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热成像校准系统基本参数
  • 品牌
  • MIKORN,IMPAC,INFRAMET
  • 型号
  • SAFT、DT、LAFT、JT400,TAIM
  • 测量对象
  • 激光辐射度,辐射度,光度
热成像校准系统企业商机

HTB系列黑体是高温腔式黑体炉,温度范围高达1200°C。该系列黑体的优势在于发射腔直径较大,为25mm。黑体腔体是使用底端封闭圆筒的腔体的概念设计的。黑体提供高发射率,超宽光谱带:从0.4μm到超过30μm。这种宽光谱带使得可以使用HTB黑体作为标准辐射源,其范围从可见光波段到LWIR波段。HTB黑体可以直接从内部键盘控制,也可以使用标准USB端口从PC远程控制。

25mm的较大孔径;提供从0.4到超过30的高发射率;可以内部键盘控制,也可以使用USB端口从PC远程控制。 Inframet DT 热成像光电测试系统智能校准,热成像更精确,基数参数调整,让细节无所遁形!黑体热成像校准系统案例

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NVS夜视设备多功能测试系统是一个模块化的测试系统,可测试长程夜视瞄准设备,同时支持测试短程夜视镜及双目夜视镜。因此NVS测试系统是一个多功能测试系统。NVS测试系统采用模块化设计,包括一组可切换的透射式光管、可移动的光源和一组靶标等模块。NVS测试系统的测试过程是基于MIL系列标准的建议。NVS测量系统投影一个标准靶标的图像到水平固定的被测夜视仪。通过调节两个旋钮,操作者可以控制透射到被测量夜视仪光的强度和靶标的类型。被测量器件生成一个畸变的标准靶标的图像。通过人眼观察或者借助测量工具如亮度计来评估这个畸变的图像,得到被测量器件的重要参数。湖南热成像校准系统故障热成像新视界,基数参数智能校准,细节呈现更完美!

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由于以下几个原因,太赫兹区域黑体的设计是一个技术挑战:a)需要THz/短波频谱带中高吸收率涂层的发射体以确保高发射率;b)由于THz/微波成像仪的低分辨率,所以需要大面积的黑体;c)需要很高的温度均匀性、温度稳定性和准确度,以便能够对THz/微波传感器进行准确校准。这些黑体的设计基于针对THz范围优化的特殊浇注材料吸收体涂层,大面积均匀发射面板和控制电子元件。MAB黑体具有不同发射器面积,不同温度范围的一系列版本,并针对不同的光谱带进行了优化。MAB黑体的特征在于具有良好的温度分辨率、温度稳定性、温度均匀性、温度不确定性和高发射率。所有这些功能使得MAB黑体被用作测试/校准太赫兹/亚太赫兹成像仪或其他这种辐射仪系统中的参考源的理想选择。

DT系列设备是模块化的检测设备,可以根据不同的待测物轻松的做出优化。从基本的短程热像仪到大型的机载监视系统等所有宽泛的监测设备都可以轻松应对。DT系列设备可以说是目前市场上高性价比的产品。DT系列设备应该是INFRAMET成熟的设备,这个已经得到了来自全球各地客户的宽泛认可。中长红外光谱带的敏感热成像技术是项很重要的科研和安全技术,这些成像仪也取得了大规模的应用。所以检测这些热成像仪对生产、维护和使用都有着不同的重要的作用。因此高科技的校准和检测对这些昂贵的热像仪的生产、维护、培训、采购优化都有着重要的意义。智能校准,热成像基数参数准确无误,安全监控更放心!

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DT系列检测设备是用千实验室条件下对热像仪各项性能检测的设备。如果需要的话DT设备还可以检测TV/LLLTV成像,或者热像仪和TV/LLLTV成像之间的光轴校正。注:推荐用MS设备来检测和校准感应器比较多的系统。DT系列设备采用了一个可调的投射源,所以可以用不同的投射源去投射被测的热像仪(或者TV/LLLTV成像)。被测的成像仪会产生基千这个投射源的一个扭曲的图像。一般由人或者软件通过该图像去判断被测成像仪的性能,被测成像仪的所有重要特征检测项都包含在内。DT系列设备可以检测热像仪、TV/LLLTV成像仪、超长距离设备、乃至航天领域设备。科技引航, INFRAMET SIM 热成像光电测试系统,让监控更精确高效!湖南热成像校准系统故障

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TFEV测温仪测试系统用于检测发热筛查用测温仪。TFEV测试的概念是基于IEC80601-2-59标准中规定的“人体发热筛检测温仪的基本安全性和基本性能的特殊要求”。TFEV是一个模块化系统,可以工作在两种模式:A)手动可调节尺寸的高精度黑体B)电动图像投影系统,能够投射一些参考目标的图像,其温度和大小可变。黑体是模拟人体的不同部位(通常是眼内角或前额),用于测试热敏相机。黑体通常置于被测人体所在平面位置,和测温仪的外部黑体(被测系统的一部分)在实际工作中应该也在该平面上。TFEV是由一系列模块组成的模块化系统:2.黑体适配装置4.MRW-8电动靶轮6.靶轮用一组6个四杆靶标(MRTD测量)8.笔记本电脑10.MB1机械件12.TCB控制程序TYFEV的重点是TCB-4D黑体。它是超高精度面源黑体,可以非常准确地模拟人体的相同发射率。黑体热成像校准系统案例

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