,适用 于测试串行信号。

(3) 外时钟恢复方式,适用于源同步信号的测试(如HDMI) 。

(4) 特殊方式,例如PCI Express> Fibre-Channel时钟恢复方式。

测试串行信号常用的是Golden PLL方法,要根据具体规范的CDR响应曲线选择一级 或二级锁相环,仔细设置时钟恢复参数。下面以SATA3为例介绍时钟恢复参数的设置, 眼图测量行程原理方法;电气性能测试眼图测量推荐货源

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目前,泰克提供的眼图生成方案:

(1) 从数据恢复时钟(CDR),眼图模板测试:可以分为硬件CDR(PLL)和软件CDR(PLL+其它)

(2) 测量眼图的眼高、眼宽等关于眼图的参数

(3) 根据上面测量到的数据,绘制相关的图形:

抖动:趋势,频谱,

直方图, 浴盆曲线

根据上述的方案概况,

在实时示波器中,通常使用连续比特位的眼图生成方法。首先,示波器采集到一长串连续的数据波形;然后,使用软件CDR恢复时钟,用恢复的时钟切割每个比特的波形,从第1个、第2个、第3个、一直到第n-1个、第n个比特;一步是把所有比特重叠,得到眼图。

其中,实时的眼图生成方法如下:

软件时钟恢复

 眼图参数测量

全系列标准参数测量,包括幅度、定时和抖动

低抖动低噪声

单触发事件,而不是ET方法中的多触发事件,即触发一次后连续采样,减少了可能引入的抖动、噪声

支持不同的时钟恢复模型

 锁相环 (PLL)„ 相位内插重复取样 (恒定时钟, 连续位)

 数据相关分析

把跳变位与非跳变位分开

 码型长度检测,进行抖动分析 (Rj/Dj分离)

电气性能测试眼图测量推荐货源眼图测量(硬件测试 信号质量测试);

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( 1 )比较好抽样时刻应 在 “眼睛” 张开比较大的时刻。

( 2 )对定时误差的灵敏度可由眼图斜边的斜率决定。斜率越大,对定时误差就越灵敏。

( 3 )在抽样时刻上,眼图上下两分支阴影区的垂直高度,表示比较大信号畸变。

( 4 )眼图中间的横轴位置应对应判决门限电平。

( 5 )在抽样时刻上,上下两分支离门限近的一根线迹至门限的距离表示各相应电平的噪声容限,噪声瞬时值超过它就可能发生错误判决。

( 6 )对于利用信号过零点取平均来得到定时信息的接收系统,眼图倾斜分支与横轴相交的区域的大小,表示零点位置的变动范围,这个变动范围的大小对提取定时信息有重要的影响。

一般而言,生成眼图需要通过测量大量的数据,然后再从其中恢复得到。示波器测量眼图中,经过前期的数据采集,其内存中可以获得完整的数据记录。然后,利用硬件或者软件对时钟进行恢复或提取得到同步时钟信号,用此时钟信号与数据记录中的数据同步到每个比特,通过触发恢复的时钟,把数据流中捕获的多个1 UI(单位间隔,相当于一个时钟周期)的信号重叠起来,也即将每个比特的数据波形重叠,得到眼图。

从上面的形成原理图中可以看出,通过用恢复的时钟信号等间隔的触发数据记录中的信号,将这些截取到的单位UI波形叠加在一起,就形成了眼图 矢量网络分析仪的眼图测量及参数提取方法;

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对于通用的串行信号,时钟是内嵌的,这时需要仪器从串行信号中恢复时钟,以恢复的 时钟为基准来形成眼图,

眼图分析与误码率分析有什么不同?

1、相对于误码率的测量,眼图测量既迅速又容易。

2、眼图能够提供更深层次的诊断信息。

3、眼图可以显示数字信号的整体品质。

4、能够进行子系统和组件的眼图分析(BER测试是一个系统级的测试)。

眼图如何反映信号的品质或质量呢?

(1)眼图显示被测信号的综合特征:上升时间和下降时间;过冲;下冲和振铃;占空比;抖动和噪声。

(2)眼图张开越大,表明对噪声和抖动的容许误差越大:

(3)眼图张开越大,表明接收器判断信号的准确度越好;

(4)眼顶、眼底和转换区域宽表明接收器判断信号的准确度变差; 示波器眼图的概念和具体测试方法;电气性能测试眼图测量推荐货源

高速信号眼图测试中夹具影响的校准;电气性能测试眼图测量推荐货源

低速信号的眼图:很多速率不太高的总线也可以做眼图测量,但由于数据比特较宽,上升时间相对于数据比特宽度占的比例很小,所以一些低速数字信号的眼图可能比较方正或者比较规整,看起来不太象眼睛,但从物理含义上说这仍然是一种眼图。

眼图测量中需要叠加的波形或比特的数量:在眼图测量中,叠加的波形或比特的数量不一样,可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在,叠加的波形或比特数量越多,则眼的张开程度会越小,就越能测到恶劣的情况,但相应的测试时间也会变长。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折衷,有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量,比如需要叠加1000个波形或者叠加1M个比特等。 电气性能测试眼图测量推荐货源

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