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光电测试系统基本参数
  • 品牌
  • MIKORN,IMPAC,INFRAMET
  • 型号
  • LAFT;DT;SIM,热成像光电测试系统
  • 产地
  • 上海
光电测试系统企业商机

JT400轴对准测试系统外观图Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试,也支持轴对准测试。然而,MS系列测试系统是相对昂贵的测试系统。JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统,用于**的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。

测试功能:1.不同视场的热像仪的轴对准;2.不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准;3.可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准;4.激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准;5.激光测距机与热像仪之间的轴对准;6.激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准;7.可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度;8.热像仪的分辨率;9.激光测距机的发散角;10.参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。 光电测试,助力影视制作,精确控制灯光效果。重庆光电测试系统安装

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SIMAT模拟器是一个模块化的图像投影系统用于模拟在光视距范围内两个或者多个可变强度,可变角尺寸,可变光谱,在均匀背景下的的动态目标。其可用于模拟动态空间或者空中目标(天体,飞机,直升飞机等)作为成像探测器对这些目标的监视。SIMAT模拟器的基本配置用于模拟红外波段的范围但是可以升级为模拟红外波段加紫外及可见光波段。宽视场到120o 可以被达到基于精致细密运动平台用于测试过程中的单元旋转。可选的SIMAT模拟器用于模拟红外以及UV/可见光波段基于采用带宽反射光学原件的图像投影系统。SIMAT是完全计算机化控制的用于模拟复杂情况(目标轨迹,角尺寸,速度,辐射强度等)的目标模拟器。德国进口光电测试系统性能特点Inframet DT 热成像光电测试系统,精细分析,助力医疗行业技术革新。

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Ls-dAL光源是多通道标准光源,有四种工作模式,具有的动态范围、可连续调节光强度(能够模拟超亮的白天和黑夜)、计算机化设计,可用于测试可见光-短波红外相机(彩色/单色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相机、短波红外相机),用于中/远程监测应用。

工作模式①卤素灯,色温2856K,模拟夜晚和典型的白天②白光LED,色温超过5000K,模拟极亮的白天③镐强度紫外LED,检测抗紫外线的能力

总量度范围10mcd/m2-10kcd/m2–D(白天版本)10μcd/m2-10kcd/m2–DN(白天/夜晚版本)(注:亮度范围可以扩展)

LAFT移动式热像仪测试系统,可以将目标图像直接投射到被测热像仪。热像仪输出对应图像,根据图像即可评价热像仪的性能。推荐在外场条件下使用LAFT,如果在实验室/仓库条件下,此时可以使用长走廊作为测试场所。在适当的测量条件下,LAFT测试系统的测量精度与实验室级DT系列测试系统的测量精度相同。野外和实验室内应用的多功能测量工具可以装在箱子里运输到任何地方可以同时测量几个热像仪(同时投影到几个热像仪上成像)

产品参数

LAFT-A:MRTD,MDTDLAFT-B:MRTD,MDTD,MTF,NETD,FPN,非均匀性,SiTF,畸变,FOV,部分轮廓靶的探测、识别和辨别 INFRAMET SAFT 热成像光电测试系统,精确赋能制造业,提升质量检测效率。

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TCB系列黑体是差分面源黑体,旨在模拟低温和适宜的常温目标。使用热电元件控制散热器温度。黑体散热器的温度通常从0℃至100℃可调节,但范围可扩展到-40℃至180℃。黑体发射面(从50x50mm到500x500mm),也可以拓展到更大的发射器,高达1000x1000mm的尺寸。

用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的单独模块提供。

Inframet可以提供高达500x500mm的发射面的TCB黑体(型号TCB-2oD)。但是,应该注意的是,典型的小黑体TCB-2D/TCB-4D黑体与TCB-12D/TCB-2OD之间存在很大差异。后者的黑体要大得多,需要更大的功率,升温更慢,更昂贵。因此建议您选择自己合适的发射面尺寸即可。 光电测量,保障乐器制造音准与品质。青海光电测试系统性能特点

光电系统,应用于电梯维护,确保运行安全。重庆光电测试系统安装

一系列不同的辐射源可以用在投影系统中(光谱范围扩展到SWIR的光源或者MTB黑体)以及一系列SWIR用于投影系统中的靶标也可用于测量。测量成像整机系统轴校准:电控的测试系统生成由被测试热像仪及相机生成的图像并计算两者之间的角度:a)热像仪在不同视场下的光轴;b)相机在不同镜头放大率下的光轴;c)热像仪与相机之间的光轴。激光系统轴对准:计算机控制的测量系统分析激光系统在激光敏感卡上生成的图像并计算光轴间的夹角:激光光轴(激光测距仪,激光指示器,激光照射器等)相对于成像系统光轴。注意:MS系统可以进行激光测距仪发射光轴的校准。这里假定激光测距仪发射光轴与接收已经调整好。这里可选测量激光测距仪的光轴对MS系统轴的能力。测量SWIR相机:SIWR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量SIWR相机。它包括CDT反射式平行光管,SWIR光源,和一组SWIR靶标;测量不同图像格式的热像仪:当采用模拟视频采集卡并且测量分辨率小于等于756×576的25Hz的视频图像时;也可以选择数字图像采集卡(CameraLink,或GigE,或LVDS,USB2.0)作为测量高分辨率高帧频的数字输出传感器。重庆光电测试系统安装

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