研究发现，发射率越高，黑体辐射对环境的敏感度越低，受环境温度影响越小。黑体炉的优势之一就是其高发射率，所有的扩展面源黑体的发射率都是，腔式黑体的发射率＞。扩展面源黑体的通过其符合LNE（与NIST同等的法国标准）特定的一种特定涂料来实现高发射率。HGH通过对黑体进行辐射校准来实现黑体在1到14um的整个波长范围内其等效发射率达到1。通过一个简单的测试来了解辐射校准的重要性：100℃的条件下，分别在不做辐射校准和做辐射校准的情况下测量黑体（发射率）的温度（通过红外温度计）。不做辐射校准的情况下其表面温度为98℃，而做过辐射校准后其表面温度为100℃。考虑到这种情况，有些人可能认为反射率不如等效反射率那么重要。然而，辐射校准是在实验环境中计算得出的，实验环境温度大概在22-23℃左右，并且是在光谱中的特定波段，其校正结果只在该实验温度和波段下有效。因此这种情况下需要严格控制工作环境的温度。 用高、低温黑体炉作校正测量，但在应用中却是用的档片机构。上海黑体炉反射率指标
黑体炉的校准具有比较好的持久性。校准的持久性是指黑体经过校准后的持续时间。大部分的黑体都需要每年进行校正。欧普士BR系列校正的有效期是两年。温度传感器，电子器件，发射面和发射涂层这些模块的精细选择，是能够保证辐射校准的持久性。04升降温时间升温和降温时间也是黑体的重要特性，这一点虽然不能改变其测试性能，但能够极大地影响实验或生产效率。1℃的变化如果需要等待5分钟，这个时长会造成实验的拖延或不及时，或生产效率的降低，尤其是在需要不断改变黑体温度的情况下。中低温黑体炉检修标准黑体作为标准辐射源，主要用于校准辐射温度计、红外温度计和辐射温度传感探测器。
黑体炉的另一个品牌INFRAMET位于波兰，成立于2002年，一家高科技设备制造商，用于测试电光监视系统（热成像仪、夜视设备、可见光近红外摄像机、SWIR成像仪、激光测距仪、激光指示器、多传感器系统、融合系统、紫外摄像机、光学瞄准器）和此类系统的主要模块（图像增强器管、红外焦平面阵列/CCD/CMOS成像传感器、光学物镜）。EO监测系统的质量控制、设计优化、制造和维护需要测试设备。这里就简单介绍一下INFRAMET黑体源，分为腔体和面源
当谈及黑体炉的温度精度时，必须考虑以下四个因素：•温度传感器（通常是Pt传感器）•电子测试单元•温度传感器和发射面之间的导热材料•反射率只要以上因素中有一个没能控制好，就不能保证温度精度。问题是温度芯片和发射表面之间的热接触无法测量。这也就是为什么在说明温度精度时，厂家只能说明其温度传感器结合他们测试卡的精度，而不是黑体温度的实际精度。总之，厂家给出的精度也许是一个不错的指导。作为需要慎重考虑的参数，DIAS投入了很大的精力在黑体的反射率以及温度传感器和发射面之间的导热材料上，从而保证黑体的温度精度尽可能的接近温度传感器的精度。黑体炉比较大的作用就是作为温度源，用于红外测量设备，包括红外温度计和红外摄像仪的校准和测量（检验）。
**组听取汇报并逐章逐条审查标准及编制说明的全部内容，从先进性、科学性和可操作性等方面给予指导性意见，对送审稿中存在的问题进行讨论，并提出修改意见。经质询和讨论后，**组一致认为《清洗消毒器温度、时间参数校准方法》、《表面温度源性能测评方法》2项团体标准起草过程符合团体标准管理规定，内容和格式符合现行相关法律法规、国家标准及GB/T1.1—2020要求。充分体现了该团体标准制定的先进性、科学性和可操作性。黑体炉**组一致同意上述2项团体标准通过审定，接下来，标准编制组将根据本次审定会提出的修改意见形成报批稿。一般黑体炉是和标准温度计是一体检定的，参照标准温度计检定周期检定即可 。上海红外线标准黑体炉
标准设施中的黑体炉为北京计量院校准的，那我们在企业内部出具检测报告时，是出具检定报告的。上海黑体炉反射率指标
黑体作为标准红外辐射源，它的光谱能量是可以通过计算而获得。红外系统校准、各种材料发射率的测定、红外探测器响应率的测定、红外测温仪、红外热像仪、红外遥感机载星辐射计等仪器的标定，都要使用黑体。BR系列黑体辐射源，温度控制采用PID控制技术，具有精度高、稳定性好的特点。温度校准和修正方便。BR400 中温黑体辐射源/黑体炉温度范围宽广，由环温+10℃～400℃内任意一温度点皆可随需要调整。稳定、重复的校正面板让使用者能快速而准确地校正及测试红外线高温计(红外测温仪)。黑体开孔直径Φ125mm的面积，适用大部份的红外线高温计(红外测温仪)。系统另有RS-232或485的计算机通讯接口方便计算机控制设定温度及自动测试上海黑体炉反射率指标
