TFEV测温仪测试系统用于检测发热筛查用测温仪。TFEV测试的概念是基于IEC80601-2-59标准中规定的“人体发热筛检测温仪的基本安全性和基本性能的特殊要求”。TFEV是一个模块化系统，可以工作在两种模式：A)手动可调节尺寸的高精度黑体B)电动图像投影系统，能够投射一些参考目标的图像，其温度和大小可变。黑体是模拟人体的不同部位(通常是眼内角或前额)，用于测试热敏相机。黑体通常置于被测人体所在平面位置，和测温仪的外部黑体(被测系统的一部分)在实际工作中应该也在该平面上。TFEV是由一系列模块组成的模块化系统:2.黑体适配装置4.MRW-8电动靶轮6.靶轮用一组6个四杆靶标(MRTD测量)8.笔记本电脑10.MB1机械件12.TCB控制程序TYFEV的重点是TCB-4D黑体。它是超高精度面源黑体，可以非常准确地模拟人体的相同发射率。精确测量，光电技术领航纺织行业自动化。黑体光电测试系统原理
SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置，所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。
主要特性
通用的设备，可在实验室或者一般的现场使用。对被测热像仪的光学口径没有限制。SAFT设备和被测热像仪的距离须大于所测热像仪的极小聚焦距离。
SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置，所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距，小口径，宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时，我们也提供额外的折射光管供客户选择。 海南光电测试系统电话光电测试系统，助力LED照明品质提升。
Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构，平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计（只需较小、较窄的光学平台）。而且，垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时，垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。
Inframet采用典型的保护铝镀膜作为反射镜的镀膜材料，如果在可见光-近红外波段达到均匀的反射率，则保护铝镀膜可以作为次反射平面镜或者两面反射镜的镀膜材料。如果在远红外波段需要达到非常高的反射率则需要使用保护金作为辅助镜（或者两个反射镜）的材料。我们可以根据您所需口径和焦距精度等提供定制化平行光管，满足您的需求。
HTB系列黑体是高温腔式黑体炉，温度范围高达1200°C。该系列黑体的优势在于发射腔直径较大，为25mm。黑体腔体是使用底端封闭圆筒的腔体的概念设计的。黑体提供高发射率，超宽光谱带：从0.4μm到超过30μm。 这种宽光谱带使得可以使用HTB黑体作为标准辐射源，其范围从可见光波段到LWIR波段。 HTB黑体可以直接从内部键盘控制，也可以使用标准USB端口从PC远程控制。
主要特性
25mm的较大孔径；
提供从0.4到超过30的高发射率；
可以内部键盘控制，也可以使用USB端口从PC远程控制。 高效测试，光电技术为农业智能化护航。
DT系列检测设备是用千实验室条件下对热像仪各项性能检测的设备。如果需要的话DT设备还可以检测TV/LLLTV成像，或者热像仪和TV/LLLTV成像之间的光轴校正。注：推荐用MS设备来检测和校准感应器比较多的系统。DT系列设备采用了一个可调的投射源，所以可以用不同的投射源去投射被测的热像仪（或者TV/LLLTV成像）。被测的成像仪会产生基千这个投射源的一个扭曲的图像。一般由人或者软件通过该图像去判断被测成像仪的性能，被测成像仪的所有重要特征检测项都包含在内。DT系列设备可以检测热像仪、TV/LLLTV成像仪、超长距离设备、乃至航天领域设备。DT系列设备是模块化的检测设备，可以根据不同的待测物轻松的做出优化。从基本的短程热像仪到大型的机载监视系统等所有宽泛的监测设备都可以轻松应对。DT系列设备可以说是目前市场上高性价比的产品。光电精确测试，提升造纸行业纸品质量。青海模拟器光电测试系统
JT400多传感器轴对准测试系统，保障电子元件性能稳定。黑体光电测试系统原理
Ls-dAL光源是多通道标准光源，有四种工作模式，具有的动态范围、可连续调节光强度（能够模拟超亮的白天和黑夜）、计算机化设计，可用于测试可见光-短波红外相机（彩色/单色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相机、短波红外相机），用于中/远程监测应用。
工作模式①卤素灯，色温2856K，模拟夜晚和典型的白天②白光LED，色温超过5000K，模拟极亮的白天③镐强度紫外LED，检测抗紫外线的能力
总量度范围10mcd/m2-10kcd/m2–D（白天版本）10μcd/m2-10kcd/m2–DN（白天/夜晚版本）（注：亮度范围可以扩展） 黑体光电测试系统原理
