光谱共焦位移传感器基本参数
  • 品牌
  • 创视智能,tronsight
  • 型号
  • C系列
  • 用途类型
  • 光谱共焦位移传感器
  • 工作原理
  • 光谱式
  • 输出信号
  • 模拟型
  • 材质
  • 金属膜
  • 位移特征
  • 角位移
  • 测量范围
  • 小位移,中位移
  • 加工定制
  • 重复精度
  • 0.012
  • 允许误差
  • ±0.02% of F.S.
  • 线性精度
  • 0.5~50
  • 产地
  • 苏州
  • 数量
  • 99
  • 厂家
  • 创视智能
光谱共焦位移传感器企业商机

本实用新型涉及光电精密测量领域,尤其涉及的是一种光谱共焦位移传感器。随着我国的航空航天、汽车、造船等高技术产业飞速发展,对产品和零部件外形尺寸的工艺水平及精度要求越来越高,所以,能否进行高效率、高精度的检测,将直接关系到产品的质量和使用寿命。能进行高效率、高精度测量的技术手段通常分为接触式测量(以机械式和压电式为主)与非接触式测量(光学式为主)两类。非接触式光学测量具有如下优点:无损检测:可测量柔软和易变形件、脆性和易损件,特别适合不允许接触的场景。该传感器可用于微纳制造、生物医学、半导体制造等领域中的精密测量。武汉光谱共焦位移传感器厂家现货

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本实用新型由于采用了上述技术方案,具有以下有益效果:1、该系统采用价格便宜的Y型光纤和光谱共焦透镜组,结构简单,使用方便,具有较强的实用性,实现了传感器探头的小型化,光源发射和接收同光路,利用光谱仪来对采集的光波进行采集分析2、该系统结构简单,易于产业化,测量精度高,能对有凹坑的材料及具有高反射特性的玻璃进行测量3、光谱共焦具有更高的分辨率,并且由于光发射和接收同光路,不会出现激光三角法光路容易被遮挡或被测目标表面过于光滑而接收不到目标反射光的情况,对被测物适应性强,适用于凹坑、小孔的测量以及表面形貌的扫描恢复:4、可以解决传统的激光三角法测量不了的领域,对一些高反射、高深宽比、陡峭内壁表面有缺陷的玻璃间隙进行测量,且测量精度能够达到亚微米级别。本实用新型结构简单,实用性强,不仅实现了传感器探头的小型化,有利于提高测量精度,而且适用于具有高深宽比、陡峭内壁表面有缺陷的玻璃间隙进行测量。青浦区光谱共焦位移传感器信赖推荐该传感器可以用于微纳加工、生物医学、半导体制造等领域的精密测量。

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在光源耦合器上可装配连接有入射光纤,入射光纤固定连接在光源耦合器上后,入射光纤的入光端固定连接在光源耦合器中,入射光纤用于接收并传导所述多色光光源所发出的多色光;,在入射光纤的出光端固定连接有光谱共焦位移传感探头,光谱共焦位移传感探头用于对入射光传导的多色光进行轴向色散后将不同波长的光分别在聚焦于轴向不同高度,并对被测物体的反射光进行接收和传导;在光谱共焦位移传感探头上固定连接有接收光纤,接收光纤的入光端固定设置在光谱共焦位移传感探头内,接收光纤的入光端用于选择性的接收光谱共焦位移传感探头传导的被测物体的反射光,接收到的反射光在接收光纤内进行传导;

光学头内部的结构不受限制,并且可以适当地设计。例如,可以使用诸如和准直透镜等的其它透镜。在本实施例中,可以通过No.1光学头和第二光学头来测量待测物体上的两个测量点的位置。换句话说,可以同时对作为No.1 光学头和第二光学头的测量对象的两个测量点和进行多点测量。当然,本发明不限于在同一待测物体0上进行多点测量的情况,并且可以同时测量两个不同的待测物体。将从No.1光学头和第二光学头射出的测量光和经由光纤和引导至控制器。射出绿色光作为测量光和。当然,本发明不限于射出同一波长光的情况,并且可以射出分别与测量点和的位置相对应的波长光。该传感器适用于高分辨率成像系统,例如光学显微镜和扫描电子显微镜中的位移测量。

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通过配置线传感器和光学系统等以使得测量对象区域变成彼此不同的区域,可以高精度地执行多点测量。多个光学头可以是2个光学头或者3个光学头。利用本技术,可以使用少量的组件来执行2个或3个点的同时测量。根据本发明的实施例的测量方法包括射出具有不同波长的多个光束。通过多个光学头中的各光学头,将所射出的多个光束会聚于不同的聚焦位置处,并且射出在聚焦位置处被测量点反射的测量光。使从多个光学头射出的多个测量光束发生衍射,并且向线传感器的不同的多个受光区域射出衍射光束。基于线传感器的多个受光区域各自的受光位置来计算作为多个光学头的测量对象的多个测量点各自的位置。根据本发明,可以利用少量的组件来执行多点测量。应当注意,不必局限于这里的效果,并且可以获得说明书中的任何效果。该传感器的应用将有助于提高微纳制造、半导体制造和生物医学等领域中的精密测量的准确性。标准光谱共焦位移传感器产品使用误区

光谱共焦位移传感器可以实现对材料的变形过程进行实时监测,对于研究材料的力学行为具有重要意义。武汉光谱共焦位移传感器厂家现货

过去,针对测量待测物体的高度等,已经使用了光谱共焦传感器的技术。例如,日本的intenational公开2014/141535(以下称为专利文献1)公开了使用多个头部的共焦光学系统来进行对测量对象的位移的多点测量的共焦测量设备。在该共焦测量设备中,在各头部中设置有光学滤波器,并且设置要用于测量的波长带,以使得这些头部彼此不同。例如,在No.1头部中使用具有约400nm~600nm的波长的光,并且在第二头部中使用具有约600nm~800nm的波长的光(专利文献1的说明书中的段落、通过以这种方式使要在这些头部中使用的光的波长带彼此不同,可以将分光器内部所布置的摄像装置分割成要由各头部使用的多个区域(通道)。结果,可以针对多个光学头only使用一个分光器(摄像装置)来进行测量对象的多点测量.武汉光谱共焦位移传感器厂家现货

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