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USB物理层测试基本参数
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USB物理层测试企业商机

从2015年到现在,是德科技基于磷化铟(InP)工艺的Infiniium系列高带宽示波器,凭借其优异的低噪声、低抖动底噪等硬件性能和的尾部拟合”Tail-fit”抖动分离算法等软件,一直是被Intel和Thunderbolt认证实验室认可和批准使用的高带宽示波器。进入到USB4.0时代,大家如果仔细通读每一个版本的测试规范,都可以发现,所以的仪表截屏、设定和算法,采用的都是德科技高带宽示波器。2019年,是德科技基于第二代磷化铟(InP工艺,推出了110GHz带宽,256GSa/s采样率,硬件10bitADC,25fs抖动底噪的UXR系列示波器,将高速信号量测精度推到了另外一个高度。如下所示,是是德科技UXR示波器和已是业内的是德科技V系列示波器,测试同一个USB4.0信号的测试结果比较,UXR示波器提供了更优的信号测试余量。usb物理层测试,信号一致性测试?数字信号USB物理层测试方案

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对于捕获到的数据波形的分析,可以使用USB协会提供的Sigtest软件或者示波器厂商的自动测试软件。Sigtest是USB协会提供的进行USB3.0等总线分析的官方分析软件,但是需要用户手动捕获码型、切换码型、进行示波器触发设置等,操作比较烦琐,且设置不对可能影响捕获的波形或分析的结果。由于USB3.x的测试涉及被测件类型、速率、均衡器、测试脚本调用、传输通道设置等非常多的因素,而且不同的测试项目需要在不同的测试码型下进行,设置不当可能测试结果完全不对,所以一般建议使用用的自动测试软件配合示波器进行测试。图3.7是在示波器中安装的USB3.x自动测试软件的设置界面。通常用户只需根据设置向导选择相应的测试项目,然后按照向导连接DUT并把DUT设置成正确的模式即可自动运行测试,软件会自动捕获波形并测试生成html格式的测试报告。测试软件中还会自动调用设置好的通道模型和均衡器,以及内置的USB协会发布的SigTest脚本,从而简化了手动操作,并可以保证测试算法完全符合USB协会对信号分析的要求。数字信号USB物理层测试方案进行USB 2.0 物理层测试?

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简便性:USB2.0接口采用热插拔技术,使得用户能够在计算机运行时插入或拔出USB设备,无需重启计算机。这极大地简化了使用USB2.0设备的流程,提供了方便快捷的连接方式。USB2.0作为通用串行总线接口标准具有高速数据传输、电源供应能力和兼容性等优势。它能够满足大容量数据传输的需求,为用户提供快速的连接和稳定的数据传输。无论是移动设备还是桌面设备,USB2.0都是一种可靠且广泛应用的接口选择。USB2.0接口采用了热插拔技术,这意味着您可以在计算机运行时随时插入或拔出USB设备,而无需重启计算机。这一特性极大地简化了使用USB设备的过程,使连接更加方便和快捷。这也是为什么USB接口在现代计算机和其他电子设备中如此常见和受欢迎的原因之一。

测试系统搭建和介绍任何测试系统的搭建都是以测试目的为导向的,在测试之前一定要明确测试目的。对于完整的USB2.0信号完整性测试,需要对TX端和RX端都进行完整的测试,但是对于大多数厂商来讲,可能只能完成基本的TX端测试。我们这个测试也只对TX端进行测试,所以测试的系统就是一台示波器、DUT、测试夹具和测试线缆。示波器:TektronixTDS7704B,带宽为7GHz,采样率为20GS/s;测试探针:TektronixP7330/P7240USB2.0testfixture;测试夹具:TDSUSBFUSB2.0ComplianceTestFixtureWithPowerAdapter;测试软件:•USBHighSpeedElectricalTestToolRev:1.10;•TDSUSB2TestPackageApplicationV3.0.2;Tektronix的USB2.0发送端一致性测试软件TDSUSB2可以支持嵌入(Embed)、去嵌入(De-embed)的功能,这对研发工程师的作用非常大。在软件中还直接内置提供Host和Device的一致性通道传递函数,可以嵌入一致性通道模型,完成对一致性测试的要求,这主要体现在包含了测试过程中加入了长通道和短通道的S参数在其中,这时不管你是做的Host端的产品还是Device端的产品,只要在测试时选择对应参数即可真实的使用情况。这样也符合一致性测试规范。USB电缆的长度对物理层性能有影响吗?

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每一代USB新的标准推出,都考虑到了对前一代的兼容能力,但是一些新的特性可能只能在新的技术下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更强的供电能力及对多协议的支持等,都只能在新型的Type-C连接器上实现。由于USB总线的信号速率已经很高,且链路损耗和链路组合的情况非常复杂,所以给设计和测试验证工作带来了挑战,对于测试仪器的功能和性能要求也与传统的USB2.0差别很大。下面将详细介绍其相关的电气性能测试方法。由于涉及的标准众多,为了避免混淆,我们将把USB3.0、USB3.1、USB3.2标准统称为USB3.x,并与USB4.0标准分开介绍。USB 3.0一致性测试方法?黑龙江USB物理层测试产品介绍

USB4.0 电气测试方案,包括发送端测试、接收端测试、回波损耗测试Sideband信号测试。数字信号USB物理层测试方案

测试过程Tektronix示波器对于USB2.0这类接口的测试都有非常完善的测试解决方案,这些方案都是标准流程化的,只要进入到软件测试界面即可按照流程图一步一步的往下进行测试。下面是测试时的相关设置和注意事项:在测试前,首先要预热、校准示波器(大约20分钟)、线缆需要做de-skew。这一步非常的关键,特别是线缆做de-skew,因为很多时候线缆与线缆之间有一些偏差,如果不做de-skew就会导致在差分信号的正端和负端引入系统误差。然后就开启测试USB2.0软件TDSUSB2TestApp,数字信号USB物理层测试方案

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Type-C的接口是双面的,也就是同一时刻只有TX1+/TX1一或者TX2+/TX2-引脚上会有USB3.1信号输出,至于哪一面有信号输出,取决于插入的方向。如图3.18所示,默认情况下DFP设备在CC引脚上有上拉电阻Rp,UFP设备在CC引脚上有下拉电阻Ra,根据插入的电缆方向不同,只有CCl或者CC2会有连接,通过检测CCl或者CC2上的电压变化,DFP和UFP设备就能感知到对端的插入从而启动协商过程。信号质量的测试过程中,由于被测件连接的是测试夹具,并没有真实地对端设备插入,这就需要人为在测试夹具上模拟电阻的上下拉来欺骗被测件输出信号USB4.0回波损耗测试定义?DDR测试USB物理层测...

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